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预应力混凝土斜交连续箱梁设计
被引量:
4
1
作者
涂杨志
《铁道工程学报》
EI
北大核心
2014年第12期52-56,共5页
研究目的:娄底市共荣路上跨娄邵铁路采用(25+40+25)m预应力混凝土斜交连续箱梁,斜交角度为55°,支架现浇施工方法。由于该梁桥面较宽,斜交角度较大,为了对实际结构进行更准确的模拟,本文采用空间梁格及平面单梁两种有限元分析方法...
研究目的:娄底市共荣路上跨娄邵铁路采用(25+40+25)m预应力混凝土斜交连续箱梁,斜交角度为55°,支架现浇施工方法。由于该梁桥面较宽,斜交角度较大,为了对实际结构进行更准确的模拟,本文采用空间梁格及平面单梁两种有限元分析方法对预应力混凝土斜交连续梁进行对比分析研究。研究结论:(1)为方便预应力混凝土斜交连续梁设计,建议采用单梁法设计,空间梁格法进行验证;(2)大角度斜交连续梁跨中最大正弯矩和中支点负弯矩在恒载作用下均小于正桥,但剪滞效应比正交箱梁更为显著,设计时必须充分考虑其剪滞效应;(3)斜交连续梁钝角边侧支点反力比锐角边侧支点反力要大15%左右,设计时特别注意支座的选择及下部结构设计;(4)为增加各箱室之间横向刚度,建议在边跨及中跨设置几道横隔板;箱内可采用两次倒角使其不出现锐角,以消除应力集中现象;梁体建议采用全预应力结构设计,并将梁体普通钢筋适当加强;(5)本研究结论可为预应力混凝土大跨度斜交连续梁桥设计提供参考。
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关键词
斜交连续箱梁
连续梁
空间梁格法
平面单梁法
大角度
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职称材料
基于同步辐射白光形貌术和X射线迹线法的6H-SiC单晶结构缺陷研究
2
作者
胡小波
《广西科学》
CAS
2015年第5期457-461,共5页
[目的]SiC材料结构缺陷的检测和控制是实现材料应用的关键环节,因此本文对6H-SiC单晶中的结构缺陷进行研究。[方法]采用同步辐射白光形貌术观察6H-SiC单晶中的基本螺位错和基平面弯曲,并利用X射线迹线法模拟基本螺位错的形貌和基平面弯...
[目的]SiC材料结构缺陷的检测和控制是实现材料应用的关键环节,因此本文对6H-SiC单晶中的结构缺陷进行研究。[方法]采用同步辐射白光形貌术观察6H-SiC单晶中的基本螺位错和基平面弯曲,并利用X射线迹线法模拟基本螺位错的形貌和基平面弯曲后衍射斑点的形状。[结果]6H-SiC单晶中的典型结构缺陷之一为基本螺位错,它的形貌特征为白色的圆斑;由于热弹应力的存在,6H-SiC单晶在生长过程中容易发生基平面弯曲,结果导致衍射斑点的形状发生改变。[结论]同步辐射白光形貌术和X射线迹线法可以用于检测6H-SiC单晶结构缺陷;样品的基本螺位错密度为1.56×10~4/cm^2,基平面弯曲半径近似为1m。
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关键词
基本螺位错
基平面弯曲
6H-SiC单晶
同步辐射白光形貌术
X射线迹线法
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职称材料
题名
预应力混凝土斜交连续箱梁设计
被引量:
4
1
作者
涂杨志
机构
中铁第四勘察设计院集团有限公司
出处
《铁道工程学报》
EI
北大核心
2014年第12期52-56,共5页
文摘
研究目的:娄底市共荣路上跨娄邵铁路采用(25+40+25)m预应力混凝土斜交连续箱梁,斜交角度为55°,支架现浇施工方法。由于该梁桥面较宽,斜交角度较大,为了对实际结构进行更准确的模拟,本文采用空间梁格及平面单梁两种有限元分析方法对预应力混凝土斜交连续梁进行对比分析研究。研究结论:(1)为方便预应力混凝土斜交连续梁设计,建议采用单梁法设计,空间梁格法进行验证;(2)大角度斜交连续梁跨中最大正弯矩和中支点负弯矩在恒载作用下均小于正桥,但剪滞效应比正交箱梁更为显著,设计时必须充分考虑其剪滞效应;(3)斜交连续梁钝角边侧支点反力比锐角边侧支点反力要大15%左右,设计时特别注意支座的选择及下部结构设计;(4)为增加各箱室之间横向刚度,建议在边跨及中跨设置几道横隔板;箱内可采用两次倒角使其不出现锐角,以消除应力集中现象;梁体建议采用全预应力结构设计,并将梁体普通钢筋适当加强;(5)本研究结论可为预应力混凝土大跨度斜交连续梁桥设计提供参考。
关键词
斜交连续箱梁
连续梁
空间梁格法
平面单梁法
大角度
Keywords
skew
continuous
box
girder
spatial
grillage
method
plane
single
beam
method
big
angle
分类号
U455 [建筑科学—桥梁与隧道工程]
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职称材料
题名
基于同步辐射白光形貌术和X射线迹线法的6H-SiC单晶结构缺陷研究
2
作者
胡小波
机构
山东大学晶体材料国家重点实验室
出处
《广西科学》
CAS
2015年第5期457-461,共5页
基金
国家自然科学基金项目(11134006
61327808)资助
文摘
[目的]SiC材料结构缺陷的检测和控制是实现材料应用的关键环节,因此本文对6H-SiC单晶中的结构缺陷进行研究。[方法]采用同步辐射白光形貌术观察6H-SiC单晶中的基本螺位错和基平面弯曲,并利用X射线迹线法模拟基本螺位错的形貌和基平面弯曲后衍射斑点的形状。[结果]6H-SiC单晶中的典型结构缺陷之一为基本螺位错,它的形貌特征为白色的圆斑;由于热弹应力的存在,6H-SiC单晶在生长过程中容易发生基平面弯曲,结果导致衍射斑点的形状发生改变。[结论]同步辐射白光形貌术和X射线迹线法可以用于检测6H-SiC单晶结构缺陷;样品的基本螺位错密度为1.56×10~4/cm^2,基平面弯曲半径近似为1m。
关键词
基本螺位错
基平面弯曲
6H-SiC单晶
同步辐射白光形貌术
X射线迹线法
Keywords
elementary
screw
dislocation
basal
plane
bending
6H-SiC
single
crystal
synchro-tron
radiation
white-
beam
topography
X-ray
tracing
method
分类号
TG111.2 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
预应力混凝土斜交连续箱梁设计
涂杨志
《铁道工程学报》
EI
北大核心
2014
4
下载PDF
职称材料
2
基于同步辐射白光形貌术和X射线迹线法的6H-SiC单晶结构缺陷研究
胡小波
《广西科学》
CAS
2015
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
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参考文献
引证文献
统计分析
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