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题名钙钛矿结构锰氧化物薄膜材料的低频1/f噪声研究
被引量：3
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作者
吴晟
贾文娟
许丽萍
邓云
梁津津
兰卉
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机构
天津大学材料科学与工程学院
国家海洋技术中心
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出处
《磁性材料及器件》
CAS
CSCD
2019年第3期12-16,共5页
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基金
国家重点研发计划基金资助项目(2016YFC1400302
2016YFC1400502)
国家海洋技术中心创新基金资助项目(K11600473)
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文摘
针对A位掺杂钙钛矿结构锰氧化物(A_(1-x)BxMnO_3)薄膜材料的微弱低频1/f噪声信号检测,采用基于双通道信号互相关运算的测试方法,有效消除了接触噪声对本底噪声的影响。通过对薄膜样品La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3的低频1/f噪声和电阻率测量,揭示了由不同衬底材料、不同厚度所引起的薄膜晶格内部应力变化对载流子输运机制的影响。结果表明,薄膜样品的1/f噪声水平和导电特性与材料厚度变化密切相关,La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3/SrTiO_3样品在临界厚度下表现出较低的1/f噪声;而La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3/SrTiO_3/Si样品随着厚度增大,其1/f噪声不断优化。上述结论对基于磁性材料的新型传感器的研制具有重要的参考意义。
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关键词
钙钛矿结构锰氧化物
薄膜材料
晶格结构
低频1/f噪声
热噪声
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Keywords
perovskite structure manganese oxide
thin film material
lattice structure
low frequency 1/f noise
thermal noise
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分类号
O484.43
[理学—固体物理]
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题名基于电路级的低频噪声测试及评估
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作者
李琛
王浩
秦仁刚
李鹏
常祥岭
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机构
无锡华润上华科技有限公司上海分公司
上海贝岭股份有限公司技术中心
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出处
《中国集成电路》
2021年第10期71-78,共8页
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文摘
随着5G物联网的蓬勃发展,基于MEMS传感器等应用的模拟前端电路对噪声要求水平越来越高,其中对于低频应用,低频闪烁(1/f)噪声往往成为系统性能瓶颈。而对于uV甚至nV级别的噪声信号,如何准确地进行测试评估,也需要投入大量的资源进行研究分析。本文基于华润上华流片的两款IP以及TI的两款电源芯片,采用不同的平台进行噪声测试对比分析,最终取得了可靠的低频噪声测试解决方案。
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关键词
MEMS微机电系统
低频闪烁(1/f)噪声
热噪声
温度传感器
带隙基准
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Keywords
MEMS
low frequency flick(1/f)noise
thermal noise
Temp sensor(TS)
BGR
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分类号
TB53
[理学—物理]
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