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基于Multi-Capture结构的扫描链优化算法
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作者 桑伟伟 杨军 凌明 《电子器件》 CAS 2004年第1期98-101,共4页
提出了一种基于多扫描链Multi-capture结构的扫描链优化算法,通过构造具有最小相关度的多扫描链结构并利用Multi-capture内部响应复用为激励以侦测故障的原理,达到极大压缩测试向量长度的目的。实验结果表明该优化算法平均优化率可以达... 提出了一种基于多扫描链Multi-capture结构的扫描链优化算法,通过构造具有最小相关度的多扫描链结构并利用Multi-capture内部响应复用为激励以侦测故障的原理,达到极大压缩测试向量长度的目的。实验结果表明该优化算法平均优化率可以达到30％左右。 展开更多
关键词 Multi-capture结构 多扫描链 最小相关度
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