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题名基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成技术
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作者
刘建军
李铁军
邹立明
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机构
集美大学信息工程学院
上海普阅信息科技有限公司
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出处
《电子技术应用》
北大核心
2010年第9期104-107,共4页
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文摘
提出了一种基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成方法,它是在折叠计数器确定模式的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,通过选定的存储折叠距离来控制测试模式,使得产生的测试矢量之间实现伪单跳变。由于是在确定模式基础上进行的研究,没有改变原来的测试矢量,所以故障覆盖率不会改变,却大大降低了测试功耗。这样既保证了高故障覆盖率,又解决了不同种子所生成的测试矢量之间的重叠冗余。研究结果不仅表明该方案具有很好的数据压缩率,而且证明了该方案的有效性。
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关键词
低功耗设计
折叠矢量
伪单跳变
确定模式
种子
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Keywords
low-power
folding vector
pseudo-single-change
determine mode
seed
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名伪单输入跳变测试序列的测试生成器设计
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作者
陈卫兵
汤兰
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机构
阜阳师范学院物理系
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出处
《沈阳工业大学学报》
EI
CAS
2008年第1期108-111,共4页
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文摘
为降低内建自测试电路中的功耗,在分析内建自测试低功耗设计一般方法的基础上,从提高测试向量之间相关性的角度出发,提出了一种在不损失固定型故障覆盖率前提下降低测试功耗的BIST测试生成器设计方案.该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础上添加了简单的控制逻辑电路,从而得到一种新的伪单输入跳变测试序列,并且在基准电路上进行了实验.实验结果表明,该设计方案在降低功耗的同时可使测试的时间大大缩短.
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关键词
低功耗设计
内建自测试
测试生成器
线性反馈移位寄存器
伪单输入跳变
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Keywords
low power design
BIST
test generator
LFSR
pseu-SIC
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于折叠集合的确定模式BIST的低功耗设计
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作者
谈恩民
梁晓琳
刘建军
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机构
桂林电子科技大学电子工程学院
上海交通大学电子信息与电气工程学院
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出处
《计算机系统应用》
2008年第5期107-111,共5页
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基金
广西区自然基金(0542050)
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文摘
提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢量之间实现单跳变。由于是在确定测试矢量基础上进行的研究,而没有改变原来的测试矢量,因而故障覆盖率不会改变,这样既保证了高故障覆盖率又解决不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余。研究结果表明该方案不仅具有很好的数据压缩率,而且证明了该方案的有效性。
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关键词
低功耗设计
折叠集
折叠矢量
伪单输入跳变
确定测试
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分类号
TP216
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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