嵌入式存储器的内建自测试和内建自修复 被引量：12

1

作者 江建慧 朱为国 《同济大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1050-1056,共7页

指出内建自测试是嵌入式存储器测试的一种有效方法 ,对该领域的研究情况进行了评述 .总结了存储器传统的故障模型 ,重点讨论了诱导故障分析方法以及读干扰故障、错误读等新的故障模型 .详细分析了嵌入式存储器的典型内建自测试方案 ,讨... 指出内建自测试是嵌入式存储器测试的一种有效方法 ,对该领域的研究情况进行了评述 .总结了存储器传统的故障模型 ,重点讨论了诱导故障分析方法以及读干扰故障、错误读等新的故障模型 .详细分析了嵌入式存储器的典型内建自测试方案 ,讨论了在内建自测试电路中增加内建冗余分析、内建故障诊断和内建自修复等功能的可行性 . 展开更多

关键词 嵌入式存储器 故障模型 内建自测试 内建自修复

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嵌入式存储器的内建自修复设计 被引量：6

2

作者 吴志伟 邹雪城 +1 位作者 雷鑑铭 刘勇 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第2期79-81,84,共4页

目前,关于嵌入式存储器的内建自测试(MBIST)技术已经日趋成熟。基于这种背景,研究了一种高效的内建自修复(MBISR)方法,试验表明它具有低面积开销和高修复率等优点,保证了嵌入式存储器不仅可测,而且可修复,极大地提高了芯片的成品率。

关键词 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复

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利用内容可寻址技术的存储器BISR方法 被引量：4

3

作者 谢远江 王达 +1 位作者 胡瑜 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第4期467-473,共7页

随着缺陷密度的增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元已成为提高存储器成品率的常用方法.然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低、冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资... 随着缺陷密度的增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元已成为提高存储器成品率的常用方法.然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低、冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结构.针对此,提出了利用内容可寻址技术结合冗余行和冗余列来修复存储器的方法.该方法中,内容可寻址存储器不仅用于存储修复信息,还被用于当作冗余字替换故障字实现字修复,而冗余行和冗余列则分别用于修复行或列地址译码故障;并在译码逻辑输出端设计控制电路,避免对已修复的故障字进行访问.文中方法简单易行、面积开销小、利于扩展且修复效果好.实验结果表明,该方法在获得同样修复效率的情况下,冗余资源和内容可寻址存储器面积开销最小约为已有二维冗余修复方法的20%. 展开更多

关键词 内建自测试 内建自诊断 内建冗余分析 内建自修复 内容可寻址存储器

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基于地址分割的嵌入式存储器内建自修复方法 被引量：3

4

作者 俞洋 李嘉铭 乔立岩 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第B02期169-173,共5页

内建自修复技术是一种有效修复嵌入式存储器中失效单元的方法.在传统的内建自修复过程中，需要对故障地址进行多次的读写操作，功耗比较大.本文提出了一种基于地址分割的嵌入式存储器内建自修复方法.该方法将故障地址分割成两部分，对B... 内建自修复技术是一种有效修复嵌入式存储器中失效单元的方法.在传统的内建自修复过程中，需要对故障地址进行多次的读写操作，功耗比较大.本文提出了一种基于地址分割的嵌入式存储器内建自修复方法.该方法将故障地址分割成两部分，对BIRA内部存储器的访问分两个步骤进行，有效简化了地址比较过程，降低了功耗.仿真试验表明，本文方法能够在实现存储器故障自修复同时显著降低修复与工作过程中产生的功耗. 展开更多

关键词 内建自修复 内建自测试 内建冗余分析

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一种3D IC TSV互连的内建自测试和自修复方法(英文) 被引量：2

5

作者 王秋实 谭晓慧 +1 位作者 龚浩然 冯建华 《北京大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第4期690-696,共7页

