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X-射线荧光光谱法测定生铁中硅和磷 被引量：12
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作者 甄洪香 徐增芹 葛镧 《冶金分析》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期41-42,共2页
探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法。该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min。
关键词 偏振式能量色散型x-射线荧光光谱仪 生铁 次级靶
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