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基于H参量模型的外腔激光器双稳特性分析
被引量:
1
1
作者
黄立平
潘炜
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期647-650,共4页
采用H参量模型,导出了外腔激光器(ECLD)调谐范围内双稳环的环宽解析式以及决定双稳环存在条件的倾斜因子表达式;数值模拟了剩余反射率对倾斜因子的影响,并比较了引入倾斜因子前后的环宽。结果表明,在调谐范围内偏离增益峰值的频率处不...
采用H参量模型,导出了外腔激光器(ECLD)调谐范围内双稳环的环宽解析式以及决定双稳环存在条件的倾斜因子表达式;数值模拟了剩余反射率对倾斜因子的影响,并比较了引入倾斜因子前后的环宽。结果表明,在调谐范围内偏离增益峰值的频率处不仅存在双稳环,而且环宽极大值可达以往计算结果的2倍,环宽极大值位于两种环宽相等的频率处;同时发现环宽极大值随剩余反射率减小向低频移动,频率大于增益峰值时双稳环因倾斜因子的影响可能提前消失。
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关键词
激光技术
H参量模型
双稳特性
归一化环宽
倾斜因子
剩余反射率
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职称材料
题名
基于H参量模型的外腔激光器双稳特性分析
被引量:
1
1
作者
黄立平
潘炜
机构
青海民族学院电子工程与信息科学系
西南交通大学信息科学与技术学院
出处
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期647-650,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(10174057
90201011)
+1 种基金
教育部科学技术研究重点项目(105148)
高等学校博士学科点专项科研基金项目(20030613007)
文摘
采用H参量模型,导出了外腔激光器(ECLD)调谐范围内双稳环的环宽解析式以及决定双稳环存在条件的倾斜因子表达式;数值模拟了剩余反射率对倾斜因子的影响,并比较了引入倾斜因子前后的环宽。结果表明,在调谐范围内偏离增益峰值的频率处不仅存在双稳环,而且环宽极大值可达以往计算结果的2倍,环宽极大值位于两种环宽相等的频率处;同时发现环宽极大值随剩余反射率减小向低频移动,频率大于增益峰值时双稳环因倾斜因子的影响可能提前消失。
关键词
激光技术
H参量模型
双稳特性
归一化环宽
倾斜因子
剩余反射率
Keywords
laser
technology
H
parameter
model
bistable
characteristics
normalized
loopwidth
obliquity
factor
residual
reflectivity
分类号
TN248.4 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于H参量模型的外腔激光器双稳特性分析
黄立平
潘炜
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
1
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