提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV,根据测试结构,采用BISR电路配置TSV映射逻辑,有故障的TSV可被BISR电路采用TSV冗余修复。所提出的设计可减小TSV测试价格,并减少TSV缺陷... 提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV,根据测试结构,采用BISR电路配置TSV映射逻辑,有故障的TSV可被BISR电路采用TSV冗余修复。所提出的设计可减小TSV测试价格,并减少TSV缺陷引起的成品率损失。电路模拟表明,面积代价和时间代价是可接受的。 展开更多

关键词 三维集成电路 硅通孔 内建自测试 内建自修复 冗余

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基于哈希表的高效存储器内建自修复方法 被引量：1

6

作者 郭旭峰 于芳 刘忠立 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第7期1371-1377,共7页

现有存储器内建自修复方法要么遍历式地址比较效率低,要么并行地址比较功耗高,都不适用于大故障数存储器.对此,本文提出一种高效的存储器内建自修复方法,该方法对占故障主体的单元故障地址以哈希表形式进行存储,以利用哈希表的快速搜索... 现有存储器内建自修复方法要么遍历式地址比较效率低,要么并行地址比较功耗高,都不适用于大故障数存储器.对此,本文提出一种高效的存储器内建自修复方法,该方法对占故障主体的单元故障地址以哈希表形式进行存储,以利用哈希表的快速搜索特性提升地址比较效率.本文方法修复后的存储器在1个时钟周期内即可完成地址比较,修复后存储器性能不受任何影响,与目前广泛采用的基于CAM的方法处于同一水平,但功耗方面却具有明显优势.计算机模拟实验表明,对于512×512×8bits的存储器在同等冗余开销的情况下本文方法修复率相对于ESP方法平均提高了32.25%. 展开更多

关键词 内建自修复 哈希表 内建冗余分析 内建自测试

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故障交叉聚类的三维存储器内建自修复策略 被引量：2

7

作者 吴静 《电子设计工程》 2018年第21期128-134,共7页

三维存储器成品率是评价冗余共享策略的一个重要指标。为了提高三维存储器的成品率和冗余资源利用率,提出了一种全新的故障交叉聚类技术,不仅能实现故障单元垂直方向上的跨层聚类,还可以跨层聚类到相同存储阵列索引的非垂直方向位置,更... 三维存储器成品率是评价冗余共享策略的一个重要指标。为了提高三维存储器的成品率和冗余资源利用率,提出了一种全新的故障交叉聚类技术,不仅能实现故障单元垂直方向上的跨层聚类,还可以跨层聚类到相同存储阵列索引的非垂直方向位置,更多的故障单元被聚类到其他层中,从而使用一个冗余行可以修复更多的故障。此外,根据故障交叉聚类策略重新设计了内建自修复结构和读写控制器,对数据重新组合来保证数据正确的输入或输出。实验结果表明,相比于现有的修复方案,该内建自修复方案仅增加了0.43%的面积开销就有效的提高了三维存储器的成品率。 展开更多

关键词 三维存储器 内建自修复 故障交叉聚类 成品率

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一种邻近层资源共享的三维堆叠存储器内建自修复策略 被引量：2

8

作者 崔小乐 张世界 +1 位作者 张强 金玉丰 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2017年第9期2030-2039,共10页

