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硅各向异性腐蚀速率图的模拟 被引量:8
1
作者 张佩君 黄庆安 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2002年第1期89-92,共4页
利用数学软件 MATLAB,对三维中的向量进行插值计算。根据硅各向异性腐蚀特点 ,构造出了一个完整的硅各向异性腐蚀速率图。模拟结果与已有的实验数据进行了比较 。
关键词 腐蚀速率 各向异性腐蚀 MATLAB
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SF_6/O_2/CHF_3混合气体对硅材料的反应离子刻蚀研究 被引量:7
2
作者 周宏 赖建军 +3 位作者 赵悦 柯才军 张坤 易新建 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第6期28-31,共4页
采用统计实验方法研究了利用SF6/O2/CHF3混合气体产生的等离子体进行硅的反应离子刻蚀技术。为了优化刻蚀条件,将刻蚀速率和选择比表示为SF6、O2、CHF3各自的流量以及气压和射频功率的函数。文中讨论了各种变量的变化对刻蚀速率和选择... 采用统计实验方法研究了利用SF6/O2/CHF3混合气体产生的等离子体进行硅的反应离子刻蚀技术。为了优化刻蚀条件,将刻蚀速率和选择比表示为SF6、O2、CHF3各自的流量以及气压和射频功率的函数。文中讨论了各种变量的变化对刻蚀速率和选择比的影响以及刻蚀机理,证实了加入CHF3可以显著地减小表面粗糙的结论。 展开更多
关键词 反应离子刻蚀 刻蚀速率 选择比
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Microtrenching effect of SiC ICP etching in SF_6/O_2 plasma 被引量:5
3
作者 丁瑞雪 杨银堂 韩茹 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第1期100-102,共3页
Inductively coupled plasma (ICP) etching of single crystal 6H-silicon carbide (SIC) is investigated using oxygen (O2)-added sulfur hexafluoride (SF6) plasmas. The relations between the microtrenching effect an... Inductively coupled plasma (ICP) etching of single crystal 6H-silicon carbide (SIC) is investigated using oxygen (O2)-added sulfur hexafluoride (SF6) plasmas. The relations between the microtrenching effect and ICP coil power, the composition of the etch gases and different bias voltages are discussed. Experimental results show that the microtrench is caused by the formation of a SiFxOy layer, which has a greater tendency to charge than SiC, after the addition of O2. The microtrenching effect tends to increase as the ICP coil power and bias voltage increase. In addition, the angular distribution of the incident ions and radicals also affects the shape of the microtrench. 展开更多
关键词 silicon carbide microtrenching effect inductively coupled plasma etch rate
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利用p型(100)硅片制备二维光子晶体的工艺 被引量:5
4
作者 张晚云 季家榕 +2 位作者 袁晓东 叶卫民 朱志宏 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期941-946,共6页
