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一种快速精确查找逻辑电路失效位置的方法
1
作者
莫艳图
岳素格
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期353-357,共5页
提出了一种快速、精确查找组合逻辑电路失效位置的方法。这种方法对高辐射电路的可靠性评估很有意义。这种方法是通过对电路失效原理的分析,以及对失效概率的估计,来查找组合电路的失效位置。整个查找过程在Matlab平台上实现,用ISCAS’8...
提出了一种快速、精确查找组合逻辑电路失效位置的方法。这种方法对高辐射电路的可靠性评估很有意义。这种方法是通过对电路失效原理的分析,以及对失效概率的估计,来查找组合电路的失效位置。整个查找过程在Matlab平台上实现,用ISCAS’85基准电路进行实验,所有电路均采用0.18μm标准CMOS工艺。结果表明,相对HSPICE随机仿真的方法,这种方法的速度提高了将近49倍,而且准确率达到94.7%。
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关键词
单粒子瞬态
软错误率
位
翻转
概率
错误传播
概率
组合逻辑
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职称材料
题名
一种快速精确查找逻辑电路失效位置的方法
1
作者
莫艳图
岳素格
机构
北京微电子技术研究所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期353-357,共5页
文摘
提出了一种快速、精确查找组合逻辑电路失效位置的方法。这种方法对高辐射电路的可靠性评估很有意义。这种方法是通过对电路失效原理的分析,以及对失效概率的估计,来查找组合电路的失效位置。整个查找过程在Matlab平台上实现,用ISCAS’85基准电路进行实验,所有电路均采用0.18μm标准CMOS工艺。结果表明,相对HSPICE随机仿真的方法,这种方法的速度提高了将近49倍,而且准确率达到94.7%。
关键词
单粒子瞬态
软错误率
位
翻转
概率
错误传播
概率
组合逻辑
Keywords
logic Single event transient
Soft error rate
Bit-upset rate
Error propagation probability
Combinational
分类号
TP331.13 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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作者
出处
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1
一种快速精确查找逻辑电路失效位置的方法
莫艳图
岳素格
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2008
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