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靶通道选择器研究与优化设计
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作者 鲁彤 袁祖浩 +2 位作者 李明 王佳方 何秋福 《电子工业专用设备》 2024年第1期34-37,共4页
针对目前对多靶磁控溅射设备功率切换的高要求,设计了一套可以有效抗电磁干扰的靶通道选择器。该新型靶通道选用钨触点高压陶瓷继电器实现通道的切换,通过I/O信号控制通道的切换,规避串口通讯抗电磁干扰能力弱的问题,并成功应用于磁控... 针对目前对多靶磁控溅射设备功率切换的高要求,设计了一套可以有效抗电磁干扰的靶通道选择器。该新型靶通道选用钨触点高压陶瓷继电器实现通道的切换,通过I/O信号控制通道的切换,规避串口通讯抗电磁干扰能力弱的问题,并成功应用于磁控溅射镀膜机上,经过用户的长期使用,证明了该设备的稳定性和可靠性,这一突破实现了靶通道选择器的自主可控。 展开更多
关键词 磁控溅射 直流电源 靶通道选择器 功率切换
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磁控溅射源中氩辉光放电的等离子体行为及分布特性
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作者 李平川 张帆 +2 位作者 张正浩 李箫波 唐德礼 《真空科学与技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第6期521-528,共8页
通过三维粒子数值模型对现有磁控溅射源结构中氩辉光放电的等离子体行为和分布特征进行了模拟,从而得到靶材利用率和能量利用率的信息。离子轨迹、离子能量和离子入射角分布的分析结果表明,由于电势的空间分布影响,放电电压从260 V增加... 通过三维粒子数值模型对现有磁控溅射源结构中氩辉光放电的等离子体行为和分布特征进行了模拟,从而得到靶材利用率和能量利用率的信息。离子轨迹、离子能量和离子入射角分布的分析结果表明,由于电势的空间分布影响,放电电压从260 V增加到340 V,使得轰击离子比例从80%降低到67%。由于离子向靶材移动和远离靶材都会得到加速,过高的放电电压不利于提高能量利用率。另一方面,提高放电电压有利于离子以更高的平均动能撞击靶材,有利于提高溅射产额。因此,根据工作压力选择合适的放电电压是提高电源效率的有效途径。通过离子溅射位置分布与靶材实际侵蚀剖面图的对比,验证了仿真模型的可靠性,对磁控溅射源的优化设计具有一定的参考价值。 展开更多
关键词 磁控溅射 数值仿真 等离子体行为 靶材利用率 能量利用率
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靶功率对射频磁控溅射制备MoS_2-Sb_2O_3复合薄膜结构和性能的影响 被引量:4
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作者 张延帅 周晖 +2 位作者 万志华 桑瑞鹏 郑军 《润滑与密封》 CAS CSCD 北大核心 2011年第7期70-74,共5页
采用射频磁控溅射技术制备MoS2-Sb2O3复合薄膜,研究靶功率对薄膜性能和结构的影响。利用XRD、XRF分析薄膜的成分和结构,用CSM薄膜综合性能仪测试薄膜的硬度及附着力,通过承载力试验测试薄膜的承载性能,使用真空球-盘摩擦试验机测试真空... 采用射频磁控溅射技术制备MoS2-Sb2O3复合薄膜,研究靶功率对薄膜性能和结构的影响。利用XRD、XRF分析薄膜的成分和结构,用CSM薄膜综合性能仪测试薄膜的硬度及附着力,通过承载力试验测试薄膜的承载性能,使用真空球-盘摩擦试验机测试真空和大气下薄膜的摩擦因数及耐磨寿命。结果表明:使用射频磁控溅射制备的MoS2-Sb2O3复合薄膜具有准非晶结构,其薄膜结构和成分受沉积时的靶功率影响;MoS2-Sb2O3复合薄膜在真空下具有比大气下更稳定的摩擦学性能,更长的耐磨寿命;提高溅射原子能量能有效地提高MoS2-Sb2O3复合薄膜的承载性能,减少薄膜的内应力,提高薄膜的附着力,提高薄膜的耐磨寿命。 展开更多
关键词 射频磁控溅射 MoS2-Sb2O3 复合薄膜 靶功率 结构和性能
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“反向设计”法研制ZrB_(2)-Ni涂层及其性能研究 被引量:1
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作者 蒙德强 王铁钢 +2 位作者 柯培玲 刘艳梅 曹斌 《工具技术》 北大核心 2021年第2期19-22,共4页
利用磁控溅射技术向ZrB_(2)涂层中掺杂金属Ni来改善涂层韧性,采用“反向设计”法研制ZrB_(2)-Ni涂层,即通过改变ZrB_(2)靶溅射功率调控ZrB_(2)-Ni涂层中Ni含量,系统研究涂层力学性能和摩擦磨损性能的变化规律,优化涂层制备工艺。结果表... 利用磁控溅射技术向ZrB_(2)涂层中掺杂金属Ni来改善涂层韧性,采用“反向设计”法研制ZrB_(2)-Ni涂层,即通过改变ZrB_(2)靶溅射功率调控ZrB_(2)-Ni涂层中Ni含量,系统研究涂层力学性能和摩擦磨损性能的变化规律,优化涂层制备工艺。结果表明:随着ZrB_(2)靶溅射功率增加,涂层沉积速率呈线性增加;纳米硬度、弹性模量和平均摩擦系数逐渐升高;涂层临界载荷和磨损率均先增加后下降,但变化不大。适量掺杂金属Ni在一定程度上改善了涂层韧性,当ZrB_(2)靶溅射功率为2.4kW时,制备的涂层临界载荷较高,约20.9N;涂层耐磨性最好,磨损率为4.3×10^(-1)μm^(3)/(N·μm),特征值H/E与H^(3)/E^(*2)最高,分别为0.066和0.075GPa。 展开更多