采用电化学腐蚀法并结合光刻、反应离子刻蚀以及碱性腐蚀等技术,在p型(100)硅基底中制备了大深宽比的二维大孔硅光子晶体,其二维周期性结构的晶格常数为3.8μm,孔隙直径约3.0μm,孔隙深度超过80μm.在光刻、反应离子刻蚀及碱性... 采用电化学腐蚀法并结合光刻、反应离子刻蚀以及碱性腐蚀等技术,在p型(100)硅基底中制备了大深宽比的二维大孔硅光子晶体,其二维周期性结构的晶格常数为3.8μm,孔隙直径约3.0μm,孔隙深度超过80μm.在光刻、反应离子刻蚀及碱性腐蚀所刻印的V形尖坑阵列的基础上,采用优化的电化学腐蚀参数能制备出周期性好、深宽比大、表/侧面光滑的高品质光子晶体结构,并从理论上利用数值模拟的方法证明了该样品结构在归一化频率位于0.162~0.205ωα/(2πc)范围内存在光子带隙. 展开更多
关键词 大孔硅 光子晶体 光子禁带 制备 碱性腐蚀 电化学腐蚀
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6H-SiC体材料在SF6/O2混合气体中的ICP刻蚀 被引量:6
5
作者 丁瑞雪 杨银堂 韩茹 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期343-346,共4页
采用SF6/O2作为刻蚀气体,对单晶6H-SiC材料的感应耦合等离子体(ICP)刻蚀工艺进行了研究。分析了ICP功率、偏置电压、气体混合比等工艺参数对刻蚀速率和刻蚀质量的影响。结果表明,刻蚀速率随着ICP功率及偏置电压的增大而提高,刻蚀表面质... 采用SF6/O2作为刻蚀气体,对单晶6H-SiC材料的感应耦合等离子体(ICP)刻蚀工艺进行了研究。分析了ICP功率、偏置电压、气体混合比等工艺参数对刻蚀速率和刻蚀质量的影响。结果表明,刻蚀速率随着ICP功率及偏置电压的增大而提高,刻蚀表面质量随偏置电压及O2的含量的增大而降低,而ICP功率的变化对刻蚀质量影响不大。混合气体中O2含量为20%时刻蚀速率达到最大值,同时加入氧气后形成易于充电的SiFxOy中间层,从而促进了微沟槽的形成。 展开更多
关键词 碳化硅 感应耦合等离子体 刻蚀速率 微沟槽
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Study on the Performance of PECVD Silicon Nitride Thin Films 被引量:4
6
作者 LIU Liang LIU Weiguo +1 位作者 CAO Na CAI Changlong 《Defence Technology(防务技术)》 SCIE EI CAS 2013年第2期152-159,共8页
Mechanical properties and corrosion resistance of Si3N4 films are studied by using different experiment parameters, such as plasma enhanced chemical vapor deposition(PECVD) RF power, ratio of reaction gas, reaction pr... Mechanical properties and corrosion resistance of Si3N4 films are studied by using different experiment parameters, such as plasma enhanced chemical vapor deposition(PECVD) RF power, ratio of reaction gas, reaction pressure and working temperature. The etching process of Si3N4 is studied by inductively coupled plasma (ICP) with a gas mixture of SF6 and O2. The influence of the technique parameters, such as ICP power, DC bias, gas composition, total flow rate, on the etching selectivity of Si3N4/EPG533 which is used as a mask layer and the etching rate of Si3N4 is studied, in order to get a better etching selectivity of Si3N4/EPG533 with a faster etching rate of Si3N4. The optimized process parameters of etching Si3N4 by ICP are obtained after a series of experiments and analysis. Under the conditions of total ICP power of 250 W, DC bias of 50W, total flow rate of 40 sccm and O2 composition of 30%, the etching selectivity of 2.05 can be reached when Si3N4 etching rate is 336 nm/min. 展开更多
