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X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探 被引量:16
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作者 谭秉和 龚武 孙伟莹 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期366-371,共6页
用开发的TBHXRF基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β,导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在... 用开发的TBHXRF基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β,导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在某些情况中,三次荧光的影响不能忽略,从对比实验中得出结论,对Ni浓度高的钢铁样品在分析Cr时,必须考虑Ni、Fe对CrKα的三次荧光效应影响。 展开更多
关键词 X射线荧光分析 基体效应 基本参数法 不锈钢
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X射线荧光光谱-玻璃熔融制样法分析铁矿中主成分和微量成分 被引量:15
2
作者 李升 李锦光 《光谱实验室》 CAS CSCD 1999年第3期345-347,共3页
采用n样品:m熔剂为1∶2的低稀释比玻璃熔融技术、X射线荧光法测定铁矿中的主成分和微量成分、既提高了灵敏度又消除了不均质效应,与粉末压片方法相比,对硫的分析得到了更好的结果。使用基本参数程序建立了一新的校正方法来校正... 采用n样品:m熔剂为1∶2的低稀释比玻璃熔融技术、X射线荧光法测定铁矿中的主成分和微量成分、既提高了灵敏度又消除了不均质效应,与粉末压片方法相比,对硫的分析得到了更好的结果。使用基本参数程序建立了一新的校正方法来校正由于烧失量、烧增量。 展开更多
关键词 X射线荧光分析 玻璃熔融 成分分析 铁矿
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X射线荧光光谱法在线测定稀土冶炼分离过程中钬铒铥镱 被引量:11
3
作者 梁元 沈学静 +3 位作者 易启辉 刘明博 屈华阳 胡学强 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 2016年第8期1-6,共6页
我国稀土冶炼分离过程复杂,但多数稀土企业仍依靠实验室离线分析指导工艺,导致分析结果严重滞后,因此现迫切需要一种高效稳定的稀土在线分析方法。实验应用稀土配分在线分析仪,建立了一种在线测定稀土冶炼分离过程中Ho、Er、Tm、Yb配分... 我国稀土冶炼分离过程复杂,但多数稀土企业仍依靠实验室离线分析指导工艺,导致分析结果严重滞后,因此现迫切需要一种高效稳定的稀土在线分析方法。实验应用稀土配分在线分析仪,建立了一种在线测定稀土冶炼分离过程中Ho、Er、Tm、Yb配分含量的方法。将采样管置于串级萃取槽水相分隔室内,在蠕动泵作用下将样品输送至分析区域,通过X射线荧光光谱法(XRF)进行检测和数据记录。实验将XRF测试条件优化为电压40kV、电流600μA、测试时间60s,模拟现场工况条件下优化蠕动泵泵速为250r/min,并采用基本参数法消除元素间吸收增强效应。样品11次测定结果的相对标准偏差(RSD)小于0.4%,实验室模拟及现场在线测试结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)的离线分析结果吻合较好,测试结果滞后时间短,完全能够满足稀土冶炼分离过程工艺动态控制的测定需要。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法(XRF) 基本参数法 在线分析 稀土冶炼分离
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X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量 被引量:10
4
作者 乔鹏 葛良全 +2 位作者 张庆贤 谷懿 米争锋 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第11期1295-1299,共5页
采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标... 采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱分析 粉末压片制样法 化探样品 基本参数法 经验系数法
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X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的主要因素 被引量:8
5
作者 陶光仪 卓尚军 吉昂 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1998年第9期873-879,共7页
提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要.本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨.考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱... 提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要.本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨.考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱强度分布计算和比较了一系列谱线的相对强度,通过详细考察发现不同作者发表的质量吸收系数之间及其与实测值之间在三个区域存在显著差异,并比较了用四种常用质量吸收系数算法计算的一系列谱线的相对强度,根据不同作者的激发因子算法编制了相应的计算机程序,对Ka,La和Ma的激发因子考察了它们之间的差异. 展开更多
关键词 X射线荧光光谱 理论计算强度 质量吸收系数
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X射线荧光光谱基本参数法测定水泥生料组分 被引量:8
6
作者 张磊 王益民 +1 位作者 刘明博 刘小东 《中国建材科技》 2007年第4期12-16,共5页
