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题名光学元件表面疵病影响杜瓦光学特性的仿真分析
被引量：2
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作者
张璐
张磊
林国画
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机构
华北光电技术研究所
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出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2020年第S01期64-70,共7页
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文摘
红外探测器光学元件表面疵病、污染可能会降低系统的探测性能。杜瓦中窗片、滤光片表面存在不同程度的麻点、划痕,采用光学仿真软件LightTools计算分析光学元件表面不同疵病等级情况下的光学参数,引入杂散辐射系数和信杂比的概念对杜瓦光学特性进行评估,合理判断光学元件的表面疵病容限。同时仿真分析滤光片位置造成的表面疵病对杜瓦光学特性的影响。结果表明:随着窗片、滤光片表面疵病等级增加,接收像面非均匀性增加、信号强度减弱,且在相同疵病等级情况下,滤光片与芯片距离越近,疵病对杜瓦光学特性影响越大,因此在杜瓦设计时必须严格控制光学元件表面疵病容限,并合理设置滤光片封装位置。
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关键词
光学元件表面疵病
杜瓦光学特性
疵病容限
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Keywords
optical element surface defects
Dewar optical characteristics
defect tolerance
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分类号
TN215
[电子电信—物理电子学]
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