关键词 electron technology silicon nitride STRESS inductively coupled plasma etch rate SELECTIVITY
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氮化硅的ECCP刻蚀特性研究 被引量:5
7
作者 白金超 王静 +5 位作者 赵磊 张益存 郭会斌 曲泓铭 宋勇志 张亮 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2017年第7期533-537,共5页
本文对氮化硅的增强电容耦合等离子刻蚀进行研究,为氮化硅刻蚀工艺的优化提供参考。针对SF_6+O_2气体体系,通过设计实验考察了功率、压强、气体比、氦气等对刻蚀速率和均一性的影响,并对结果进行机理分析和讨论。实验结果表明:功率越大... 本文对氮化硅的增强电容耦合等离子刻蚀进行研究,为氮化硅刻蚀工艺的优化提供参考。针对SF_6+O_2气体体系,通过设计实验考察了功率、压强、气体比、氦气等对刻蚀速率和均一性的影响,并对结果进行机理分析和讨论。实验结果表明:功率越大,刻蚀速率越大,与源极射频电力相比,偏置射频电力对刻蚀速率的影响更为显著;压强增大,刻蚀速率增大,但压强增大到一定程度后,刻蚀速率基本不变,刻蚀均匀性随着压强增大而变差;在保证SF_6/O_2总流量保持不变下,O_2的比例增大,刻蚀速率先增大后减小,刻蚀均匀性逐步变好;He的添加可以改善刻蚀均匀性,但He的添加量过多时,会造成刻蚀速率降低。 展开更多
关键词 氮化硅 增强电容耦合等离子刻蚀 刻蚀速率
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多晶硅表面绒面的制备及优化 被引量:4
8
作者 郎芳 刘伟 +2 位作者 孙小娟 王志国 张红妹 《电气技术》 2009年第8期117-119,共3页
本论文依据多晶硅结构的特点,对多晶硅表面绒面的制备进行研究并优化制绒工艺。酸绒面的制备可以改善多晶硅表面减反射效果。在合适的反应条件下用酸腐蚀的方法可以在硅片上制备出减反射效果良好的绒面,并且工艺简单、成本低,适合于工... 本论文依据多晶硅结构的特点,对多晶硅表面绒面的制备进行研究并优化制绒工艺。酸绒面的制备可以改善多晶硅表面减反射效果。在合适的反应条件下用酸腐蚀的方法可以在硅片上制备出减反射效果良好的绒面,并且工艺简单、成本低,适合于工业的实际生产和应用。连续生产过程中不断添加一定比例的腐蚀液会使多晶硅片在一个相当长的范围内达到稳定的制绒效果。并且通过控制腐蚀深度可以得到好的短路电流,进而增大电池的光电转换效率。 展开更多
关键词 多晶硅 酸腐蚀 表面绒面 最优化
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硅光工艺特殊性分析 被引量:4
9
作者 郭进 肖志雄 +2 位作者 冯俊波 朱继光 陈世杰 《微纳电子与智能制造》 2019年第3期48-54,共7页
硅光集成技术结合了以微电子为代表的集成电路技术的超大规模集成、超高精度制造的特性和光子技术超高速率、超低功耗的优势。基于互补金属化合物半导体(CMOS)工艺开发面向硅光芯片的工艺是硅光技术快速面向市场应用的最优方法。对比CMO... 硅光集成技术结合了以微电子为代表的集成电路技术的超大规模集成、超高精度制造的特性和光子技术超高速率、超低功耗的优势。基于互补金属化合物半导体(CMOS)工艺开发面向硅光芯片的工艺是硅光技术快速面向市场应用的最优方法。对比CMOS工艺,针对硅光器件的特殊性,分析了与CMOS工艺兼容的硅光工艺开发所面临的挑战,例如波导刻蚀粗糙度和深度的控制、锗外延生长、接触孔的刻蚀、铜互连以及光学临近效应矫正(OPC)等。 展开更多
关键词 硅光 CMOS 波导刻蚀 铜互连 光学临近效应矫正
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无氨氮化硅薄膜在MEMS硅腐蚀中的应用 被引量:2
10
作者 胥超 徐永青 杨志 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2014年第3期194-197,202,共5页
