期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
面向浸没式光刻机的超精密光学干涉式光栅编码器位移测量技术综述 被引量:11
1
作者 王磊杰 张鸣 +2 位作者 朱煜 叶伟楠 杨富中 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第9期1909-1918,共10页
超精密平面光栅编码器位移测量技术是32~7 nm节点浸没式光刻机的核心技术。通过分析浸没式光刻机平面光栅位置系统的需求和布局,提出了光刻机专用超精密平面光栅编码器的基本需求。针对现有的光栅编码器,开展了基本测量光路方案、相位... 超精密平面光栅编码器位移测量技术是32~7 nm节点浸没式光刻机的核心技术。通过分析浸没式光刻机平面光栅位置系统的需求和布局,提出了光刻机专用超精密平面光栅编码器的基本需求。针对现有的光栅编码器,开展了基本测量光路方案、相位探测方案、分辨率增强光路方案、离轴/转角允差光路方案、死程误差抑制光路方案的综述分析,提出了现有设计方案面向光刻机应用所需要解决的关键问题。面向亚纳米级测量精度的需求,针对光栅编码器的仪器误差,对周期非线性误差、死程误差、热漂移误差和波前畸变误差进行了综述分析,提出了平面光栅编码器实现亚纳米精度所需要解决的关键问题。本综述为光刻机专用超精密平面光栅编码器的研制提供了参考。 展开更多
关键词 浸没光刻机 光学干涉光栅编码器 位移测量
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部