在摩尔定律面临终结的趋势下,三维集成电路技术被认为是继续提升集成电路性能和集成度的重要技术途径之一.由于采用堆叠的结构,三维集成电路适用于高密度以及异质集成应用领域.存储器是高密度集成电路的典型代表,是三维集成电路的重要... 在摩尔定律面临终结的趋势下,三维集成电路技术被认为是继续提升集成电路性能和集成度的重要技术途径之一.由于采用堆叠的结构,三维集成电路适用于高密度以及异质集成应用领域.存储器是高密度集成电路的典型代表,是三维集成电路的重要应用方向之一.三维存储器技术可同时提高存储密度与访存通路带宽,是解决"存储墙"问题的一种可行技术途径.然而,由于存储器件尺寸的微缩,存储阵列中的故障存储单元数量呈增加趋势.对存储器产品,基于冗余存储资源的内建自修复技术是提高其可靠性的重要方法.三维存储器的层与层之间可通过硅通孔等技术实现互连,使得垂直方向上的冗余资源共享成为可能,从而改善三维存储器的可靠性.该文提出一种邻近层共享冗余的三维存储器修复策略,用以提高现有三维存储器内建自修复技术的故障修复能力.该策略不会引发死锁现象,具有良好的冗余资源利用率和较小的硅通孔面积代价.仿真结果表明,与已有的结对冗余策略相比,该文所提出的冗余共享策略具有更高的故障修复率,且故障修复率不随存储器层数的增加而显著下降,更适用于大规模三维存储器. 展开更多

关键词 三维存储器 内建自修复 层间冗余共享 邻近层冗余共享

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SoC嵌入式存储器内建自修复方法 被引量：1

9

作者 秦盼 王健 +1 位作者 朱芳 焦贵忠 《计算机工程与科学》 CSCD 北大核心 2019年第10期1749-1754,共6页

嵌入式存储器的内建自测试及修复是提高SoC芯片成品率的有效办法。详细描述了存储器良率的评估方法,提出了一种基于Mentor公司Tessent工具的存储器修复结构。该结构采用了冗余修复及电可编程熔丝eFuse硬修复的方法,具有很好的通用性及... 嵌入式存储器的内建自测试及修复是提高SoC芯片成品率的有效办法。详细描述了存储器良率的评估方法,提出了一种基于Mentor公司Tessent工具的存储器修复结构。该结构采用了冗余修复及电可编程熔丝eFuse硬修复的方法,具有很好的通用性及可行性,已多次应用在实际项目中。 展开更多

关键词 SOC 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复

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一种嵌入式存储器的测试与修复方法 被引量：1

10

作者 秦盼 王健 吴慧 《集成电路通讯》 2015年第3期34-37,42,共5页

嵌入式存储器是SOC设计中最常用的核，其测试和修复功能可以大大提高芯片的良率。一种存储器行修复的内建自修复结构，包括BIST控制电路、BISA自分析电路和EFUSE可编程熔丝。通过项目实例证明了该结构的可行性。该结构减少了外部测试接... 嵌入式存储器是SOC设计中最常用的核，其测试和修复功能可以大大提高芯片的良率。一种存储器行修复的内建自修复结构，包括BIST控制电路、BISA自分析电路和EFUSE可编程熔丝。通过项目实例证明了该结构的可行性。该结构减少了外部测试接口及测试成本，适用于其它SOC芯片设计。 展开更多

关键词 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复

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基于DWL概念的嵌入式存储器内建自修复方法

11

作者 刘勇锋 姚竹亭 +2 位作者 顾秀江 王洁 秦新红 《电子测试》 2012年第1期13-18,89,共6页

嵌入式存储器在SoC技术中逐渐成为主体设计结构,由于存储器存在成品率的问题,所以在存储器中设计了内建自测试和内建自修复的策略来解决,其中主要是:基于冗余行的修复策略、基于冗余列的修复策略和基于冗余字的修复策略,然而,在存储器... 嵌入式存储器在SoC技术中逐渐成为主体设计结构,由于存储器存在成品率的问题,所以在存储器中设计了内建自测试和内建自修复的策略来解决,其中主要是:基于冗余行的修复策略、基于冗余列的修复策略和基于冗余字的修复策略,然而,在存储器中采用一维冗余块修复策略需要增加更多的冗余块,如果采用二维冗余块修复虽然提高了修复率,但是使得其稳定性和可靠性降低了,为此改进了一种基于DWL修复概念的策略,使其不仅保持了DWL结构的低功耗、提高了冗余资源的利用率,而且快速访问的特性,从而提高了存储器的故障修复率。 展开更多

