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Cu-Al-Mg合金表面氧化膜分析 被引量：1
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作者 潘奇汉 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第3期374-377,共4页
利用俄歇能谱、X射线电子能谱和扫描电镜对Cu Al Mg合金表面氧化膜进行了分析。结果表明 :氧化膜由MgO和Al2 O3 组成 ;没有进行过氧化处理的样品膜内的Al和O含量高于进行过氧化处理的样品 ,而Mg则相反 ;Al2 O3 的键合能E2 p3 / 2 值大于... 利用俄歇能谱、X射线电子能谱和扫描电镜对Cu Al Mg合金表面氧化膜进行了分析。结果表明 :氧化膜由MgO和Al2 O3 组成 ;没有进行过氧化处理的样品膜内的Al和O含量高于进行过氧化处理的样品 ,而Mg则相反 ;Al2 O3 的键合能E2 p3 / 2 值大于MgO的E2 p3 / 2 值 ,表明Al2 O3 不易被分解 ;进行电子轰击后 ,膜内Mg含量减少 ,MgO被部分分解 ,而Al则增加。由MgO和Al2 O3 组成的复合型氧化膜使得合金既具有高的二次电子发射系数又有长的寿命 ,因此 ,Cu Al Mg合金是一种理想的二次电子发射材料。 展开更多
关键词 Cu-Al-Mg合金 表面分析 二次电子发射材料
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