采用C++语言,根据Sherman方程模型,编写了基本参数法分析软件。在北京邦鑫伟业技术开发有限公司生产的BX-200型X射线荧光光谱仪上对国标水泥生料标样(GSB08-1110)进行了测试分析,并探讨了应用基本参数法对基体效应进行校正的优点与不足... 采用C++语言,根据Sherman方程模型,编写了基本参数法分析软件。在北京邦鑫伟业技术开发有限公司生产的BX-200型X射线荧光光谱仪上对国标水泥生料标样(GSB08-1110)进行了测试分析,并探讨了应用基本参数法对基体效应进行校正的优点与不足。分析结果表明:基本参数法速度稍慢,测试结果满足水泥生产要求,需要标样的数量较少,适合对水泥生料的基体效应进行校正。 展开更多
关键词 X射线荧光分析 基本参数法 基体效应 生料
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Quantitative energy-dispersive X-ray fluorescence analysis for unknown samples using full-spectrum least-squares regression 被引量:6
7
作者 Yong-Li Liu Qing-Xian Zhang +2 位作者 Jian Zhang Hai-Tao Bai Liang-Quan Ge 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 2019年第3期149-159,共11页
The full-spectrum least-squares(FSLS) method is introduced to perform quantitative energy-dispersive X-ray fluorescence analysis for unknown solid samples.Based on the conventional least-squares principle, this spectr... The full-spectrum least-squares(FSLS) method is introduced to perform quantitative energy-dispersive X-ray fluorescence analysis for unknown solid samples.Based on the conventional least-squares principle, this spectrum evaluation method is able to obtain the background-corrected and interference-free net peaks, which is significant for quantization analyses. A variety of analytical parameters and functions to describe the features of the fluorescence spectra of pure elements are used and established, such as the mass absorption coefficient, the Gi factor, and fundamental fluorescence formulas. The FSLS iterative program was compiled in the C language. The content of each component should reach the convergence criterion at the end of the calculations. After a basic theory analysis and experimental preparation, 13 national standard soil samples were detected using a spectrometer to test the feasibility of using the algorithm. The results show that the calculated contents of Ti, Fe, Ni, Cu, and Zn have the same changing tendency as the corresponding standard content in the 13 reference samples. Accuracies of 0.35% and 14.03% are obtained, respectively, for Fe and Ti, whose standard concentrations are 8.82% and 0.578%, respectively. However, the calculated results of trace elements (only tens of lg/g) deviate from the standard values. This may be because of measurement accuracy and mutual effects between the elements. 展开更多
关键词 Energy-dispersive X-ray fluorescence analysis Full-spectrum LEAST-SQUARES method Effective atomic number Mass attenuation coefficient fundamental parameter method
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用XRF基本参数法定量计算多层薄膜的厚度 被引量:6
8
作者 眭松山 魏军 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第1期67-72,共6页
针对多层薄膜材料,用XRF基本参数(FP)法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外,还考虑试样中其它元素初级荧光辐射而引起的层间和层内二次荧光。以计算三层膜荧光强度为例,提出各种不同情... 针对多层薄膜材料,用XRF基本参数(FP)法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外,还考虑试样中其它元素初级荧光辐射而引起的层间和层内二次荧光。以计算三层膜荧光强度为例,提出各种不同情况下计算初级和次级荧光强度的表达式。讨论二次荧光相对于,总强度的贡献。计算方法也能很好地用在大于三层膜及块样的X荧光强度计算。 展开更多
关键词 XRF基本参数法 荧光分析 薄膜 厚度 计算
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X-射线荧光光谱法测定催化剂中硫含量 被引量:5
9
