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基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究 被引量：2
1
作者 颜学龙 何正亮 陈寿宏 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2016年第12期71-74,79,共5页
以CJTAG标准和JTAG标准为依据,在深入研究这两个标准的基础上,利用Quartus II开发平台和Verilog HDL语言设计了多TAPC结构,并用Modelsim进行仿真验证,结果表明多TAPC结构能够有效地对多TAPC芯片进行测试和调试.
关键词 CJTAG标准 JTAG标准 多tapc结构
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