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Electronic structure, optical properties, and lattice dynamics in atomically thin indium selenide flakes 被引量:2
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作者 Juan F. Sanchez-Royo Suillermo Munoz-Matutano +9 位作者 Mauro Brotons-Gisbert Juan P. Martinez-Pastor Alfredo Segura Andres Cantarero Rafael Mata Josep Canet-Ferrer Gerard Tobias Enric Canadell Jose Marques-Hueso Brian D. Gerardot 《Nano Research》 SCIE EI CAS CSCD 2014年第10期1556-1568,共13页
The progressive stacking of chalcogenide single layers gives rise to two- dimensional semiconducting materials with tunable properties that can be exploited for new field-effect transistors and photonic devices. Yet t... The progressive stacking of chalcogenide single layers gives rise to two- dimensional semiconducting materials with tunable properties that can be exploited for new field-effect transistors and photonic devices. Yet the properties of some members of the chalcogenide family remain unexplored. Indium selenide (InSe) is attractive for applications due to its direct bandgap in the near infrared, controllable p- and n-type doping and high chemical stability. Here, we reveal the lattice dynamics, optical and electronic properties of atomically thin InSe flakes prepared by micromechanical cleavage. Raman active modes stiffen or soften in the flakes depending on which electronic bonds are excited. A progressive blue-shift of the photoluminescence peaks is observed for decreasing flake thickness (as large as 0.2 eV for three single layers). First-principles calculations predict an even larger increase in the bandgap, 0.40 eV, for three single layers, and as much as 1.1 eV for a single layer. These results are promising from the point of view of the versatility of this material for optoelectronic applications at the nanometer scale and compatible with Si and III-V technologies. 展开更多
关键词 indium selenide two-dimensional flakes micro-Raman spectroscopy micro-photoluminescence electronic structure
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Formation and Optical Properties of ZnO:ZnFe_(2)O_(4) Superlattice Microwires 被引量:2
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作者 Yun Li Guozhang Dai +9 位作者 Chunjiao Zhou Qinglin Zhang Qiang Wan Limin Fu Jianping Zhang Ruibin Liu Chuanbao Cao Anlian Pan Yunhong Zhang Bingsuo Zou 《Nano Research》 SCIE EI CSCD 2010年第5期326-338,共13页
