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高斯粗糙表面低掠入射散射特性研究 被引量：8
1
作者 黄泽贵 童创明 胡国平 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2007年第2期482-485,共4页
该文针对传统解析法不能有效求解低掠入射下粗糙表面散射特性的问题,提出了一种高阶解析法,该算法基于表面散射场的高阶分量和表面轮廓函数的高阶Taylor级数展开。利用该算法,定量比较了同极化的高、低阶散射系数,讨论了低掠入射下不同... 该文针对传统解析法不能有效求解低掠入射下粗糙表面散射特性的问题,提出了一种高阶解析法,该算法基于表面散射场的高阶分量和表面轮廓函数的高阶Taylor级数展开。利用该算法,定量比较了同极化的高、低阶散射系数,讨论了低掠入射下不同粗糙度的散射特性,分析了低掠入射下高阶微扰法和高阶基尔霍夫法求解高斯粗糙面的修正效应,得出了高阶解析法可以很好求解低掠入射问题的结论。最后,还研究了同极化散射指数与掠入射角幂函数的拟合问题,修正了极化散射指数的经典表达式。 展开更多
关键词 粗糙表面 低掠入射 散射系数 极化指数 高阶微扰法 高阶基尔霍夫近似
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低掠入射时分形粗糙面散射的高阶微扰解
2
作者 童创明 黄泽贵 +1 位作者 胡国平 王积勤 《电波科学学报》 EI CSCD 北大核心 2007年第1期148-152,共5页
针对粗糙表面低掠入射散射特性求解的大误差问题,采用高阶微扰法研究了分形布朗运动粗糙表面在低掠入射条件下的散射特性,计算了高阶微扰法在低掠入射时的修正值,比较了高阶场量和阴影函数对低掠入射的修正效应,讨论了不同分维数下低掠... 针对粗糙表面低掠入射散射特性求解的大误差问题,采用高阶微扰法研究了分形布朗运动粗糙表面在低掠入射条件下的散射特性,计算了高阶微扰法在低掠入射时的修正值,比较了高阶场量和阴影函数对低掠入射的修正效应,讨论了不同分维数下低掠入射时的散射系数,分析了低掠入射下极化指数与不同幂次正割函数的拟合逼近问题,修正了Ngo等人的结论。结果表明,高阶微扰法能有效求解掠入射角下分形粗糙表面的散射特性。 展开更多
关键词 分形粗糙表面 低掠入射 极化指数 高阶微扰法
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高阶双尺度法求解粗糙海面的散射特性
3
作者 胡国平 张守宏 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 北大核心 2007年第8期1230-1232,共3页
针对传统双尺度法不能有效求解低掠入射散射特性的问题,通过在小尺度集平均中计及散射场的高阶微扰分量,而提出了一种高阶双尺度的新方法。通过高、低阶微扰法求解水平、垂直极化下的散射系数,分析了高阶场量在低掠入射下的修正效应,并... 针对传统双尺度法不能有效求解低掠入射散射特性的问题,通过在小尺度集平均中计及散射场的高阶微扰分量,而提出了一种高阶双尺度的新方法。通过高、低阶微扰法求解水平、垂直极化下的散射系数,分析了高阶场量在低掠入射下的修正效应,并讨论了不同粗糙度的情况,研究了高阶双尺度法的求解结果。和测量值的比较表明,考虑高阶散射分量的高阶双尺度法可以很好地求解粗糙表面的散射特性,从而证明该方法是正确而有效的。 展开更多
关键词 粗糙海面 低掠入射 双尺度法
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薄膜X射线应力分析的实验方法 被引量：2
4
作者 刘毓舒 《理化检验（物理分册）》 CAS 2005年第9期447-450,共4页
提出一种适用于薄膜材料X射线应力分析的试样三维定向模式,在X射线低掠入射的前提下允许按实验所需选择测量方向。高密勒指数晶面衍射和测量方向的合理选择有助于提高测量精度,也利于经典sin2ψ分析法实验线性关系的建立,从而简化了分... 提出一种适用于薄膜材料X射线应力分析的试样三维定向模式,在X射线低掠入射的前提下允许按实验所需选择测量方向。高密勒指数晶面衍射和测量方向的合理选择有助于提高测量精度,也利于经典sin2ψ分析法实验线性关系的建立,从而简化了分析和计算程序。 展开更多
关键词 薄膜材料 X射线应力分析 低掠入射X射线束 三维定向模式 测量方向
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CVD金刚石膜的结构分析 被引量：18
5
作者 刘存业 刘畅 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第6期1479-1483,共5页
利用x射线广角衍射和低角掠入射散射谱、正电子湮没谱、定性分析软件和Positronfit程序 ,研究了生长在Si( 10 0 )基底上的金刚石膜微结构 .研究发现 ,在样品邻近基底区域为纳米多晶结构 ,具有弱的 [111]织构 ;在邻近表面区域为微米多晶... 利用x射线广角衍射和低角掠入射散射谱、正电子湮没谱、定性分析软件和Positronfit程序 ,研究了生长在Si( 10 0 )基底上的金刚石膜微结构 .研究发现 ,在样品邻近基底区域为纳米多晶结构 ,具有弱的 [111]织构 ;在邻近表面区域为微米多晶结构 ,具有强的 [2 2 0 ]织构 .金刚石膜样品有空位、空位团和空洞 3种缺陷 ,其中主要缺陷是大约 展开更多
关键词 CVD 金刚石膜 结构分析 化学气相沉积 正电子湮没谱 x射线广角衍射 低角掠入射散 微结构 缺陷
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