研究了等离子体增强化学汽相淀积(PECVD)生长的无氨氮化硅薄膜作为掩蔽层在MEMS硅腐蚀工艺中的应用。比较了PECVD不同工艺条件(衬底温度和功率)以及不同四甲基氢氧化铵(TMAH)硅腐蚀液温度对无氨氮化硅薄膜硅腐蚀掩蔽效果的影响。通过优... 研究了等离子体增强化学汽相淀积(PECVD)生长的无氨氮化硅薄膜作为掩蔽层在MEMS硅腐蚀工艺中的应用。比较了PECVD不同工艺条件(衬底温度和功率)以及不同四甲基氢氧化铵(TMAH)硅腐蚀液温度对无氨氮化硅薄膜硅腐蚀掩蔽效果的影响。通过优化无氨氮化硅薄膜生长条件和硅腐蚀液温度,得到了高质量的氮化硅薄膜,颗粒以及针孔密度较少,0.2μm以上颗粒度小于100,提高了硅腐蚀掩蔽选择比。实验结果显示优化生长条件的氮化硅薄膜(衬底温度350℃,功率30 W),在85℃的TMAH硅腐蚀液中,硅的腐蚀速率为68μm/h,氮化硅薄膜腐蚀速率为33.2 nm/h,硅与氮化硅的腐蚀选择比为2 048,满足MEMS体硅腐蚀工艺对于掩膜特性的要求。 展开更多
关键词 无氨氮化硅 硅腐蚀 等离子体增强化学汽相淀积(PECVD) 腐蚀比 颗粒
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多晶硅制绒工艺研究 被引量:3
11
作者 李艳芝 周水生 刘东林 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第S1期368-371,共4页
本文讨论了多晶硅制绒工艺技术,对比多晶硅在碱混合液和酸混合液中制绒,酸溶液制绒能更好的改善多晶硅表面减反射作用。采用显微镜及模拟日光器对电池性能检测分析,结果表明,不同绒面的多晶硅电池电学性能参数存在差异,并对多晶硅的最... 本文讨论了多晶硅制绒工艺技术,对比多晶硅在碱混合液和酸混合液中制绒,酸溶液制绒能更好的改善多晶硅表面减反射作用。采用显微镜及模拟日光器对电池性能检测分析,结果表明,不同绒面的多晶硅电池电学性能参数存在差异,并对多晶硅的最佳刻蚀深度进行了总结。 展开更多
关键词 制绒 多晶硅 刻蚀深度 转换效率
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Dependence of wet etch rate on deposition,annealing conditions and etchants for PECVD silicon nitride film 被引量:1
12
作者 唐龙娟 朱银芳 +5 位作者 杨晋玲 李艳 周威 解婧 刘云飞 杨富华 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第9期151-154,共4页
The influence of deposition, annealing conditions, and etchants on the wet etch rate of plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) silicon nitride thin film is studied. The deposition source gas flow rate and... The influence of deposition, annealing conditions, and etchants on the wet etch rate of plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) silicon nitride thin film is studied. The deposition source gas flow rate and annealing temperature were varied to decrease the etch rate of SiNx:H by HF solution. A low etch rate was achieved by increasing the SiH4 gas flow rate or annealing temperature, or decreasing the NH3 and N2 gas flow rate. Concentrated, buffered, and dilute hydrofluoric acid were utilized as etchants for Sit2 and SiNx:H. A high etching selectivity of Sit2 over SiNx:H was obtained using highly concentrated buffered HE 展开更多
关键词 plasma enhanced chemical vapor deposition silicon nitride HF solution etch rate
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Impact of thermal history of spherical silicon crystal on its crystal quality
13
作者 TSUJIYA Kaoru MINEMOTO Takashi +2 位作者 MUROZONO Mikio TAKAKURA Hideyuki HAMAKAWA Yoshihiro 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 2006年第z1期127-132,共6页
