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GaAs MISFET制备中的选择性腐蚀研究
1
作者
陈宏江
杨瑞霞
+1 位作者
武一宾
杨克武
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第10期22-25,共4页
研究了体积比为1:1到10:1的50%柠檬酸/双氧水溶液对GaAs/AlxGa(?)-xAs结构腐蚀的选择特性, 用α台阶仪、原子力显微镜(AFM)等方法研究了腐蚀样品表面的微观形貌。利用这种选择腐蚀技术制备了undoped-GaAs/n-GaAs调制掺杂沟道金属-绝缘体...
研究了体积比为1:1到10:1的50%柠檬酸/双氧水溶液对GaAs/AlxGa(?)-xAs结构腐蚀的选择特性, 用α台阶仪、原子力显微镜(AFM)等方法研究了腐蚀样品表面的微观形貌。利用这种选择腐蚀技术制备了undoped-GaAs/n-GaAs调制掺杂沟道金属-绝缘体-半导体场效应晶体管,获得了很好的器件特性参数,证明了这种腐蚀溶液适合于器件制备中的栅挖槽工艺。
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关键词
选择湿法腐蚀
柠檬酸
调制掺杂沟道
金属-绝缘体-半导体场效应晶体管
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职称材料
题名
GaAs MISFET制备中的选择性腐蚀研究
1
作者
陈宏江
杨瑞霞
武一宾
杨克武
机构
河北工业大学信息学院
中国电子科技集团公司第
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第10期22-25,共4页
基金
国家预研基金资助项目(51432020103QT4501)河北省自然科学基金资助项目(F2004000078)天津市自然科学基金资助项目(203801411)
文摘
研究了体积比为1:1到10:1的50%柠檬酸/双氧水溶液对GaAs/AlxGa(?)-xAs结构腐蚀的选择特性, 用α台阶仪、原子力显微镜(AFM)等方法研究了腐蚀样品表面的微观形貌。利用这种选择腐蚀技术制备了undoped-GaAs/n-GaAs调制掺杂沟道金属-绝缘体-半导体场效应晶体管,获得了很好的器件特性参数,证明了这种腐蚀溶液适合于器件制备中的栅挖槽工艺。
关键词
选择湿法腐蚀
柠檬酸
调制掺杂沟道
金属-绝缘体-半导体场效应晶体管
Keywords
selective
wet
etching
citric
acid
modulation
-
doped
channel
MISFET
分类号
TN305.2 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
GaAs MISFET制备中的选择性腐蚀研究
陈宏江
杨瑞霞
武一宾
杨克武
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005
0
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参考文献
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