作者 吴秀珍 佟瑶彩 +1 位作者 周树侠 王秀萍 《化工科技》 CAS 2002年第3期35-37,共3页
采用X 射线荧光光谱中的基本参数法测定催化剂中硫元素含量 ,测量结果与化学分析法一致。此方法相对标准偏差小于 7%,平均回收率为 96 %,检出限为 0 .0 1%。本方法简单、测定快速、测量结果准确。
关键词 X-射线荧光光谱法 测定 催化剂 硫含量 基本参数法
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Arai实测谱分布数据的应用 被引量:3
10
作者 王桂华 谭秉和 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第3期498-500,共3页
对Arai的靶原级谱分布数据 ,通过插值、拟合处理 ,获得适用于数值积分的Δλ =0 0 0 2nm的谱分布数据 ,建立了新的谱分布数据文件 ,应用于FPM程序中。并对耐热钢GH131进行实验研究。理论强度与测量强度的相关性良好 ;基本参数法与理论... 对Arai的靶原级谱分布数据 ,通过插值、拟合处理 ,获得适用于数值积分的Δλ =0 0 0 2nm的谱分布数据 ,建立了新的谱分布数据文件 ,应用于FPM程序中。并对耐热钢GH131进行实验研究。理论强度与测量强度的相关性良好 ;基本参数法与理论影响系数法分析结果与确认值一致 ,对Cr,Ni分析的相对误差 <1 0 %。结果表明 :经处理的Arai的靶原级谱分布数据应用于FPM程序 ,提高了分析准确性 ,并扩大了基本参数法与理论影响系数法的应用范围。 展开更多
关键词 Arai 谱分布数据 X-光管原级谱分布 影响系数法 基本参数法 X射线 荧光光谱分析
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X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究 被引量:4
11
作者 韩小元 卓尚军 +1 位作者 王佩玲 陶光仪 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 2006年第1期5-8,共4页
用X射线荧光光谱法测定了Fe基上Zn镀层的质量厚度;研究了厚度不同时选用不同谱线计算对测定结果的影响,发现在镀层质量厚度较小时(约<14mg/cm2)测量Zn元素的Kα线,质量厚度较大时选择Zn的Kα和Fe的Kα线共同计算,用纯元素和相似标样... 用X射线荧光光谱法测定了Fe基上Zn镀层的质量厚度;研究了厚度不同时选用不同谱线计算对测定结果的影响,发现在镀层质量厚度较小时(约<14mg/cm2)测量Zn元素的Kα线,质量厚度较大时选择Zn的Kα和Fe的Kα线共同计算,用纯元素和相似标样校正测定结果之间的偏差最小;用纯元素作校正标样测定了3个标准样品的Zn镀层质量厚度,计算结果与标准值符合得较好。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱 纯元素标样 质量厚度 计算谱线选择
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200系列不锈钢中多元素的X-射线荧光光谱分析 被引量:5
12
作者 王化明 《甘肃冶金》 2009年第5期106-108,133,共4页
采用全自动制样,应用波长扫描X-射线荧光光谱分析法对200系列不锈钢中Si、Mn、P、S、Ni、Cr、Cu、Mo、V、Ti、Nb、Co、W等多元素进行测定。选择非相似多元不锈钢标准物质,主要采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和基体... 采用全自动制样,应用波长扫描X-射线荧光光谱分析法对200系列不锈钢中Si、Mn、P、S、Ni、Cr、Cu、Mo、V、Ti、Nb、Co、W等多元素进行测定。选择非相似多元不锈钢标准物质,主要采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和基体效应,同时加入了光谱波长、能量重叠校正和高次荧光校正来消除光谱干扰和严重的基体效应。通过精密度测试和对比试验表明,该方法用于在线分析200系列不锈钢中多个元素,工作曲线延展性好,精密度高,检测值与标样认定值比对结果理想,贵重金属Ni、Cr、Mn测量精密度0.003%-0.015%,准确度高、快速,重复性好,具有良好的稳定性。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法 200系列不锈钢 基本参数法
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X射线荧光光谱法测定合金中钨的含量 被引量:5
13
作者 杨静 曹阳 +1 位作者 蕫娇 王跃明 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2019年第6期683-686,共4页
采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP... 采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP)测出了干扰系数k,将k值列入仪器的FP工作软件中来消除钽对钨测定的重叠干扰。用所提出的方法分析了钨质量分数在0.054%~11.71%内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.55%~9.5%之间。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法 合金 基本参数法
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X射线荧光基本参数法测定Y_(1-x)Ce_xBa_2Cu_3O_y中的钇铈钡铜 被引量:4
14
作者 毛振伟 陈树榆 +1 位作者 石磊 周贵恩 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第4期503-506,共4页
本文用X射线荧光光谱基本参数法测定了Y1-xCexBa2Cu3Oy系列样品中的钇铈钡铜含量,然后折算成它们的原子比,测量的结果与ICP的结果接近。为非破坏地测定高温超导体的实际组分进行了一次尝试。
关键词 高温超导体 实际组分 超导体 分析
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铝锌系列变形铝合金的X射线荧光光谱分析 被引量:5
15
作者 侯丽华 刘海东 林颖 《化学与粘合》 CAS 2011年第4期70-73,共4页
