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光敏器件的γ辐照损伤
1
作者
李世清
张能立
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第12期728-730,共3页
研究了光敏二极管和三极管经反应堆γ辐照后(辐照剂量为10~4、10~5 和10~6Gy(Si))引起的损伤。结果表明,γ辐照使光敏器件的光电流 I_p、电流放大倍数β和光电响应时间t减小,暗电流I_d增加,结电容C基本不变。被辐照器件放置180d 后,又经...
研究了光敏二极管和三极管经反应堆γ辐照后(辐照剂量为10~4、10~5 和10~6Gy(Si))引起的损伤。结果表明,γ辐照使光敏器件的光电流 I_p、电流放大倍数β和光电响应时间t减小,暗电流I_d增加,结电容C基本不变。被辐照器件放置180d 后,又经180℃温度退火72h,所测光电参数并未得到复原。这说明γ辐照除造成瞬时损伤外,还会引起部分永久性损伤。
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关键词
光敏器件
放射损伤
Γ辐射
下载PDF
职称材料
题名
光敏器件的γ辐照损伤
1
作者
李世清
张能立
机构
武汉大学
出处
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第12期728-730,共3页
文摘
研究了光敏二极管和三极管经反应堆γ辐照后(辐照剂量为10~4、10~5 和10~6Gy(Si))引起的损伤。结果表明,γ辐照使光敏器件的光电流 I_p、电流放大倍数β和光电响应时间t减小,暗电流I_d增加,结电容C基本不变。被辐照器件放置180d 后,又经180℃温度退火72h,所测光电参数并未得到复原。这说明γ辐照除造成瞬时损伤外,还会引起部分永久性损伤。
关键词
光敏器件
放射损伤
Γ辐射
Keywords
Photo
-
devices
irradiation
damage
Photo
-
ioniz
ation
Displacement
effect
分类号
TN36 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
光敏器件的γ辐照损伤
李世清
张能立
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
1992
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