Pure ZnO hexagonal microwires and Fe(Ⅲ)-doped ZnO microwires(MWs)with a novel rectangular cross section were synthesized in a confined chamber by a convenient one-step thermal evaporation method.An oriented attachmen... Pure ZnO hexagonal microwires and Fe(Ⅲ)-doped ZnO microwires(MWs)with a novel rectangular cross section were synthesized in a confined chamber by a convenient one-step thermal evaporation method.An oriented attachment mechanism is consistent with a vapor-solid growth process.Photoluminescence(PL)and Raman spectroscopy of the Fe(Ⅲ)-doped ZnO MWs and in situ spectral mappings indicate a quasi-periodic distribution of Fe(Ⅲ)along a one-dimensional(1-D)superlattice ZnO:ZnFe_(2)O_(4) wire,while PL mapping shows the presence of optical multicavities and related multimodes.The PL spectra at room temperature show weak near-edge doublets(376 nm and 383 nm)and a broad band(450-650 nm)composed of strong discrete lines,due to a 1-D photonic crystal structure.Such a 1-D coupled optical cavity material may find many applications in future photonic and spintronic devices. 展开更多
关键词 ZNO superlattice microwire micro-photoluminescence micro-Raman spectroscopy
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显微光谱研究半绝缘GaAs带边以上E_0+Δ_0光学性质 被引量:1
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作者 包志华 景为平 +1 位作者 罗向东 谭平恒 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2007年第7期4213-4217,共5页
通过显微光致发光技术和显微拉曼(Raman)技术研究了半绝缘GaAs(SI-GaAs)晶体的带边附近的发光.在光荧光谱中,观察到在高于GaAs带边0.348eV处有一个新的荧光峰.结合Raman谱指认此发光峰来源于GaAs的E0+Δ0能级的非平衡荧光发射.同时,通... 通过显微光致发光技术和显微拉曼(Raman)技术研究了半绝缘GaAs(SI-GaAs)晶体的带边附近的发光.在光荧光谱中,观察到在高于GaAs带边0.348eV处有一个新的荧光峰.结合Raman谱指认此发光峰来源于GaAs的E0+Δ0能级的非平衡荧光发射.同时,通过研究E0+Δ0能级的偏振、激发光强度依赖关系,以及温度依赖关系说明E0+Δ0能级与带边E0共享了共同的导带位置Γ6,同时这也说明在GaAs中主要是导带的性质决定了材料的光学行为.同时,通过与n-GaAs和δ掺杂GaAs相比较,半绝缘GaAs晶体的E0+Δ0能级的发光峰更能反映GaAs电子能级高临界点E0+Δ0的能量位置和物理性质.研究结果说明显微光致发光技术是研究半导体材料带边以上能级光学性质的一种非常有力的研究工具. 展开更多
关键词 半绝缘GAAS 显微光致发光 自旋轨道分裂
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Thermally stimulated exciton emission in Si nanocrystals
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作者 Elinore MLD de Jong Huub Rutjes +5 位作者 Jan Valenta M Tuan Trinh Alexander N Poddubny Irina N Yassievich Antonio Capretti Tom Gregorkiewicz 《Light(Science & Applications)》 SCIE EI CAS CSCD 2017年第1期228-234,共7页
