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纳米钨粉粒度分布的表征研究
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作者 朱丽慧 邵光杰 +1 位作者 刘一雄 Dave Siddle 《上海金属》 CAS 2007年第4期6-10,共5页
采用X射线小角散射法(SAXS)和光子相关谱法(PCS)测试了纳米钨(W)粉的粒度分布。结果表明,采用SAXS测试出的纳米W粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面积法测试结果十分接近,能较为准确地表征纳米W粉的一次颗粒的粒度分布;但为了得到可信... 采用X射线小角散射法(SAXS)和光子相关谱法(PCS)测试了纳米钨(W)粉的粒度分布。结果表明,采用SAXS测试出的纳米W粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面积法测试结果十分接近,能较为准确地表征纳米W粉的一次颗粒的粒度分布;但为了得到可信的结果,所选择的X射线衍射仪的最小可测试角必须足够小。PCS法测试的纳米W粉的粒度随分散条件的变化而变化,所提供的最佳分散条件可用于测定二次颗粒的粒度分布。 展开更多
关键词 纳米钨粉 粒度分布 X射线小角散射 光子相关谱法
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