Spherical Si solar cells were fabricated based on multicrystalline Si spheres produced by a dropping method. The thermal history of Si spheres were calculated by numerical simulation. The simulation result reveals tha... Spherical Si solar cells were fabricated based on multicrystalline Si spheres produced by a dropping method. The thermal history of Si spheres were calculated by numerical simulation. The simulation result reveals that heat transfered by convection is greater than heat transfered by radiation. Considering the calculation results, Si spheres were dropped in the free-fall tower at low pressure state (0.2×105-0.5×105 Pa) to slow heat transfer by convection. After dash etching for 60 min, low pressure Si spheres have less etch pits, i.e., 80% for etch pit density and 8% for etch pit-area ratio compared to normal one. Furthermore, the conversion efficiency was improved from 6.57% (normal pressure spherical Si solar cell) to 9.56% (low one), which is 45% relative increase. The improvement is due to decrease of undercooling and increase of crystal growth duration. These results demonstrate that the dropping method at low pressure state is useful for fabricating high performance spherical Si solar cells. 展开更多
关键词 solar cell SPHERE silicon UNDERCOOLING low pressure thermal history etch pit
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双极IC接触电阻改善研究
14
作者 赵铝虎 阚志国 《微处理机》 2015年第2期4-6,共3页
给出了一种解决双极集成电路在生产中欧姆接触偏大的问题,特别是双极集成电路P型接触偏大的问题解决方法。针对双极集成电路在批量生产过程中P型欧姆接触偏大的现象作了分析,并根据所积累的专业经验,在生产工艺过程中安排了过腐蚀、soft... 给出了一种解决双极集成电路在生产中欧姆接触偏大的问题,特别是双极集成电路P型接触偏大的问题解决方法。针对双极集成电路在批量生产过程中P型欧姆接触偏大的现象作了分析,并根据所积累的专业经验,在生产工艺过程中安排了过腐蚀、soft-etch,混酸腐蚀硅等专项实验,找到问题的原因和解决方法。通过长时间以及大批量生产实践的检验,这种方法对改善双极集成电路中P型接触电阻非常有效,因此对提高双极集成电路的工艺控制稳定性具有重要意义。 展开更多
关键词 双极集成电路 欧姆接触 硅刻蚀 湿法腐蚀 工艺控制
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硅尖的制备及在传感器技术中的应用 被引量:1
15
作者 王艳华 王明亮 +1 位作者 孙道恒 马海阳 《传感器技术》 CSCD 北大核心 2003年第6期58-61,共4页
介绍了硅尖的制备及其在传感器技术中的应用。硅尖的制备方法可与现代IC工艺兼容且易削尖,故比其它材料微尖更实用。硅尖的应用随着制备工艺的改进与其它相关技术的进步必将得到新的开发。
关键词 硅尖 刻蚀 微加工技术 传感器
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电化学制备P型硅基二维光子晶体优化参数 被引量:1
16