关键词 嵌入式存储器 内建自修复 内建自测试

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嵌入式存储器的多故障自修复方法

12

作者 徐向峰 王友仁 +1 位作者 张砦 孔德明 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 2010年第1期179-182,共4页

使用冗余行覆盖占故障总数70%的单故障,导致冗余资源的浪费.为提高冗余资源的利用率,提出一种高效的修复方案,即冗余行覆盖多故障,纠错码修复单故障.当采用码率大于1/2的纠错码修复单故障时,校验位的长度小于冗余行的长度,节约了面积开... 使用冗余行覆盖占故障总数70%的单故障,导致冗余资源的浪费.为提高冗余资源的利用率,提出一种高效的修复方案,即冗余行覆盖多故障,纠错码修复单故障.当采用码率大于1/2的纠错码修复单故障时,校验位的长度小于冗余行的长度,节约了面积开销.通过24×8比特静态随机存取存储器(SRAM)的自修复实验,验证了新方案的可行性.实验结果表明,与冗余行结构相比,新的修复方案可以减小面积开销,提高芯片的最大工作频率. 展开更多

关键词 芯片系统 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复 冗余行 纠错码

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高效内建冗余分析技术的研究

13

作者 高秀才 戴紫彬 +1 位作者 张立朝 章轶 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2014年第7期2044-2047,共4页

传统BIRA结构存在多次地址比较的问题,严重影响了存储器的修复速度与读写性能。为了解决这一问题,提出了基于布鲁姆过滤器的BIRA技术。新型BIRA结构在传统结构的基础上增加了一个布鲁姆过滤器,通过减少地址比较次数来达到提高存储器修... 传统BIRA结构存在多次地址比较的问题,严重影响了存储器的修复速度与读写性能。为了解决这一问题,提出了基于布鲁姆过滤器的BIRA技术。新型BIRA结构在传统结构的基础上增加了一个布鲁姆过滤器,通过减少地址比较次数来达到提高存储器修复速度和访问速度的效果。实验结果表明,在相同故障地址数目的前提下,该方法比传统BIRA和地址分割BIRA的比较次数要低很多,验证了新型BIRA结构的高效性。 展开更多

关键词 内建冗余分析 内建自修复 布鲁诺过滤器 地址比较 哈希函数

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一种有效的3D存储器内建自修复方案

14

作者 姚瑶 梁华国 +3 位作者 应健锋 倪天明 易茂祥 黄正峰 《微电子学》 CAS 北大核心 2019年第5期690-696,共7页

与2D存储器相比,3D存储器能够提供更大的容量、更高的带宽、更低的延迟和功耗,但成品率低。为了解决这个问题,提出一种有效的3D存储器内建自修复方案。将存储阵列的每一行或每一列划分成几个行块或列块,在不同层的行块或列块之间进行故... 与2D存储器相比,3D存储器能够提供更大的容量、更高的带宽、更低的延迟和功耗,但成品率低。为了解决这个问题,提出一种有效的3D存储器内建自修复方案。将存储阵列的每一行或每一列划分成几个行块或列块,在不同层的行块或列块之间进行故障单元的映射,使不同层同一行或同一列的故障在逻辑上映射到同一层中,从而使一个冗余行或冗余列能够修复更多的故障,大大增加了冗余资源利用率和故障修复率。实验结果表明,与其他修复方案相比,该方案的修复率更高,实现相同修复率所需的冗余资源更少,增加的面积开销几乎可忽略不计。 展开更多

关键词 3D存储器 成品率 内建自修复 行块 列块 修复率

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基于SOC的嵌入式存储器故障修复策略 被引量：4

15

作者 陈国斌 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第4期260-263,共4页

随着SOC芯片故障概率的增加,嵌入式存储器的修复变得越来越重要。介绍了嵌入式存储器修复技术的基本原理,分析了现行各种修复策略,并指出了各自的优缺点,讨论了其发展方向。

关键词 内建存储器自修复 故障单元 内容寻址存储器

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