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PZT铁电薄膜纳米尺度铁电畴的场致位移特性 被引量：11
1
作者 曾华荣 余寒峰 +3 位作者 初瑞清 李国荣 殷庆瑞 唐新桂 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期1437-1441,共5页
利用扫描力显微术的压电响应模式 ,并基于逆压电效应原理 ,研究了梯度组成的PZT铁电薄膜纳米尺度铁电畴的场致位移特性 .获得了源于纳米尺度铁电畴的压电效应和电致伸缩效应贡献的场致位移回滞线 ,以及源于线性压电效应和电畴反转效应... 利用扫描力显微术的压电响应模式 ,并基于逆压电效应原理 ,研究了梯度组成的PZT铁电薄膜纳米尺度铁电畴的场致位移特性 .获得了源于纳米尺度铁电畴的压电效应和电致伸缩效应贡献的场致位移回滞线 ,以及源于线性压电效应和电畴反转效应综合贡献的纳米尺度压电位移 场强蝶形曲线 ,证实了Caspari Merz理论在纳米尺度上的有效性 .发现了梯度铁电薄膜存在纳米尺度印刻现象 ,认为该现象的内因源于薄膜中的内偏场 . 展开更多
关键词 铁电畴 PZT铁电薄膜 电位移 纳米尺度 梯度 线性 逆压电效应 电致伸缩效应 压电响应 场强
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