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题名重塑土室内制样技术对比研究
被引量：48
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作者
郑剑锋
马巍
赵淑萍
蒲毅彬
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机构
中国科学院寒区旱区环境与工程研究所冻土工程国家重点实验室
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出处
《冰川冻土》
CSCD
北大核心
2008年第3期494-500,共7页
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基金
国家自然科学基金项目(40501016)
国家自然科学基础人才培养基金冰川学冻土学特殊学科点项目(J0630966)资助
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文摘
通过对兰州黄土和北麓河粘土以不同制样方法进行重塑土样的制备,对比了不同制样技术所得土样各层的干密度及含水量分布情况,确定了制作均匀样品的较为适宜的制样方法.结果表明:两头压实法所制得的样品其干密度和含水量的分布较为均匀,分布较有规律,能得到初始损伤较小的试样,比分层击实法及泥浆法更容易控制试样的均匀性.对两头压实法而言,压制时间不同,对于试样整体的均匀性也有影响.对于粘粒含量较高的土,用两头压实法较短时间即可获得较均匀的试样.
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关键词
重塑土
干密度
含水量
制样技术
试样均匀性
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Keywords
remolded soil
dry density
moisture content
specimen-preparing technique
uniformity of soilsample
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分类号
TU411
[建筑科学—岩土工程]
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题名制样方法对重塑黄土单轴抗拉强度影响的初探
被引量：24
- 2
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作者
胡海军
蒋明镜
赵涛
彭建兵
李红
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机构
同济大学地下建筑与工程系
同济大学岩土及地下工程教育部重点实验室
长安大学地质工程与测绘学院
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出处
《岩土力学》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第S2期196-199,共4页
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基金
国家自然科学基金项目(No.50679057)
国家自然科学基金项目(No.40534021)
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文摘
研究了重塑黄土的2种制样方法对其单轴抗拉强度的影响,第1种制样方法是用标准击样法制取重塑黄土三轴试样(试样1),第2种方法应用轻型击实仪击实得到大块样。然后,在切样器上水平方向取样得到重塑黄土三轴试样(试样2)。试样1分层面与拉力方向垂直,试样2分层面与拉力方向平行。单轴抗拉试验结果表明,层面会对其抗拉强度产生影响,试样2抗拉强度较高,试样1抗拉强度较低。
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关键词
重塑黄土
制样方法
抗拉强度
层面
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Keywords
remolded loess
specimen-preparing technique
tensile strength
layer interfaces
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分类号
TU444
[建筑科学—岩土工程]
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题名“楔形”TEM样品的机械研磨制备技术
被引量：3
- 3
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作者
张启华
赵燕丽
高强
李明
牛崇实
简维廷
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机构
中芯国际集成电路制造有限公司
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第3期248-251,共4页
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文摘
介绍了一种用机械研磨法制备集成电路TEM楔形样品的技术,讨论了该制样技术所需注意的关键点,并给出了判断样品薄区是否满足TEM分析要求的两种方法。楔形样品减薄技术兼具制样速度快和样品质量好的优点。该技术既可用于制备非定点TEM样品,也可用于制备定点的TEM样品。给出了用该技术制备的定点失效的MOS器件TEM照片。熟练的技术人员可以用此方法在半小时内完成一个样品的制备。
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关键词
机械研磨
透射电子显微镜
样品制备
“楔形”机械研磨
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Keywords
polish
TEM
specimen preparation technique
wedge polish
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名适用于深沟槽结构观测的TEM样品制备技术
被引量：1
- 4
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作者
张启华
高强
李明
牛崇实
简维廷
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机构
中芯国际集成电路制造有限公司
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第2期169-171,共3页
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文摘
对于深沟槽DRAM电容这类纵向深度深(超过5μm)但是平面尺寸又很小(小于0.2μm×0.2μm)的结构来说,传统的TEM制样方法,无法满足其细微结构全面观测的需求,此外传统的方法制样也比较费时,成功率也比较低。介绍了一种"FIB横向切割"技术,适用于对这类结构的观测。它与传统FIB制样方法的主要区别在于,切割方向由纵向切割改为横向切割。用这种方法制备的TEM样品,可以完整地观测同一个深沟槽DRAM电容结构的所有细微结构。制样过程比较简单、速度快、成功率高。以一个实例分析、比较了传统制样方法和新的制样方法,突显了"FIB横向切割"技术的优点。
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关键词
透射电子显微镜
样品制备技术
聚焦离子束
动态随机存储器电容
横向切割
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Keywords
TEM
specimen preparation technique
FIB
DRAM capacitor
transverse cut
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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