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一种基于ATE的FPGA测试方法研究
被引量：
2
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作者
刘子龙
孙佳郡
韩光鲜
《信息技术》
2014年第9期47-49,共3页
以Xilinx公司的XC6VLX550T系列FPGA芯片为研究对象,结合各种故障模型等测试技术,把"分治法"和"一维阵列法"相结合起来作为基本测试思路,并建立V93000测试平台的测试程序开发流程,探索出一种通用的FPGA测试方法。
关键词
FPGA
测试技术
分治
法
一维
阵列
法
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职称材料
题名
一种基于ATE的FPGA测试方法研究
被引量：
2
1
作者
刘子龙
孙佳郡
韩光鲜
机构
上海理工大学光电信息与计算机工程学院
上海博建电子科技有限公司
出处
《信息技术》
2014年第9期47-49,共3页
基金
国家自然科学基金(61074087)
上海市教育委员会科研创新项目(12ZZ144)
文摘
以Xilinx公司的XC6VLX550T系列FPGA芯片为研究对象,结合各种故障模型等测试技术,把"分治法"和"一维阵列法"相结合起来作为基本测试思路,并建立V93000测试平台的测试程序开发流程,探索出一种通用的FPGA测试方法。
关键词
FPGA
测试技术
分治
法
一维
阵列
法
Keywords
FPGA
measuring and testing technique
divide and conquer
one-dimensional array
分类号
TP206.1 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
一种基于ATE的FPGA测试方法研究
刘子龙
孙佳郡
韩光鲜
《信息技术》
2014
2
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