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基于SRAM型FPGA测试技术的研究 被引量：10
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作者 孙立波 雷加 《国外电子测量技术》 2011年第5期36-40,73,共6页
随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要。为了保证数字系统工作的稳定性,首先就要保证FPGA芯片的可靠性。从SRAM型FPGA的内部构造入手,对测试生成和测试故障模型关键技术进行了探讨和研究,解决了测试的故障覆盖率和测试速度之... 随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要。为了保证数字系统工作的稳定性,首先就要保证FPGA芯片的可靠性。从SRAM型FPGA的内部构造入手,对测试生成和测试故障模型关键技术进行了探讨和研究,解决了测试的故障覆盖率和测试速度之间的矛盾;并搭建了软硬件协同测试平台对测试理论进行了验证,该系统为FPGA芯片的稳定应用提供性能保障。 展开更多
关键词 FPGA测试 故障覆盖率 协同测试平台
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