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数字系统电平敏感扫描设计研究
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作者 王凯 李耕 徐萍 《现代电子技术》 2007年第24期200-201,204,共3页
在复杂电子系统中对数字系统工作的可靠性要求越来越高,因此提高数字系统的可测试性变得尤为重要。要提高数字系统的可测性,就需要设计人员在设计系统的同时考虑到测试的要求,目前常采用的方法是结构设计。电平敏感扫描设计在结构设计... 在复杂电子系统中对数字系统工作的可靠性要求越来越高,因此提高数字系统的可测试性变得尤为重要。要提高数字系统的可测性,就需要设计人员在设计系统的同时考虑到测试的要求,目前常采用的方法是结构设计。电平敏感扫描设计在结构设计中使用较为普遍,针对电平敏感扫描设计法进行了研究。 展开更多
关键词 数字系统 可测试设计 电平敏感扫描 电子系统
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