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光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究
被引量:
27
1
作者
薛利军
李自田
+3 位作者
李长乐
计忠瑛
崔艳
王忠厚
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期693-696,共4页
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量·在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有...
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量·在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有运算量小、准确度高、实用性强的优点·
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关键词
光谱
成像仪
ccd
焦
平面
非均匀性
线性校正
两点多段校正法
下载PDF
职称材料
题名
光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究
被引量:
27
1
作者
薛利军
李自田
李长乐
计忠瑛
崔艳
王忠厚
机构
中国科学院西安光学精密机械研究所
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期693-696,共4页
文摘
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量·在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有运算量小、准确度高、实用性强的优点·
关键词
光谱
成像仪
ccd
焦
平面
非均匀性
线性校正
两点多段校正法
Keywords
Hyper-spectral imager
ccd
Non-uniformity
Liner correction
Two-point multi-section method
分类号
TP773 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究
薛利军
李自田
李长乐
计忠瑛
崔艳
王忠厚
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
27
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职称材料
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参考文献
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