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二分图约束的顶点覆盖问题的快速算法 被引量：1
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作者 何峰 车文刚 《昆明理工大学学报（理工版）》 2003年第5期85-89,共5页
对超大规模集成电路芯片 (VLSI)的缺陷修复可归结为受二分图约束的顶点覆盖问题 ,该问题属于NP完全问题 .目前仍不能在多项式时间内对该问题求解 .本文应用参数计算理论 ,将问题化简为与输入问题规模无关的问题来求解 .并利用二分图的特... 对超大规模集成电路芯片 (VLSI)的缺陷修复可归结为受二分图约束的顶点覆盖问题 ,该问题属于NP完全问题 .目前仍不能在多项式时间内对该问题求解 .本文应用参数计算理论 ,将问题化简为与输入问题规模无关的问题来求解 .并利用二分图的特性 ,提出了一种简单、高效的算法 。 展开更多
关键词 超大规模集成电路芯片 二分图 顶点覆盖问题 NP完全问题 参数算法 缺陷修复 搜索树
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