介绍了采用射线荧光法测定铝锌系列铝合金中各元素含量的方法及相关条件,以俄罗斯ВИЛС公司研制的Al-Zn-Mg-Cu系列铝合金标准物质作为光谱标准,基体效应校正采用基本参数法,建立了X射线光谱测定铝锌系列变形铝合金中Cu、Mn、Mg、Fe... 介绍了采用射线荧光法测定铝锌系列铝合金中各元素含量的方法及相关条件,以俄罗斯ВИЛС公司研制的Al-Zn-Mg-Cu系列铝合金标准物质作为光谱标准,基体效应校正采用基本参数法,建立了X射线光谱测定铝锌系列变形铝合金中Cu、Mn、Mg、Fe、Si、Zn、Ni、Cr、Ti和Zr10种元素的方法。该方法分析实际样品,结果和化学法分析值相吻合,10次制样测量,各元素RSD在0.18%~3.08%。本方法具有样品前期处理简便、干扰因素小,且快速、准确等特点。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱 铝锌系列变形铝合金 基本参数法
原文传递
X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解(理论影响系数法和基本参数法) 被引量:3
16
作者 谭秉和 王桂华 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第3期399-401,共3页
本文首先在理论分析基础上 ,建立多元素样品的重量分数 Ci、X射线荧光相对强度 Ri 与基体效应因子 Fi 的代数关系。然后 ,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法 ,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了 6个耐热... 本文首先在理论分析基础上 ,建立多元素样品的重量分数 Ci、X射线荧光相对强度 Ri 与基体效应因子 Fi 的代数关系。然后 ,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法 ,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了 6个耐热钢标样 ,主量、常量元素的平均相对分析误差 <0 .5 %,对低含量轻元素Si、P、 展开更多
关键词 X射线荧光分析 迭代法 影响系数法 谢尔曼方程
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能量色散X射线荧光分析中改进型基本参数法研究 被引量:4
17
作者 程锋 张庆贤 +6 位作者 葛良全 谷懿 曾国强 罗耀耀 陈爽 王雷 赵剑锟 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2015年第7期2034-2037,共4页
能量色散X射线荧光分析方法是目前常用的一种多元素分析方法,但该方法检出限和分析精度,受到分析基体的影响。基本参数法是目前一种常用的分析方法,但在使用过程必须获取净峰面积和基体所有成分,而在实际使用时,尤其在分析低含量样品时... 能量色散X射线荧光分析方法是目前常用的一种多元素分析方法,但该方法检出限和分析精度,受到分析基体的影响。基本参数法是目前一种常用的分析方法,但在使用过程必须获取净峰面积和基体所有成分,而在实际使用时,尤其在分析低含量样品时,净峰面积计算、基体中"暗物质"影响了测量精度,制约了基本参数法的应用。针对基本参数法的不足,将谱线解析方法与基本参数法融合,将重叠峰剥离过程嵌入基本参数法迭代过程中。在含量计算过程中,采用分析样品特征X射线分支比的理论系数,对重叠峰进行剥离,解决能量色散X射线荧光测量中净峰面积计算和定量分析问题;在计算过程中,对"暗物质"进行均一化处理。通过对标准物质测量分析,结果表明对于Ni,Cu,Zn三个元素改进型基本参数法(改进型FP)测量结果准确度高于影响系数法。 展开更多
关键词 基本参数法 能量色散X射线荧光分析 谱线解析
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同位素源激发X-射线荧光分析合金样品的吸收-增强效应的数学校正—基本参数法 被引量:2
18
作者 高志强 陈坚 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第4期410-412,共3页
本文叙述了利用基本参数法校正源激发合金元素荧光分析的基体效应的基本原理、基体效应的修正方法。讨论了当激发源的能量比元素的吸收限大很多时,吸收系数的散射修正,利用^(241)Am源激发,测量了铅锡合金和高合金钢样品中各元素的荧光强... 本文叙述了利用基本参数法校正源激发合金元素荧光分析的基体效应的基本原理、基体效应的修正方法。讨论了当激发源的能量比元素的吸收限大很多时,吸收系数的散射修正,利用^(241)Am源激发,测量了铅锡合金和高合金钢样品中各元素的荧光强度,并用自编数据处理程序计算了元素含量,结果与标准含量进行比较。计算含量误差一般小于10%。 展开更多
关键词 合金 X射线荧光法 吸收增强效应
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不锈钢中铬的X射线荧光光谱分析 被引量:3
19
作者 刘海东 侯丽华 《化学分析计量》 CAS 2011年第2期52-54,共3页
以北京钢铁研究院研制的GSB 03-2028系列不锈钢标准物质作为光谱标样,采用基本参数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱测定不锈钢中铬元素的方法。用该方法对标准样品进行分析,分析结果和化学法分析值相吻合,10次制样测量,测定结果的... 以北京钢铁研究院研制的GSB 03-2028系列不锈钢标准物质作为光谱标样,采用基本参数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱测定不锈钢中铬元素的方法。用该方法对标准样品进行分析,分析结果和化学法分析值相吻合,10次制样测量,测定结果的相对标准偏差约为0.14%。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱 不锈钢 基本参数法
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铝青铜合金样品的X射线荧光光谱分析 被引量:2
20
作者 侯丽华 刘海东 《化学分析计量》 CAS 2011年第1期68-70,共3页
建立了X射线光谱测定铝青铜系列铜合金中Al、Mn、Fe、Si、Ni、Zn、Sn和Pb 8种元素的方法,探讨电流、电压对荧光强度的影响,基体效应校正采用基本参数法。用该方法对实际样品进行分析,分析结果与化学法分析结果相吻合。各元素测定结果的... 建立了X射线光谱测定铝青铜系列铜合金中Al、Mn、Fe、Si、Ni、Zn、Sn和Pb 8种元素的方法,探讨电流、电压对荧光强度的影响,基体效应校正采用基本参数法。用该方法对实际样品进行分析,分析结果与化学法分析结果相吻合。各元素测定结果的相对标准偏差为0.10%~5.56%(n=10)。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱 铝青铜合金 基本参数法
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