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恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响 被引量:1
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作者 孙庆强 黄增光 +1 位作者 朴红光 罗志全 《天文学进展》 CSCD 北大核心 2006年第4期380-386,共7页
针对低能反应和共振跃迁,分析了在恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响.对共振跃迁的分析是基于核的壳层模型.作为例子,详细计算了电荷屏蔽对56Cr的β衰变的影响.结果表明:在较低温度和高密度下,电荷屏蔽使β衰变率有明显的增加。这对... 针对低能反应和共振跃迁,分析了在恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响.对共振跃迁的分析是基于核的壳层模型.作为例子,详细计算了电荷屏蔽对56Cr的β衰变的影响.结果表明:在较低温度和高密度下,电荷屏蔽使β衰变率有明显的增加。这对恒星晚期演化和超新星爆发研究可能会有重要的影响。 展开更多
关键词 天体物理学 β衰变率 电荷屏蔽 核合成 恒星演化
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