Increasing temperature is known to quench the excitonic emission of bulk silicon,which is due to thermally induced dissociation of excitons.Here,we demonstrate that the effect of temperature on the excitonic emission ... Increasing temperature is known to quench the excitonic emission of bulk silicon,which is due to thermally induced dissociation of excitons.Here,we demonstrate that the effect of temperature on the excitonic emission is reversed for quantumconfined silicon nanocrystals.Using laser-induced heating of silicon nanocrystals embedded in SiO2,we achieved a more than threefold(4300%)increase in the radiative(photon)emission rate.We theoretically modeled the observed enhancement in terms of the thermally stimulated effect,taking into account the massive phonon production under intense illumination.These results elucidate one more important advantage of silicon nanostructures,illustrating that their optical properties can be influenced by temperature.They also provide an important insight into the mechanisms of energy conversion and dissipation in ensembles of silicon nanocrystals in solid matrices.In practice,the radiative rate enhancement under strong continuous wave optical pumping is relevant for the possible application of silicon nanocrystals for spectral conversion layers in concentrator photovoltaics. 展开更多
关键词 micro-photoluminescence nanocrystal optical spectroscopy SILICON THERMAL
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CdZnTe晶片显微光致发光谱中的等效温度分布研究
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作者 李志锋 陆卫 +4 位作者 蔡炜颖 方维政 杨建荣 何力 沈学础 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第3期233-237,共5页
提出并实现了用微米级空间分辨率的显微光致发光 (μ- PL )平面扫描谱对 Cd Zn Te(CZT)晶片的表面亚微米层特性研究 .在含缺陷区域进行微米尺度和在大面积范围内进行毫米尺度的逐点 PL 测量 .对测得每一点的 PL 谱进行了拟合 .拟合参数... 提出并实现了用微米级空间分辨率的显微光致发光 (μ- PL )平面扫描谱对 Cd Zn Te(CZT)晶片的表面亚微米层特性研究 .在含缺陷区域进行微米尺度和在大面积范围内进行毫米尺度的逐点 PL 测量 .对测得每一点的 PL 谱进行了拟合 .拟合参数中等效温度 Tc 的统计分布给出两个分布中心 ,表明存在有两种机制的发光过程 .同时统计结果给出发光各点的不均匀性 .等效温度的平面分布图直观地给出了各温度的平面位置 ,样品经溴抛光后重复类似的测量 ,结果表明等效温度的统计均匀性大为改善 .抛光后的不同的缺陷点表现出不同的发光特性 ,意味着各自起源的不同 .大面积 PL 扫描的统计结果和平面分布给出样品特性的整体评价 . 展开更多
关键词 CDZNTE晶体 显微光致发光 平面扫描 等效温度 红外探测器 材料 光谱
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Hg_(1-x)Cd_xTe材料中的Te离子空位共振能级
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作者 黄晖 许京军 +1 位作者 张存洲 张光寅 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期27-30,共4页
利用拉曼显微镜在室温下对金属有机化合物气相外延 (MOVPE)和液相外延 (LPE)方法生长的Hg1-xCdxTe薄膜材料以及用加速坩埚旋转布里奇曼 (ACRT Bridgman)和Te溶剂方法生长的Hg1-xCdxTe体材料进行了系统研究 .在上述 4种方法生长的材料的... 利用拉曼显微镜在室温下对金属有机化合物气相外延 (MOVPE)和液相外延 (LPE)方法生长的Hg1-xCdxTe薄膜材料以及用加速坩埚旋转布里奇曼 (ACRT Bridgman)和Te溶剂方法生长的Hg1-xCdxTe体材料进行了系统研究 .在上述 4种方法生长的材料的显微拉曼光谱中 ,均发现在导带底上方且远高于材料导带底对应能级的显微荧光发光峰 .通过详细比较可以判定 ,高于导带底约 1.5eV的显微荧光起源于Hg1-xCdxTe材料中的Te离子空位与材料导带底的共振能级发光 ,从而确定在碲镉汞材料中存在一个稳定的Te离子空位共振能级 . 展开更多
