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基于Bresenham算法的四步画直线算法
被引量:
16
1
作者
林笠
Rong CHEN
《暨南大学学报(自然科学与医学版)》
CAS
CSCD
2003年第5期19-22,共4页
通过分析计算机图形学中的画直线的Bresenham算法,以及由此改进的"对称算法"、"二步法",提出将"对称算法"和"二步法"结合形成"4-点画线算法".与Bresenham算法相比,该算法可以将画...
通过分析计算机图形学中的画直线的Bresenham算法,以及由此改进的"对称算法"、"二步法",提出将"对称算法"和"二步法"结合形成"4-点画线算法".与Bresenham算法相比,该算法可以将画线效率提高近2倍.
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关键词
BRESENHAM算法
对称算法
二步法
4
—步法
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职称材料
纳米检测轮廓仪相移干涉图处理
被引量:
2
2
作者
李岩
井文才
+3 位作者
周革
于晋龙
张红霞
张以谟
《纳米技术与精密工程》
CAS
CSCD
2005年第1期13-18,共6页
研究了相移干涉轮廓仪干涉图处理的相位提取算法和相位去包裹算法.提出区分像素点的四步相位提取算法,该算法有效地消除了环境噪声,降低了相移误差的影响,同时具有广泛的实用性.为了验证该算法,首先检测一标准台阶面,测得台阶高度的平...
研究了相移干涉轮廓仪干涉图处理的相位提取算法和相位去包裹算法.提出区分像素点的四步相位提取算法,该算法有效地消除了环境噪声,降低了相移误差的影响,同时具有广泛的实用性.为了验证该算法,首先检测一标准台阶面,测得台阶高度的平均测量误差为1.600;然后以插入光纤的光纤连接器端面的三维轮廓为对象进行了实际检测,测得光纤端面与连接器端面高度差平均值为45.7nm,平均测量误差为200.测得光纤端面上一污点高度为23.6nm,平均测量误差为300.
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关键词
光纤端面
相移干涉
光纤连接器
三维轮廓
像素点
干涉图处理
提取算法
插入
对象
平均
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职称材料
题名
基于Bresenham算法的四步画直线算法
被引量:
16
1
作者
林笠
Rong CHEN
机构
暨南大学信息科学技术学院
Institut für Informationssysteme
出处
《暨南大学学报(自然科学与医学版)》
CAS
CSCD
2003年第5期19-22,共4页
基金
国家自然科学基金(60173039
60203015)
广东省自然科学基金(011162)资助项目
文摘
通过分析计算机图形学中的画直线的Bresenham算法,以及由此改进的"对称算法"、"二步法",提出将"对称算法"和"二步法"结合形成"4-点画线算法".与Bresenham算法相比,该算法可以将画线效率提高近2倍.
关键词
BRESENHAM算法
对称算法
二步法
4
—步法
Keywords
Bresenham
algorithm
symmetry
algorithm
2-
step
algorithm
\
4
-
step
algorithm
分类号
TP391.4 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
纳米检测轮廓仪相移干涉图处理
被引量:
2
2
作者
李岩
井文才
周革
于晋龙
张红霞
张以谟
机构
天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室
出处
《纳米技术与精密工程》
CAS
CSCD
2005年第1期13-18,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(60377031)
"973"计划资助课题(2003CB314907)
+1 种基金
教育部优秀青年教师教学科研奖励基金资助项目
天津市"131"人才工程第一层次人选资助课题.
文摘
研究了相移干涉轮廓仪干涉图处理的相位提取算法和相位去包裹算法.提出区分像素点的四步相位提取算法,该算法有效地消除了环境噪声,降低了相移误差的影响,同时具有广泛的实用性.为了验证该算法,首先检测一标准台阶面,测得台阶高度的平均测量误差为1.600;然后以插入光纤的光纤连接器端面的三维轮廓为对象进行了实际检测,测得光纤端面与连接器端面高度差平均值为45.7nm,平均测量误差为200.测得光纤端面上一污点高度为23.6nm,平均测量误差为300.
关键词
光纤端面
相移干涉
光纤连接器
三维轮廓
像素点
干涉图处理
提取算法
插入
对象
平均
Keywords
interferogram
processing
phase
extracting
phase
unwrapping
4
-
step
algorithm
分类号
TN25 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于Bresenham算法的四步画直线算法
林笠
Rong CHEN
《暨南大学学报(自然科学与医学版)》
CAS
CSCD
2003
16
下载PDF
职称材料
2
纳米检测轮廓仪相移干涉图处理
李岩
井文才
周革
于晋龙
张红霞
张以谟
《纳米技术与精密工程》
CAS
CSCD
2005
2
下载PDF
职称材料
已选择
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参考文献
引证文献
统计分析
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