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基于DES理论的数模混合电路故障诊断研究 被引量:4
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作者 刘大伟 鲁昌华 《国外电子测量技术》 2007年第10期26-29,共4页
数模混合电路故障诊断是一个被广泛关注的前沿课题,它面临着许多测试上的难点,解决这个问题意义重大而任务艰巨。由于数模混合电路具备DES的特点,本文采用近来发展的DES理论对数模混合电路进行可测性分析,该法可用一定的算法在计算机上... 数模混合电路故障诊断是一个被广泛关注的前沿课题,它面临着许多测试上的难点,解决这个问题意义重大而任务艰巨。由于数模混合电路具备DES的特点,本文采用近来发展的DES理论对数模混合电路进行可测性分析,该法可用一定的算法在计算机上实现;最后对DES理论在电路测试中的应用进行了实例验证。实验表明:该方法可以有效地进行数模混合电路故障诊断。 展开更多
关键词 数模混合电路 离散事件系统 可测试性 最小测试集
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集成电路测试工艺优化方法 被引量:1
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作者 蔡锷 《信息技术》 2009年第8期162-164,共3页
依据摩尔定律集成电路上可容纳的晶体管数目,约每隔18个月便会增加一倍。若继续采用传统的集成电路测试工艺,则测试时间和测试硬件等因素将使集成电路的测试成本不断增加。旨在对传统的集成电路测试工艺进行优化,提出一种兼顾质量并能... 依据摩尔定律集成电路上可容纳的晶体管数目,约每隔18个月便会增加一倍。若继续采用传统的集成电路测试工艺,则测试时间和测试硬件等因素将使集成电路的测试成本不断增加。旨在对传统的集成电路测试工艺进行优化,提出一种兼顾质量并能有效降低集成电路测试成本的方法。 展开更多
关键词 最低限度测试集合 最优化测试集合 自适应测试集合 预测性的测试集合
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基于DES理论的数模混合电路可测试性研究 被引量:3
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作者 章其波 鲁昌华 蒋薇薇 《微计算机信息》 2003年第2期54-55,共2页
近年来出现的离散事件系统(DES)理论为数模混合电路的测试提供了一种新的解决思路,本文对DES理论在求取数模混合电路的可测试性和最小测试集中的应用进行了论述。该种方法可以在计算机上用C++语言实现。
关键词 数模混合电路 可测试性 DES理论 离散事件系统 C++语言 微电子技术
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Analyzing and Seeking Minimum Test Instruction Set of Digital Signal Processor for Motor Control
4
作者 严伟 曹家麟 龚幼民 《Journal of Shanghai University(English Edition)》 CAS 2005年第2期147-152,共6页
The relativity of instructions of motor control digital signal processor (MCDSP) in the design is analyzed. A method for obtaining a minimum instruction set in plac e of the complete instruction set during generatio... The relativity of instructions of motor control digital signal processor (MCDSP) in the design is analyzed. A method for obtaining a minimum instruction set in plac e of the complete instruction set during generation of testing procedures is giv en in terms of the processor presentation matrix between micro-operators and in structions of MCDSP. 展开更多
关键词 minimum instruction set functional test digital signal processor(DSP).