关键词 磁控溅射技术 “反向设计”方法 ZrB_(2)-Ni涂层 靶溅射功率 纳米硬度
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Ti-B-N纳米复合涂层的设计、制备及性能 被引量:1
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作者 刘艳梅 王铁钢 +3 位作者 郭玉垚 柯培玲 蒙德强 张纪福 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2020年第11期1521-1529,共9页
利用脉冲直流磁控溅射技术研制Ti-B-N涂层,通过降低反应气体N2流量,减少涂层中a-BN(a代表非晶)软质相的含量,增大TiB_(2)靶溅射功率,提高硬质相TiB_(2)的含量,形成nc-(Ti_(2)N,TiB_(2))/a-BN(nc代表纳米晶)纳米复合结构,实现涂层增韧和... 利用脉冲直流磁控溅射技术研制Ti-B-N涂层,通过降低反应气体N2流量,减少涂层中a-BN(a代表非晶)软质相的含量,增大TiB_(2)靶溅射功率,提高硬质相TiB_(2)的含量,形成nc-(Ti_(2)N,TiB_(2))/a-BN(nc代表纳米晶)纳米复合结构,实现涂层增韧和强化。系统研究了TiB_(2)靶溅射功率对Ti-B-N涂层成分、微观结构和性能的影响,利用EDS、HRTEM、SEM、XRD、纳米压痕仪和划痕测试仪对涂层进行表征和测试,利用球-盘式摩擦磨损试验机测试涂层摩擦学性能。结果表明,随着TiB_(2)靶溅射功率增加,Ti-B-N涂层结构逐渐由nc-Ti_(2)N/a-BN演变成hcp-TiB_(2)/a-BN;Ti-B-N涂层的纳米硬度也逐渐增加,当TiB_(2)靶溅射功率为2.4 kW时,涂层硬度最高,约为33.8 GPa;此时Ti-B-N涂层的摩擦系数和磨损率也最低,分别为0.55和2.1×10^(-4)μm^(3)/(N·μm),涂层耐磨性能最佳。 展开更多
关键词 涂层强化 磁控溅射 Ti-B-N涂层 靶材溅射功率 纳米硬度
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沉积功率对Ce-Ti/MoS_(2)复合涂层摩擦磨损性能的影响
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作者 田昌龄 蔡海潮 +2 位作者 薛玉君 叶军 李继文 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第8期197-207,共11页
目的探究Ce-Ti合金靶功率对MoS_(2)基涂层摩擦学性能的影响,制备干摩擦性能优异的MoS_(2)基复合涂层。方法采用直流与射频双靶非平衡共溅射技术,通过调节Ce-Ti(1∶1)靶功率控制涂层掺杂元素含量。利用原子力显微镜(AFM)、X射线光电子能... 目的探究Ce-Ti合金靶功率对MoS_(2)基涂层摩擦学性能的影响,制备干摩擦性能优异的MoS_(2)基复合涂层。方法采用直流与射频双靶非平衡共溅射技术,通过调节Ce-Ti(1∶1)靶功率控制涂层掺杂元素含量。利用原子力显微镜(AFM)、X射线光电子能谱仪(XPS)等多种测试手段,分析合金靶功率对Ce-Ti/MoS_(2)涂层微观组织、力学性能及摩擦学性能的影响。结果随着掺杂金属功率提升,MoS_(2)基涂层由明显的晶体结构变为类似非晶结构;表面由纯MoS_(2)的蠕虫状逐渐转化为细小团聚形貌,在达到90 W功率后团聚尺寸又逐渐粗大。当Ce-Ti靶(Ce的原子数分数为2.32%;Ti的原子数分数为7.21%)沉积功率达到70 W时,致密程度显著提高,由无掺杂多孔柱状晶变为细密柱状生长结构,纳米硬度达7.85 GPa,并明显改善了氧化现象。在摩擦磨损方面,70 W功率下磨痕呈微量的磨粒磨损,平均摩擦因数低至0.073,磨损率减少至9.42×10^(-8) mm^(3) N^(-1)m^(-1)。对偶钢球形成转移膜,有效减少摩擦过程剪切力。70 W条件下转移膜面积最小,且摩擦时磨痕处重组生成MoS_(2)结构,显著减少材料的摩擦因数与磨损率。结论磁控溅射Ce-Ti掺杂MoS_(2)基涂层提升了涂层致密程度与摩擦磨损性能,在功率达到70 W时达到最优综合性能,涂层的摩擦因数与磨损率也因形成高质量转移膜而显著降低。 展开更多
关键词 磁控溅射 二硫化钼涂层 金属掺杂 靶功率 摩擦学性能
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溅射靶功率对W-C:H薄膜结构与摩擦学性能的影响 被引量:1
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作者 孙尚琪 刘翔 +2 位作者 王永欣 李金龙 王立平 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第11期104-109,共6页
