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高阻紫外光阴极导电基底制备及性能 被引量:7
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作者 赵菲菲 赵宝升 +3 位作者 韦永林 张兴华 赛小锋 邹玮 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第4期1211-1216,共6页
在MgF2基片上,采用电子束蒸发镀膜法制备了掺锡氧化铟(ITO)导电基底,研究了充氧及退火对ITO薄膜电阻及紫外透射比的影响。并与传统的金属导电基底Au和Cr进行了性能比较。用光学显微镜、四探针测试仪、高阻计、X射线衍射仪(XRD)和分... 在MgF2基片上,采用电子束蒸发镀膜法制备了掺锡氧化铟(ITO)导电基底,研究了充氧及退火对ITO薄膜电阻及紫外透射比的影响。并与传统的金属导电基底Au和Cr进行了性能比较。用光学显微镜、四探针测试仪、高阻计、X射线衍射仪(XRD)和分光光度计分别测试了薄膜的表面形貌、方块电阻、形态结构和190~800 nm波段范围内薄膜的透射比曲线,得到方块电阻为10^7Ω左右时薄膜在200~400 nm波段内透射比的变化范围。实验结果表明,厚度相同时,充氧会增大ITO薄膜电阻;退火则会降低薄膜电阻并提高紫外透射比,薄膜结构由非晶态变为多晶态。方块电阻同为10^7Ω时,在200~400 nm波段充氧退火后ITO薄膜的平均透射比比Au,Cr的高10%。 展开更多
关键词 薄膜光学 导电基底 真空沉积 光学电学性能 像增强器
原文传递
锑掺杂纳米SnO_2透明导电薄膜的制备与性能研究 被引量:6
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作者 王银玲 徐雪青 +1 位作者 徐刚 何新华 《光学仪器》 2008年第3期68-72,共5页
采用溶胶-凝胶法在Si片、已镀SiO2的钠钙硅玻璃和普通钠钙硅玻璃上镀Sb掺杂摩尔分数为8%的SnO2薄膜(ATO),在450℃热处理温度下对薄膜结构,电学、光学性能进行表征。结果表明:薄膜以四方金红石结构存在,结晶完全;方阻值随镀膜层数的增加... 采用溶胶-凝胶法在Si片、已镀SiO2的钠钙硅玻璃和普通钠钙硅玻璃上镀Sb掺杂摩尔分数为8%的SnO2薄膜(ATO),在450℃热处理温度下对薄膜结构,电学、光学性能进行表征。结果表明:薄膜以四方金红石结构存在,结晶完全;方阻值随镀膜层数的增加而明显降低,12层时薄膜最低方阻值为129Ω/□,可见光平均透过率在75%以上。随着波长的增大,红外波段的反射率逐渐增大,从15%增加到55%左右。 展开更多
关键词 Sb掺杂的SnO2薄膜 溶胶-凝胶 光学电学性能
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