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低角雷达多径误差抑制的盲分离方法
被引量：
8
1
作者
张瑜
房少娟
李雪萍
《电光与控制》
北大核心
2011年第10期32-34,41,共4页
由地面或海面对电波反射形成的多径效应会影响低角雷达的探测精度,严重时还会使雷达丢失跟踪目标。为了减小低角雷达在测量低空目标时的多径误差,根据工程实际需求,从雷达数据处理的角度提出了一种抑制低角雷达多径误差的盲分离方法。...
由地面或海面对电波反射形成的多径效应会影响低角雷达的探测精度,严重时还会使雷达丢失跟踪目标。为了减小低角雷达在测量低空目标时的多径误差,根据工程实际需求,从雷达数据处理的角度提出了一种抑制低角雷达多径误差的盲分离方法。首先建立雷达测量信号模型,再根据雷达信噪比越大盲源分离效果越好的特点,建立信噪比目标函数,最后通过求解特征向量得到盲信号分离矩阵,得到雷达经目标反射的直接波测量数据,从而达到抑制雷达多径误差的目的。实验结果表明,在无需任何先验知识的情况下,利用此方法可在一定程度上抑制雷达多径误差,进而提高雷达测量精度。
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关键词
雷达
多径效应
盲分离
信噪比
函数
抑制
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职称材料
基于广义回归神经网络的微电路工艺设备表征
2
作者
游海龙
贾新章
张春福
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期911-914,共4页
为了使用较少的工艺试验建立更高精度的模型描述微电路工艺的复杂性与非线性,将神经网络技术与统计试验设计相结合代替传统的统计方法应用于微电路热氧化工艺设备的表征.通过试验设计安排15轮试验,然后基于广义回归神经网络建立了以氧...
为了使用较少的工艺试验建立更高精度的模型描述微电路工艺的复杂性与非线性,将神经网络技术与统计试验设计相结合代替传统的统计方法应用于微电路热氧化工艺设备的表征.通过试验设计安排15轮试验,然后基于广义回归神经网络建立了以氧化膜厚以及均匀性为目标值的热氧化工艺模型,最后利用信噪比函数对模型的拟合以及预测能力进行了验证与比较分析.结果表明,该方法建立的模型可用于工艺表征与控制.所讨论的方法可用于其他微电路工艺设备的表征.
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关键词
微电路工艺设备
广义回归神经网络
信噪比
函数
试验设计
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职称材料
增强型CCD微光图象探测灵敏阈研究
3
作者
魏泽斌
邹异松
《北京理工大学学报》
EI
CAS
CSCD
1991年第4期51-56,共6页
讨论了电子轰击型CCD摄象过程的数学模型,在此基础上建立了其微光图象探测灵敏阈方程。理论计算与实验结果很好吻合.分析结果后,提出了提高电子轰击型CCD微光图象探测能力的主要技术途径。
关键词
光电器件
灵敏阈
CCD成象器件
EBS-CCD器件
微光图偈探测
信噪比
转移
函数
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职称材料
题名
低角雷达多径误差抑制的盲分离方法
被引量：
8
1
作者
张瑜
房少娟
李雪萍
机构
河南师范大学物理与信息工程学院
出处
《电光与控制》
北大核心
2011年第10期32-34,41,共4页
基金
国家自然科学基金(61077037)
文摘
由地面或海面对电波反射形成的多径效应会影响低角雷达的探测精度,严重时还会使雷达丢失跟踪目标。为了减小低角雷达在测量低空目标时的多径误差,根据工程实际需求,从雷达数据处理的角度提出了一种抑制低角雷达多径误差的盲分离方法。首先建立雷达测量信号模型,再根据雷达信噪比越大盲源分离效果越好的特点,建立信噪比目标函数,最后通过求解特征向量得到盲信号分离矩阵,得到雷达经目标反射的直接波测量数据,从而达到抑制雷达多径误差的目的。实验结果表明,在无需任何先验知识的情况下,利用此方法可在一定程度上抑制雷达多径误差,进而提高雷达测量精度。
关键词
雷达
多径效应
盲分离
信噪比
函数
抑制
Keywords
radar
multi-path effect
blind signal separation
signal-to-noise ratio function
suppression
分类号
V271.4 [航空宇航科学与技术—飞行器设计]
TN011 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
基于广义回归神经网络的微电路工艺设备表征
2
作者
游海龙
贾新章
张春福
机构
西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室
出处
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期911-914,共4页
基金
模拟集成电路国家重点实验室基金资助项目(51439040103DZ0102)
文摘
为了使用较少的工艺试验建立更高精度的模型描述微电路工艺的复杂性与非线性,将神经网络技术与统计试验设计相结合代替传统的统计方法应用于微电路热氧化工艺设备的表征.通过试验设计安排15轮试验,然后基于广义回归神经网络建立了以氧化膜厚以及均匀性为目标值的热氧化工艺模型,最后利用信噪比函数对模型的拟合以及预测能力进行了验证与比较分析.结果表明,该方法建立的模型可用于工艺表征与控制.所讨论的方法可用于其他微电路工艺设备的表征.
关键词
微电路工艺设备
广义回归神经网络
信噪比
函数
试验设计
Keywords
microcircuit process equipment
generalized regression neural network
signal noise ratio
design of experiment
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
增强型CCD微光图象探测灵敏阈研究
3
作者
魏泽斌
邹异松
机构
北京理工大学工程光学系
出处
《北京理工大学学报》
EI
CAS
CSCD
1991年第4期51-56,共6页
基金
博士点基金
文摘
讨论了电子轰击型CCD摄象过程的数学模型,在此基础上建立了其微光图象探测灵敏阈方程。理论计算与实验结果很好吻合.分析结果后,提出了提高电子轰击型CCD微光图象探测能力的主要技术途径。
关键词
光电器件
灵敏阈
CCD成象器件
EBS-CCD器件
微光图偈探测
信噪比
转移
函数
Keywords
photoelectronic devices
threshold of sensitivity / CCD imaging devices
EBS-CCD
分类号
TN223 [电子电信—物理电子学]
TN15
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
低角雷达多径误差抑制的盲分离方法
张瑜
房少娟
李雪萍
《电光与控制》
北大核心
2011
8
下载PDF
职称材料
2
基于广义回归神经网络的微电路工艺设备表征
游海龙
贾新章
张春福
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
0
下载PDF
职称材料
3
增强型CCD微光图象探测灵敏阈研究
魏泽斌
邹异松
《北京理工大学学报》
EI
CAS
CSCD
1991
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
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