目的研究不同溅射功率对W-C:H涂层结构与摩擦学性能的影响。方法用非平衡磁控溅射(UBMS)+等离子体增强化学气相沉积法(PECVD),以WC靶作为溅射靶,C2H2为反应气体,通过调制溅射靶功率,在316不锈钢与Si(100)基体上制备了W-C:H系列薄膜。通... 目的研究不同溅射功率对W-C:H涂层结构与摩擦学性能的影响。方法用非平衡磁控溅射(UBMS)+等离子体增强化学气相沉积法(PECVD),以WC靶作为溅射靶,C2H2为反应气体,通过调制溅射靶功率,在316不锈钢与Si(100)基体上制备了W-C:H系列薄膜。通过场发射电镜(FESEM)、X射线衍射仪(XRD)、拉曼光谱对薄膜的微观结构和成分进行了表征。用UMT-3MT多功能摩擦机对薄膜的摩擦学性能进行了分析。结果 W-C主要以β-WC1-x纳米晶的形式均匀分布在非晶碳中,并表现出(200)面择优生长。随着溅射靶功率的上升,薄膜内W含量逐渐升高,(200)面衍射峰逐渐增强,sp2含量先降低后升高。靶功率在1.4 k W时具有较好的摩擦学性能,摩擦系数为0.15,磨损率为3.92×10-7 mm^3/(N·m)。结论随着溅射靶功率逐渐升高,柱状晶逐渐变粗,涂层的致密性逐渐降低,薄膜摩擦学性能与WC含量密切相关。 展开更多
关键词 W-C:H薄膜 溅射靶功率 结构 摩擦系数 磨损率 韧性
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离子束溅射组装均质Cu-W膜不同铜钨靶功率、气压对膜结构的影响
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作者 李久明 王珍吾 +2 位作者 艾永平 刘祥辉 刘利军 《材料保护》 CAS CSCD 北大核心 2013年第1期35-36,55,共3页
目前,对磁控溅射组装Cu-W均质复合膜的工艺及成膜机理研究不够深入。通过磁控溅射组装均质Cu-W薄膜,考察了溅射工艺参数对膜结构的影响。结果表明:直流磁控溅射组装均质Cu-W薄膜时,钨是以β-钨为骨架固溶进部分铜的方式存在;随铜靶功率... 目前,对磁控溅射组装Cu-W均质复合膜的工艺及成膜机理研究不够深入。通过磁控溅射组装均质Cu-W薄膜,考察了溅射工艺参数对膜结构的影响。结果表明:直流磁控溅射组装均质Cu-W薄膜时,钨是以β-钨为骨架固溶进部分铜的方式存在;随铜靶功率的增加,铜的晶粒尺寸先变大后变小;随钨靶功率的增大,β-钨有向非晶态转变的趋势,且铜的晶粒尺寸会明显变小;薄膜的沉积速率主要由钨靶功率决定;工作气体氩气气压低于1.0 Pa时,随气压升高,铜的晶粒尺寸变小,高于1.0 Pa时,气压对薄膜结构没有影响。 展开更多
关键词 Cu—W均质薄膜 磁控溅射 晶粒尺寸 靶功率 气压
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Microstructure and corrosion resistance of vanadium films deposited at different target-substrate distance by HPPMS 被引量:2
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作者 Chun-Wei Li Xiu-Bo Tian +2 位作者 Tian-Wei Liu Jian-Wei Qin Chun-Zhi Gong 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 2014年第5期587-593,共7页
High power pulsed magnetron sputtering(HPPMS), a novel physical vapor deposition technology, was applied to prepare vanadium films on aluminum alloy substrate in this paper. The influence of target–substrate dista... High power pulsed magnetron sputtering(HPPMS), a novel physical vapor deposition technology, was applied to prepare vanadium films on aluminum alloy substrate in this paper. The influence of target–substrate distance(Dt–s)(ranging from 8 to 20 cm) on phase structure, surface morphology, deposition rate, and corrosion resistance of vanadium films was investigated. The results show that the vanadium films are textured with a preferential orientation in the(111) direction except for that fabricated at 20 cm. With Dt–sincreasing, the intensity of(111) diffraction peak of the films decreases and there