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VLSI系统芯片级故障模拟算法和系统SysFsim
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作者 孙义和 徐磊 +1 位作者 马玉海 陈弘毅 《清华大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第S1期27-31,共5页
针对ＶＬＳＩ系统芯片（ＳＯＣ）级设计中存在的故障模拟和故障估计问题，从系统级行为算法入手，对系统芯片级中故障进行模块划分，抽取了故障模块模型ＭＵＳ，提出了系统级故障模型和算法，设计并给出了系统芯片级故障模拟系统Ｓｙｓ... 针对ＶＬＳＩ系统芯片（ＳＯＣ）级设计中存在的故障模拟和故障估计问题，从系统级行为算法入手，对系统芯片级中故障进行模块划分，抽取了故障模块模型ＭＵＳ，提出了系统级故障模型和算法，设计并给出了系统芯片级故障模拟系统ＳｙｓＦｓｉｍ，该系统由系统级组合故障模拟器Ｈｓｉｍ和时序故障模拟器Ｂｓｉｍ构成。经过实验证实，提出的ＶＬＳＩ系统层模拟算法和系统对故障模拟所达到的故障覆盖率、占用ＣＰＵ时间和存储量方面都较由门级所用故障模拟算法和系统有较大的改善，Ｈｓｉｍ和Ｂｓｉｍ在系统级对标准电路进行故障模拟所达故障覆盖率分别为９４．３％和９５．０％。加入先期研制的ＰＬＡ／ＲＯＭ故障测试生成算法和环境ＴＨ－ＴＥ１００，还可实现１００输入和１００输出的ＰＬＡ或ＲＯＭ的故障模拟和测试生成。 展开更多
关键词 超大规模集成电路 系统芯片 故障模拟 故障模块模型MUS 故障模拟算法sysfsim 测试生成
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