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一种提高含边界扫描器件电路板在线测试速度的新方法 被引量:1
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作者 李欣 廖为民 张玉虹 《青岛海洋大学学报(自然科学版)》 CSCD 北大核心 2003年第1期115-121,共7页
在包含有边界扫描器件的电路板在线测试 (In Circuit Test,ICT)中 ,采用边界扫描技术可以简化高密度集成电路的测试矢量生成。但如何在 ICT中减少边界扫描测试矢量从而提高测试速度 ,是 1个重要问题。本文结合 1个实例 ,讨论在 ICT中 ,... 在包含有边界扫描器件的电路板在线测试 (In Circuit Test,ICT)中 ,采用边界扫描技术可以简化高密度集成电路的测试矢量生成。但如何在 ICT中减少边界扫描测试矢量从而提高测试速度 ,是 1个重要问题。本文结合 1个实例 ,讨论在 ICT中 ,采用伪穷举法与 Delta Scan法相结合 ,在保证原错误覆盖率不变的情况下减少测试矢量数 ,增加测试速度的方法。 展开更多
关键词 边界扫描器件 电路板在线测试 穷举法 TCT
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一种边界扫描测试矢量的生成方法
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作者 蔡绪涛 付倩 潘莉莉 《仪器仪表用户》 2006年第5期113-114,共2页
本文主要介绍了单输出无扇出电路运用穷举法生成边界扫描测试的测试矢量的理论,并以XILINK公司的XC5210-TQ144为例介绍了边界扫描测试矢量的生成过程。
关键词 边界扫描 测试矢量 穷举法 穷举法
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IP软核的测试技术研究
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作者 国海欣 《电脑编程技巧与维护》 2003年第8期40-41,45,共3页
随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加;片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂。开发IP核成为SOC的重要设计手段。同时,IP核的测试也对科研人员提出了新的挑战。本文重点描述了IP的测试... 随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加;片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂。开发IP核成为SOC的重要设计手段。同时,IP核的测试也对科研人员提出了新的挑战。本文重点描述了IP的测试技术,证明了文献[1]中给出的伪穷举法。并以可编程8255并行I/O接口芯片为例说明了使用伪穷举法进行了IP核校验的方法。 展开更多
关键词 IP软核 VHDL IP核测试 8255 穷举法
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