exists a proper distance leading to the minimum surface roughness of 0.65 nm. The deposition rate decreases with Dt–sincreasing. All the V-coated aluminum samples possess better corrosion resistance than the control sample. The sample fabricated at Dt–sof 12 cm demonstrates the best corrosion resistance with the corrosion potential increasing by 0.19 V and the corrosion current decreasing by an order of magnitude compared with that of the substrate. The samples gain further improvement in corrosion resistance after annealing, and if compared with that of annealed aluminum alloy, then the corrosion potential of the sample fabricated at 20 cm increases by 0.415 V and the corrosion current decreases by two orders of magnitude after annealed at 200 °C. If the annealing temperature further rises to 300 °C, then the corrosion resistance of samples increases less obviously than that of the control sample. 展开更多
关键词 High power pulsed magnetron sputtering Vanadium films target–substrate distance MICROSTRUCTURE Corrosion resistance
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调制脉冲磁控溅射峰值靶功率密度对纯Ti镀层沉积行为的影响(英文) 被引量:2
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作者 杨超 蒋百灵 +2 位作者 王迪 黄蓓 董丹 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2019年第11期3433-3440,共8页
调制脉冲磁控溅射可通过改变强、弱离化阶段的脉冲强度和占空比等电场参量,大幅调控镀料粒子的离化率、沉积能量和数量,实现对沉积镀层形核与生长过程的精确把控。在非平衡闭合磁场条件下,采用调制脉冲磁控溅射技术,通过对其强离化脉冲... 调制脉冲磁控溅射可通过改变强、弱离化阶段的脉冲强度和占空比等电场参量,大幅调控镀料粒子的离化率、沉积能量和数量,实现对沉积镀层形核与生长过程的精确把控。在非平衡闭合磁场条件下,采用调制脉冲磁控溅射技术,通过对其强离化脉冲阶段的脉冲宽度和靶功率进行调控获得持续增大的峰值靶功率密度,并在此条件下制备多组纯Ti镀层,对其微观形貌和力学性能进行了检测分析。结果表明,当强离化脉冲阶段的峰值靶功率密度由0.15 k W·cm^-2持续增大至0.86 k W·cm-2时,所制备的纯Ti镀层具有11 nm的平均晶粒尺寸,且较其他峰值靶功率密度条件下的制备镀层具有更为致密的组织结构、平整的表面质量(表面粗糙度Ra为11 nm)和良好的力学性能。 展开更多
关键词 纳米晶 Ti镀层 调制脉冲磁控溅射 峰值靶功率密度
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B靶溅射功率对FeGaB薄膜磁性能的影响
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作者 任绥民 刘颖力 《磁性材料及器件》 CAS CSCD 2021年第4期12-15,共4页
采用磁控共溅射法制备FeGaB合金薄膜,FeGa靶的溅射功率为40 W,通过调整B靶的溅射功率来调控薄膜的成分。结果表明,制备出的FeGaB薄膜厚度均匀,呈非晶态,具有较小的矫顽力和较大的磁致伸缩系数。当B靶的射频溅射功率大于30 W时,薄膜的矫... 采用磁控共溅射法制备FeGaB合金薄膜,FeGa靶的溅射功率为40 W,通过调整B靶的溅射功率来调控薄膜的成分。结果表明,制备出的FeGaB薄膜厚度均匀,呈非晶态,具有较小的矫顽力和较大的磁致伸缩系数。当B靶的射频溅射功率大于30 W时,薄膜的矫顽力H_(c)降低到2.1 Oe左右。B靶溅射功率增大时,B元素的含量增大,FeGaB薄膜的磁致伸缩系数先增大后减小。当溅射功率为40 W时、B元素含量为11.9%,FeGaB薄膜的磁致伸缩系数达到64 ppm。 展开更多
关键词 FeGaB薄膜 磁控溅射 B靶溅射功率 矫顽力
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