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基于Simhash算法的重复数据删除技术的研究与改进
被引量：
15
1
作者
陈春玲
陈琳
+1 位作者
熊晶
余瀚
《南京邮电大学学报（自然科学版）》
北大核心
2016年第3期85-91,共7页
为了在大规模文档去重中提高相似数据检测的精度,对基于Simhash算法的大规模文档去重技术进行深入研究。在原有算法的基础之上对Simhash签名值的计算过程作出改进,引入ICTCLAS分词技术,将TF-IDF技术作为计算权重的主要方法,同时将特征...
为了在大规模文档去重中提高相似数据检测的精度,对基于Simhash算法的大规模文档去重技术进行深入研究。在原有算法的基础之上对Simhash签名值的计算过程作出改进,引入ICTCLAS分词技术,将TF-IDF技术作为计算权重的主要方法,同时将特征值的词性与词长两大影响因素考虑其中。然后对产生的签名值进行汉明距离的比较,从而精确地判定出待比较者是否为相似数据。实验结果表明:改进的算法性能得到提高,并且总体优于Shingle算法和原Simhash算法。通过提高签名值的精度能够实现大规模文档中相似技术的精确检测,达到理想的去重效果。
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关键词
相似检测
Simhash算法
TF-IDF技术
指纹计算
汉明距离
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职称材料
测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响
被引量：
1
2
作者
骆祖莹
李晓维
洪先龙
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2003年第2期52-55,共4页
文章通过调整测试向量中未确定位的数目,来考察测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响。ISCAS85和ISCAS89电路集的实验结果表明:无论对于组合电路还是时序电路,随着测试向量中未确定位数目的增加,未优化测试功耗有明显的降低,同时对...
文章通过调整测试向量中未确定位的数目,来考察测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响。ISCAS85和ISCAS89电路集的实验结果表明:无论对于组合电路还是时序电路,随着测试向量中未确定位数目的增加,未优化测试功耗有明显的降低,同时对于本文所考察的三种测试功耗优化方法,它们的优化效果均有明显的改善。其中海明距离优化方法的优化效果改善最大,当未确定位数目增加到90%以上时,可以用海明距离优化方法替代另外两种耗时的优化方法,直接对CMOSVLSI时序电路测试功耗进行优化。
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关键词
功耗
海明距离
集成电路
向量测试
电路功耗
时序电路
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职称材料
题名
基于Simhash算法的重复数据删除技术的研究与改进
被引量：
15
1
作者
陈春玲
陈琳
熊晶
余瀚
机构
南京邮电大学计算机学院
出处
《南京邮电大学学报（自然科学版）》
北大核心
2016年第3期85-91,共7页
基金
国家自然科学基金(11501302)资助项目
文摘
为了在大规模文档去重中提高相似数据检测的精度,对基于Simhash算法的大规模文档去重技术进行深入研究。在原有算法的基础之上对Simhash签名值的计算过程作出改进,引入ICTCLAS分词技术,将TF-IDF技术作为计算权重的主要方法,同时将特征值的词性与词长两大影响因素考虑其中。然后对产生的签名值进行汉明距离的比较,从而精确地判定出待比较者是否为相似数据。实验结果表明:改进的算法性能得到提高,并且总体优于Shingle算法和原Simhash算法。通过提高签名值的精度能够实现大规模文档中相似技术的精确检测,达到理想的去重效果。
关键词
相似检测
Simhash算法
TF-IDF技术
指纹计算
汉明距离
Keywords
similarity
detection
Simhash
algorithm
TF-IDF
technology
fingerprint
calculation
ham
-
ming
distance
分类号
TP391 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响
被引量：
1
2
作者
骆祖莹
李晓维
洪先龙
机构
清华大学计算机科学与技术系
中国科学院计算技术研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2003年第2期52-55,共4页
基金
国家自然科学基金重点项目(90207002)
国家863计划项目(2001AA111070)
文摘
文章通过调整测试向量中未确定位的数目,来考察测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响。ISCAS85和ISCAS89电路集的实验结果表明:无论对于组合电路还是时序电路,随着测试向量中未确定位数目的增加,未优化测试功耗有明显的降低,同时对于本文所考察的三种测试功耗优化方法,它们的优化效果均有明显的改善。其中海明距离优化方法的优化效果改善最大,当未确定位数目增加到90%以上时,可以用海明距离优化方法替代另外两种耗时的优化方法,直接对CMOSVLSI时序电路测试功耗进行优化。
关键词
功耗
海明距离
集成电路
向量测试
电路功耗
时序电路
Keywords
Test
pattern,Test
power,Power
optimization,
ham
-
ming
distance
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于Simhash算法的重复数据删除技术的研究与改进
陈春玲
陈琳
熊晶
余瀚
《南京邮电大学学报（自然科学版）》
北大核心
2016
15
下载PDF
职称材料
2
测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响
骆祖莹
李晓维
洪先龙
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2003
1
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职称材料
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