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激光散斑干涉条纹的CCD分析技术研究 被引量：11
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作者 俞晓磊 赵志敏 郭林峰 《应用激光》 CSCD 北大核心 2007年第5期378-381,共4页
本文提出了一种基于CCD技术测量激光散斑干涉条纹的有效方法。采用激光双曝光散斑干涉法记录复合材料试件形变的信息,利用CCD及自编的图像处理软硬件来测量干涉条纹间距,从而得出复合材料的微小形变量。与传统的测量方法相比,精度有了... 本文提出了一种基于CCD技术测量激光散斑干涉条纹的有效方法。采用激光双曝光散斑干涉法记录复合材料试件形变的信息,利用CCD及自编的图像处理软硬件来测量干涉条纹间距,从而得出复合材料的微小形变量。与传统的测量方法相比,精度有了很大的提高。实验结果表明,本文提出的对于复合材料形变的测量方法是快速而有效的。 展开更多
关键词 CCD 激光散斑双曝光 复合材料 微小形变
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