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光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究 被引量:27
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作者 薛利军 李自田 +3 位作者 李长乐 计忠瑛 崔艳 王忠厚 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第5期693-696,共4页
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量·在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有... 分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量·在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有运算量小、准确度高、实用性强的优点· 展开更多
关键词 光谱成像仪ccd平面 非均匀性 线性校正 两点多段校正法
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