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题名微控制器硅后全自动验证系统的设计
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作者
何继爱
苟斌
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机构
兰州理工大学计算机与通信学院
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出处
《兰州理工大学学报》
CAS
北大核心
2023年第3期104-108,共5页
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基金
国家自然科学基金(61561031)。
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文摘
硅后验证是寻找硅前阶段逃逸错误的关键环节,随着微控制器复杂性的提高,面对大量的测试用例和参数,使该过程变得低效且耗时.针对该问题,提出一个基于上下位机协同实现的微控制器硅后全自动验证系统.系统下位机为待测硬件平台,上位机在Unittest基础上设计了TLV(type-length-value)报文协议,用Pyvisa和Saleae库实现了示波器和逻辑分析仪的自动控制,用HTMLTestRunner库生成可视化测试报告,用Unittest实现了一键全自动化回归和控制.使用结果表明,该系统测试成本低,测试效率高,复用性强.
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关键词
硅后验证
Unittest
自动控制
回归测试
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Keywords
post-silicon verification
Unittest
auto-control
regression testing
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分类号
TN43
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名超大规模集成电路可调试性设计综述
被引量：3
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作者
钱诚
沈海华
陈天石
陈云霁
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机构
中国科学院计算机系统结构重点实验室
中国科学院计算技术研究所微处理器技术研究中心
中国科学院研究生院
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出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2012年第1期21-34,共14页
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基金
"核高基"国家科技重大专项基金项目(2009EX01028-002-003
2009EX01029-001-003)
+6 种基金
国家自然科学基金项目(60921002
61003064
61050002
61070025
61100163
61133004
61173001)
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文摘
随着硬件复杂度的不断提高和并行软件调试的需求不断增长,可调试性设计已经成为集成电路设计中的重要内容.一方面,仅靠传统的硅前验证已经无法保证现代超大规模复杂集成电路设计验证的质量,因此作为硅后验证重要支撑技术的可调试性设计日渐成为大规模集成电路设计领域的研究热点.另一方面,并行程序的调试非常困难,很多细微的bug无法直接用传统的单步、断点等方法进行调试,如果没有专门的硬件支持,需要耗费极大的人力和物力.全面分析了现有的可调试性设计,在此基础上归纳总结了可调试性设计技术的主要研究方向并介绍了各个方向的研究进展,深入探讨了可调试性结构设计研究中的热点问题及其产生根源,给出了可调试性结构设计领域的发展趋势.
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关键词
调试
验证
硅后验证
并行程序调试
可调试性设计
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Keywords
debug
verification
post-silicon verification
parallel program debugging
design-for-debug
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分类号
TP302
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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