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关于最小测试集的线性规划松弛近似
5
作者 崔鹏 刘红静 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2005年第10期157-159,166,共4页
目前最小测试集的最佳近似比是贪心算法的2lnn-o(1)。这个近似比能否改进是一个公开的问题。本文讨论了最小测试集的基于线性规划松弛的近似比证明方法的能力问题。我们证明最小测试集的整性间隙至少为0.72lnn,而且最小测试集整性间隙... 目前最小测试集的最佳近似比是贪心算法的2lnn-o(1)。这个近似比能否改进是一个公开的问题。本文讨论了最小测试集的基于线性规划松弛的近似比证明方法的能力问题。我们证明最小测试集的整性间隙至少为0.72lnn,而且最小测试集整性间隙的系数可以与最小集合覆盖的整性间隙的系数一样大。另外,我们说明加权最小测试集的贪心算法的近似比不能通过对偶拟合方法改进超过一个常数。 展开更多
关键词 最小测试集 贪心算法 整性间隙 对偶拟合 线性规划松弛 测试集 近似比 最小 贪心算法 证明方法 集合覆盖 拟合方法 间隙
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MC/DC最小测试用例集快速生成算法 被引量:6
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作者 段飞雷 吴晓 +1 位作者 张凡 董云卫 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2009年第17期40-42,45,共4页
以条件判定组合的语法树为研究对象,总结语法树的左右分支对判定结果的影响方式及结果,根据其影响特点提出超越语法树的快速生成改进判定/条件覆盖最小测试用例集的算法。与其他算法在在空间及时间方面进行比较,结果表明该算法具有一定... 以条件判定组合的语法树为研究对象,总结语法树的左右分支对判定结果的影响方式及结果,根据其影响特点提出超越语法树的快速生成改进判定/条件覆盖最小测试用例集的算法。与其他算法在在空间及时间方面进行比较,结果表明该算法具有一定的优越性。 展开更多
关键词 改进判定 条件覆盖 最小测试用例集 快速生成算法
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MC/DC准则在嵌入式软件测试中的应用 被引量:6
7
作者 安媛 陆云峰 《自动化仪表》 CAS 2019年第6期76-79,共4页
MC/DC准则被广泛应用于高安全性的嵌入式软件独立验证和确认中,是一种实用而高效的软件结构覆盖率验证准则。基于嵌入式软件测试的特点与MC/DC的基本概念,提出了MC/DC的最小测试集的形成方法。结合工程应用实例,利用自动化测试工具实现M... MC/DC准则被广泛应用于高安全性的嵌入式软件独立验证和确认中,是一种实用而高效的软件结构覆盖率验证准则。基于嵌入式软件测试的特点与MC/DC的基本概念,提出了MC/DC的最小测试集的形成方法。结合工程应用实例,利用自动化测试工具实现MC/DC测试流程。MC/DC准则在核电仪控系统中的成功应用,对于航空、军工、机器人等高安全性和高可靠性领域有着很好的借鉴作用。 展开更多
关键词 嵌入式软件 软件测试 MC/DC 结构覆盖 逻辑控制 仪控 VectorCAST 最小测试用例集
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MC/DC最小测试用例集递归分块矩阵生成算法 被引量:2
8
作者 葛汉强 《计算机系统应用》 2011年第7期195-198,共4页
测试用例个数可以影响软件测试的成本与效率,因此最小测试用例集的生成算法具有重要的实用价值。对布尔表达式语法树采用递归分块矩阵处理,得到了MC/DC最小测试用例集生成算法。并证明了该算法的正确性,给出其成立的前提条件。
关键词 MC/DC 最小测试用例集 递归分块矩阵 生成算法
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基于EFSM的最小测试用例集生成方法 被引量:1
9
作者 陈孔婷 王兴起 《计算机工程与设计》 北大核心 2019年第9期2502-2506,共5页
影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合... 影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合并迁移覆盖算法输出的集合,得到最小测试用例集。实验结果表明,所提方法得到的最小测试用例集,降低了测试成本,提高了测试效率。 展开更多
关键词 扩展有限状态机 最小测试用例集 迁移覆盖 测试成本 测试效率
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A/D转换器最小完备测试集生成与故障诊断方法研究
10
作者 李玲 王学伟 +1 位作者 杨立国 王琳 《电测与仪表》 北大核心 2014年第3期27-32,共6页
为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试... 为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试集。同时,提出了将A/D转换器数字输出向量在二元域GF(2N)空间中正交分解后分别提取特征量的方法来完成无噪声影响位和噪声影响位的故障识别。通过仿真验证表明:输入A/D转换器的测试电平数量减少了99.9%。本文生成的最小完备测试集不仅能够满足紧凑性条件和完备性条件,而且极大降低了测试向量的冗余度。本文提出的故障诊断方法提高了故障诊断的时间效率和准确度,解决了A/D转换器噪声影响位由于征兆混淆而无法完成故障识别的问题。 展开更多
关键词 A D转换器 最小完备测试集 GF(2N)空间 空间误差值
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