作者 张晚云 季家榕 +2 位作者 袁晓东 叶卫民 朱志宏 《电化学》 CAS CSCD 北大核心 2005年第4期377-381,共5页
利用光刻技术与碱性腐蚀等工艺预写晶格图样,采用电化学腐蚀方法在P〈100〉型硅基底制备二维大孔硅光子禁带结构.结果表明:在预写有晶格图样的P〈100〉型硅基底上由电化学阳极氧化制备的二维大孔硅,其孔洞的生长速率、深宽比及表/侧面... 利用光刻技术与碱性腐蚀等工艺预写晶格图样,采用电化学腐蚀方法在P〈100〉型硅基底制备二维大孔硅光子禁带结构.结果表明:在预写有晶格图样的P〈100〉型硅基底上由电化学阳极氧化制备的二维大孔硅,其孔洞的生长速率、深宽比及表/侧面形貌与电解质配比方案及阳极电流密度均密切相关.在优化的电化学工艺参数下得到的空气洞阵列,具有近乎完美的二维四方晶格,晶格常数为3.8μm,孔洞直径约3.0μm,孔洞深宽约90μm,深宽比达30.该方法可用于制备在中红外或近红外波段具有完全二维光子带隙的光子晶体. 展开更多
关键词 大孔硅 光子晶体 制备 电化学腐蚀法 参数 优化
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KOH蚀液的PN结自致蚀停技术研究 被引量:1
17
作者 汤玉生 沈志广 +3 位作者 戴庆元 凌行 颜景沪 徐秀琴 《微细加工技术》 1997年第2期43-48,共6页
KOH碱性蚀液的PN结自致蚀停电化学腐蚀技术是制备硅三维微结构的基本方法之一。本文详细研究了它在90℃的PN结自致蚀停的基本特性,并发展了一种简化的三电极系统。该新的系统既保持了双电极系统的简便性又具备四电极系统可防错误腐蚀... KOH碱性蚀液的PN结自致蚀停电化学腐蚀技术是制备硅三维微结构的基本方法之一。本文详细研究了它在90℃的PN结自致蚀停的基本特性,并发展了一种简化的三电极系统。该新的系统既保持了双电极系统的简便性又具备四电极系统可防错误腐蚀终止的功能。新系统PN结偏置独立回路中的监测电流和电压均能给出明显的腐蚀终止指示。实验结果和分析表明,用这种新的系统或四电极系统进行微机械加工时.加工样品的PN结结面应和腐蚀窗口面积接近,才能确保腐蚀终止指示的明显化。 展开更多
关键词 硅微结构 电化学腐蚀 自致蚀停
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等离子硅刻蚀及其工艺参数的多尺度优化 被引量:1
18
作者 阎军 杨明强 严培 《计算机辅助工程》 2014年第5期84-87,共4页
用CFD-ACE+和CFD-TOPO分别对容性耦合等离子体反应腔室放电和等离子硅刻蚀过程进行仿真,讨论不同射频电压和腔室条件对等离子体特性的影响.结果表明:随着射频电压的升高,离子的通量增大;在低射频电压时,离子通量随腔室压强的升高而减小... 用CFD-ACE+和CFD-TOPO分别对容性耦合等离子体反应腔室放电和等离子硅刻蚀过程进行仿真,讨论不同射频电压和腔室条件对等离子体特性的影响.结果表明:随着射频电压的升高,离子的通量增大;在低射频电压时,离子通量随腔室压强的升高而减小,而在高射频电压时趋势则相反.用Kriging模型对影响刻蚀形貌的参数(腔室压强和射频电压)进行优化,结果表明该优化方法可以为工艺条件相近的刻蚀机设备的设计提供参考. 展开更多
关键词 硅刻蚀 容性耦合等离子体 射频电压 腔室压强 KRIGING模型 优化
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IGBT深槽刻蚀氮化硅硬掩膜制作工艺研究
19
作者 袁寿财 韩建强 +3 位作者 荣垂才 武华 李梦超 王兴权 《赣南师范大学学报》 2019年第6期58-61,共4页
硅基深槽刻蚀是槽栅IGBT器件的基本结构,也是确保器件性能的关键工艺,氮化硅硬掩蔽膜质量对于硅基深槽刻蚀起着重要的作用.本文采用低压化学气相淀积(LPCVD)工艺淀积氮化硅薄膜,具有均匀性好,而且呈现较大的张应力,可以补偿二氧化硅缓... 硅基深槽刻蚀是槽栅IGBT器件的基本结构,也是确保器件性能的关键工艺,氮化硅硬掩蔽膜质量对于硅基深槽刻蚀起着重要的作用.本文采用低压化学气相淀积(LPCVD)工艺淀积氮化硅薄膜,具有均匀性好,而且呈现较大的张应力,可以补偿二氧化硅缓冲层的压应力,有效地解决了硅-二氧化硅-氮化硅夹心结构的应力问题.分析比较了工艺参数,如气体流量、淀积环境的压强、温度等,对氮化硅薄膜生长速率及膜厚的影响,获得了氮化硅薄膜淀积的优化工艺参数. 展开更多
关键词 低压化学气相淀积 氮化硅 硅槽 刻蚀
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硅尖的制备及应用
20
作者 王艳华 马海阳 孙道恒 《微电子技术》 2003年第5期60-64,共5页
本文介绍了硅尖的制备及其在不同领域的应用。硅尖的制备方法可与现代IC工艺兼容且易削尖 ,故比其它材料微尖更实用。
关键词 硅尖 刻蚀 微加工技术
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