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基于对数二阶微分峰值法的缺陷深度测量研究 被引量:3
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作者 王中华 曾智 +1 位作者 张存林 黄新萍 《红外》 CAS 2013年第3期21-25,31,共6页
红外检测中定量分析方法常以特征时间和缺陷深度的关系为基础。本文预设6个平底洞的不锈钢为实验试件,选取一种不需要参考区域的PSDT法进行测厚计算。以对数温度曲线的二阶微分峰值时刻作为特征时间,利用特征时间与试件深度的平方成正... 红外检测中定量分析方法常以特征时间和缺陷深度的关系为基础。本文预设6个平底洞的不锈钢为实验试件,选取一种不需要参考区域的PSDT法进行测厚计算。以对数温度曲线的二阶微分峰值时刻作为特征时间,利用特征时间与试件深度的平方成正比关系,达到测厚的目的。用VC软件编程实现任意点的数据计算,先用最小二乘多项式的方法拟合数据,再计算对数温度一对数时间的二阶微分峰值时刻,将结果用图形直观精确地显示出来,最终实现缺陷深度的自动测量。 展开更多
关键词 二阶微分峰值 深度测量 红外脉冲检测
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