关键词 共振能级 Hg1-xCdxTe材料 Te离子空位 显微荧光 拉曼显微镜 薄膜结构 碲镉汞材料
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V形GaAs/AlGaAs量子线结构的微区光致发光谱研究
7
作者 李志锋 陆卫 +3 位作者 刘兴权 沈学础 Y.FU M.WILLANDER H.H.TAN C.JAGADISH 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第9期1809-1813,共5页
在室温下用显微光致发光的方法对单根V形GaAs/AlGaAs量子线进行了沿垂直于量子线方向的空间分辨扫描测试 ,观察到各种量子结构的光致发光谱随空间位置的变化 .在量子线区域附近观察到来自量子线 (QWR)、颈部量子阱 (NQWL)和垂直量子阱 (... 在室温下用显微光致发光的方法对单根V形GaAs/AlGaAs量子线进行了沿垂直于量子线方向的空间分辨扫描测试 ,观察到各种量子结构的光致发光谱随空间位置的变化 .在量子线区域附近观察到来自量子线 (QWR)、颈部量子阱 (NQWL)和垂直量子阱 (VQWL)等各种结构的发光 ,而在距离量子线约 1μm以远的发光光谱表现出侧面量子阱 (SQWL)的发光 .对全部发光光谱用高斯线形进行了拟合 ,发现QWR和SQWL的发光包含了两个荧光峰 ,将它们分别归诸为电子到轻、重空穴的跃迁 .拟合后发光强度的空间变化直接确定了与量子线结构相关的发光起源 ,并且反映出由于载流子由SQWL迁移进入QWR造成SQWL发光峰的淬灭 . 展开更多
关键词 V形 ALGAAS 量子线 显微光致发光 砷化镓
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钴掺杂硒化锌微纳结构中的发光行为
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作者 侯丽鹏 邹炳锁 《微纳电子技术》 CAS 2024年第3期68-74,共7页
微区光致发光光谱技术是研究稀磁半导体材料中激子与磁性离子之间相互作用的一种重要方法。通过化学气相沉积法合成了高质量钴离子(Ⅱ)掺杂硒化锌(ZnSe)微纳结构,并通过微区光致发光光谱表征了单个纳米片的带边发光。测试结果表明,Co(Ⅱ... 微区光致发光光谱技术是研究稀磁半导体材料中激子与磁性离子之间相互作用的一种重要方法。通过化学气相沉积法合成了高质量钴离子(Ⅱ)掺杂硒化锌(ZnSe)微纳结构,并通过微区光致发光光谱表征了单个纳米片的带边发光。测试结果表明,Co(Ⅱ)掺杂ZnSe纳米片的带边激光发射峰位在2.77eV,高于室温下闪锌矿结构的ZnSe带边发光2.67eV,证实了该纳米片中同时存在纤锌矿和闪锌矿两种结构。分析发现,纤锌矿结构的Co(Ⅱ)掺杂ZnSe纳米片相比稳定的闪锌矿结构的带边激子态能量更高,并且可产生独自的发光。通过低温下的稳态光谱研究发现,在77K下,可以同时观察到激子、束缚激子和激子磁极化子(EMP)的发光特征。激子磁极化子的发光结果证明,在Co(Ⅱ)掺杂ZnSe纳米片的稀磁半导体体系中可实现玻色子激光的发射,为未来自旋电子器件、光致磁性等技术的发展应用提供了思路。 展开更多
关键词 纳米片 激子磁极化子(EMP) 纤锌矿硒化锌 过渡金属钴离子掺杂 微区光致发光光谱
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碲锌镉(Cd_(1-y)Zn_yTe)晶体Zn组分的显微荧光光谱研究 被引量:4
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作者 黄晖 潘顺臣 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第7期1099-1102,共4页
利用激光显微Raman光谱仪测量了5块碲锌镉晶片的显微荧光光谱,通过对来自碲锌镉材料带隙的荧光峰进行拟合,得出碲锌镉材料Eg值,从而可以计算出材料的Zn组分值;利用激光显微Raman光谱仪的定峰位X-Y平面扫描技术,可以便捷和无损伤地给出... 利用激光显微Raman光谱仪测量了5块碲锌镉晶片的显微荧光光谱,通过对来自碲锌镉材料带隙的荧光峰进行拟合,得出碲锌镉材料Eg值,从而可以计算出材料的Zn组分值;利用激光显微Raman光谱仪的定峰位X-Y平面扫描技术,可以便捷和无损伤地给出碲锌镉晶片的Zn组分分布图。 展开更多
关键词 碲锌镉晶体 显微荧光光谱 Zn组分 分布 无损测量
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LPE碲镉汞薄膜的显微Raman谱与显微荧光谱分析 被引量:2
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作者 黄晖 唐莹娟 +2 位作者 许京军 张存洲 张光寅 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第3期261-264,共4页
