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一种基于纳米级CMOS工艺的互连线串扰RLC解析模型 被引量:9
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作者 朱樟明 钱利波 杨银堂 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第4期2631-2636,共6页
基于纳米级CMOS工艺,综合考虑电容耦合与电感耦合效应,提出了分布式RLC耦合互连解析模型.采用函数逼近理论与降阶技术,在斜阶跃输入信号下提出了受扰线远端的数值表达式.基于90和65nm CMOS工艺,对不同的互连耦合尺寸下的分布式RLC串扰... 基于纳米级CMOS工艺,综合考虑电容耦合与电感耦合效应,提出了分布式RLC耦合互连解析模型.采用函数逼近理论与降阶技术,在斜阶跃输入信号下提出了受扰线远端的数值表达式.基于90和65nm CMOS工艺,对不同的互连耦合尺寸下的分布式RLC串扰解析模型和Hspice仿真结果进行了比较,误差绝对值都在4%内,能应用于纳米级片上系统(SOC)的电子设计自动化(EDA)设计和集成电路优化设计. 展开更多
关键词 纳米级CMOS 互连串扰 分布式 RLC解析模型
原文传递
两相邻耦合RLC互连的串扰估计 被引量:2
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作者 董刚 李跃进 杨银堂 《电路与系统学报》 CSCD 北大核心 2006年第2期149-152,共4页
本文建立了一种考虑电感耦合效应的两相邻耦合互连模型,基于传输函数直接截断的方法给出了其互连串扰的解析表达式。讨论了该解析公式在局部互连和全局互连两种情况下的应用,其结果相对于HSPICE的误差小于10%。它可以用于考虑串扰效应... 本文建立了一种考虑电感耦合效应的两相邻耦合互连模型,基于传输函数直接截断的方法给出了其互连串扰的解析表达式。讨论了该解析公式在局部互连和全局互连两种情况下的应用,其结果相对于HSPICE的误差小于10%。它可以用于考虑串扰效应的版图优化。 展开更多
关键词 互连串扰 传输函数直接截断 电感
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Progress and Research on Interconnects Crosstalk in Deep Submicron Technology 被引量:2
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作者 蔡懿慈 赵鑫 洪先龙 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第11期1121-1129,共9页
As develops in deep sub micron designs,the interconnect crosstalk becomes much more serious.Espe cially, the coupling inductance can not be ignored in gigahertz designs.So shield insertion is an efficient techniq... As develops in deep sub micron designs,the interconnect crosstalk becomes much more serious.Espe cially, the coupling inductance can not be ignored in gigahertz designs.So shield insertion is an efficient technique to reduce the inductive noise.In this paper,the characteristics of on chip mutual inductance (as well as self) for coplanar,micro stripline and stripline structures are introduced first.Then base on the coplanar interconnect structures,the effective coupling K eff model and the RLC explicit noise model are proposed respectively.The results of experiments show that these two models both have high fidelity. 展开更多
关键词 interconnect crosstalk crosstalk noise K eff model RLC explicit noise model
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互连线延时和串扰的估算方法 被引量:1
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作者 陈彬 杨华中 汪蕙 《电路与系统学报》 CSCD 2003年第6期100-106,共7页
本文综述了集成电路中互连线的延时和串扰的估算方法,分析了各种估算方法的精度和复杂度,同时提出了今后互连线延时和串扰估算所需要解决的新问题。
关键词 互连线延时 互连线串扰 延时恶化
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基于二进制退避算法和流量感知的片上网络在线故障检测
5
作者 崔艳 王刘涛 《现代电子技术》 北大核心 2016年第5期14-18,23,共6页
针对片上网络(NoC)中互连线容易发生串扰故障问题,提出了一种基于二进制退避算法(BEBOA)结合流量感知的NoC串扰在线诊断故障方案。当NoC信道空闲时,使用信道检测器检测信道以最小化NoC入侵吞吐量;当临时故障恢复时,使用基于BEBOA的检测... 针对片上网络(NoC)中互连线容易发生串扰故障问题,提出了一种基于二进制退避算法(BEBOA)结合流量感知的NoC串扰在线诊断故障方案。当NoC信道空闲时,使用信道检测器检测信道以最小化NoC入侵吞吐量;当临时故障恢复时,使用基于BEBOA的检测间隔时间参数动态设定检测时间,使网络快速恢复。此外,构建一种优先级仲裁机制,避免应用程序和检测程序发生信道访问冲突。实验结果表明,提出的方案能够准确检测和诊断故障,并能够迅速恢复吞吐量,同时具有最小的额外芯片面积开销需求。 展开更多
关键词 故障检测 片上网络 二进制退避算法 互连线串扰 监控模块 优先级仲裁机制
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A Novel Interconnect Crosstalk Parallel RLC Analyzable Model Based on the 65nm CMOS Process
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作者 朱樟明 钱利波 杨银堂 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第3期423-427,共5页
Based on the 65nm CMOS process,a novel parallel RLC coupling interconnect analytical model is presented synthetically considering parasitical capacitive and parasitical inductive effects. Applying function approximati... Based on the 65nm CMOS process,a novel parallel RLC coupling interconnect analytical model is presented synthetically considering parasitical capacitive and parasitical inductive effects. Applying function approximation and model order-reduction to the model, we derive a closed-form and time-domain waveform for the far-end crosstalk of a victim line under ramp input transition. For various interconnect coupling sizes, the proposed RLC coupling analytical model enables the estimation of the crosstalk voltage within 2.50% error compared with Hspice simulation in a 65nm CMOS process. This model can be used in computer-aided-design of nanometer SOCs. 展开更多
关键词 nanometer CMOS interconnect coupling crosstalk parallel RLC analytical model parameter extraction function approximation
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