-
题名液晶屏模糊边缘缺陷分布式检测方法
被引量：1
- 1
-
-
作者
夏晓云
张仁斌
谢瑞
王聪
-
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
-
出处
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2016年第8期2534-2538,2542,共6页
-
基金
国家自然科学基金资助项目(61271121)
-
文摘
第六代液晶屏在生产过程中会产生多种类型的缺陷,通过单机进行缺陷检测存在存储资源和计算时间的瓶颈。利用Hadoop集群优势处理海量的高分辨率液晶屏图像是一个新的思路。针对线阵CCD(charge-coupled device)相机采集特点,提出一种基于MapReduce的分布式缺陷检测方法,使用改进的C-V图像分割模型,完成液晶屏模糊边缘的缺陷分割,对处于子图边缘的缺陷进行二次缺陷提取,提高缺陷检测的准确率,并采用SVM(support vector machine)分类器完成缺陷的分类。实验表明,该方法提高检测效率的同时降低了缺陷的误判率,为分布式存储分块图像、缺陷测量等相关研究奠定了基础。
-
关键词
MAPREDUCE
二次缺陷分割
C-V模型
SVM分类器
-
Keywords
MapReduce
the second defect segmentation
C-V model
SVM classifier
-
分类号
TP317.4
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
-