利用Raman显微镜系统对4块用液相外延(LPE)方法在Cd0 96Zn0 04Te衬底上生长的Hg0 8Cd0 2Te外延薄膜样品,在100~5000cm-1光谱范围进行测量,在实验曲线中除了观察到与碲镉汞材料晶格振动相符的类 HgTe的光学振动横模(TO1模)和纵模(LO1模)... 利用Raman显微镜系统对4块用液相外延(LPE)方法在Cd0 96Zn0 04Te衬底上生长的Hg0 8Cd0 2Te外延薄膜样品,在100~5000cm-1光谱范围进行测量,在实验曲线中除了观察到与碲镉汞材料晶格振动相符的类 HgTe的光学振动横模(TO1模)和纵模(LO1模)的Raman散射峰、类 CdTe光学振动横模(TO2模)和纵模(LO2模)混合的Raman散射峰以及来源于TO1+LO1的二级Raman散射峰外,在1000~5000cm-1光谱范围首次发现了LPE碲镉汞薄膜的显微荧光峰,该显微荧光的发光范围换算为电子伏特标度为1 34~1 83eV,发光中心位于2750cm-1即1 62eV,发光峰的半高宽(FWHM)约为0 25eV。通过分析指出,该显微荧光来源于碲镉汞外延层中阴性离子空位与材料导带底的共振能级的发光。 展开更多
关键词 LPE碲镉汞薄膜 显微Raman谱 显微荧光谱 液相外延 红外探测器 光学振动
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Cu_2O纳米线激子精细结构光谱分析 被引量:2
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作者 王鹏 邓恒 《大学物理实验》 2016年第3期1-4,共4页
基于显微拉曼光谱仪研究比较单根与多根Cu_2O纳米线荧光光谱特性,通过详细分析显微荧光谱线信息,研究制备得到的Cu_2O纳米线的精细结构。单根Cu_2O纳米线表现出高能激子发射及其高阶声子辅助的光学跃迁谱线。
关键词 Cu2O纳米线 微区荧光光谱 激子精细结构
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绿光发光材料ZnTe的Raman光谱研究
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作者 谷智 李国强 介万奇 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第11期2038-2040,共3页
研究了表面处理工艺对ZnTe的Raman光谱的影响,结果表明,ZnTe的LO(Γ)特征峰对表面处理工艺敏感,该特征峰的强度与半峰宽的比值(I/H)越大,晶体表面晶格完整性越高。对机械抛光的ZnTe晶片依次进行化学抛光、去除表面氧化物,I/H值分别出现... 研究了表面处理工艺对ZnTe的Raman光谱的影响,结果表明,ZnTe的LO(Γ)特征峰对表面处理工艺敏感,该特征峰的强度与半峰宽的比值(I/H)越大,晶体表面晶格完整性越高。对机械抛光的ZnTe晶片依次进行化学抛光、去除表面氧化物,I/H值分别出现不同程度的增加,表面晶格完整性逐渐提高。以514.5nm激光激发ZnTe,荧光峰掩盖了200~3000cm-1内Raman散射峰,拟合得到ZnTe的禁带宽度是2.255eV。 展开更多
关键词 ZNTE 表面处理 RAMAN光谱 显微荧光光谱
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高铝Al_xGa_(1-x)As氧化层对垂直腔面发射激光器的影响 被引量:6
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作者 康香宁 宋国峰 +2 位作者 叶晓军 侯识华 陈良惠 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第5期589-593,共5页
针对可见光垂直腔面发射激光器的制备 ,通过湿氮氧化实验和测量微区光致发光谱分别研究了高铝组分Alx Ga1 - x As的氧化特性及氧化产物的收缩应力对有源区的影响 ,结合器件结构设计确定了氧化限制层 Alx Ga1 - x-As的铝组分和最佳位置 ... 针对可见光垂直腔面发射激光器的制备 ,通过湿氮氧化实验和测量微区光致发光谱分别研究了高铝组分Alx Ga1 - x As的氧化特性及氧化产物的收缩应力对有源区的影响 ,结合器件结构设计确定了氧化限制层 Alx Ga1 - x-As的铝组分和最佳位置 ,并制备出了低阈值电流的 Al Ga In 展开更多
关键词 AlxGa1-xAs湿氮选择氧化 微区光致发光谱 垂直腔面发射激光器
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Cd_(1-x)Zn_xTe晶片中Zn组分的室温显微光致发光平面扫描表征 被引量:1
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作者 李志锋 陆卫 +4 位作者 蔡炜颖 黄根生 杨建荣 何力 沈学础 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期176-181,共6页
用显微光致发光 (μ- PL)平面扫描的方法对 Cd Zn Te(CZT)晶片进行了研究 .分别在 19μm× 16 μm的缺陷区域进行微米尺度和 7.9mm× 6 .0 mm的大面积范围内进行毫米尺度的逐点 PL 测量 .对测得每一点的 PL 谱进行了拟合 ,得到... 用显微光致发光 (μ- PL)平面扫描的方法对 Cd Zn Te(CZT)晶片进行了研究 .分别在 19μm× 16 μm的缺陷区域进行微米尺度和 7.9mm× 6 .0 mm的大面积范围内进行毫米尺度的逐点 PL 测量 .对测得每一点的 PL 谱进行了拟合 ,得到测量点的禁带宽度等参数 ,其平面分布对应于 CZT中 Zn的组分分布 .统计的结果给出禁带宽度的不均匀性 .对样品进行溴抛光后重复类似的测量 ,结果表明禁带宽度的均匀性大为改善 。 展开更多
关键词 CDZNTE晶片 平面分布 显微光致发光 平面扫描 锌组分 Ⅱ-Ⅵ族半导体
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