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Al/Sn二元扩散偶相界面扩散溶解层的形成机理
被引量:
4
1
作者
马会宇
竺培显
+1 位作者
周生刚
韩朝辉
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第3期816-821,共6页
采用层片式扩散偶制备技术制备Al/Sn扩散偶,在不同热压温度条件下进行热处理,利用金相显微镜、扫描电镜、能谱仪、XRD衍射仪等研究Al/Sn扩散偶扩散溶解层的形貌特征与形成机理。结果表明:在0.5 MPa和230℃烧结条件下,Sn元素优先沿Al晶...
采用层片式扩散偶制备技术制备Al/Sn扩散偶,在不同热压温度条件下进行热处理,利用金相显微镜、扫描电镜、能谱仪、XRD衍射仪等研究Al/Sn扩散偶扩散溶解层的形貌特征与形成机理。结果表明:在0.5 MPa和230℃烧结条件下,Sn元素优先沿Al晶界扩散,然后沿其表面扩散;随着扩散时间的延长,Al与Sn元素间扩散和溶解程度增大,界面区无新物相生成,最终形成由Al和Sn的离异合金组织组成的界面过渡层且呈锯齿状形态分布;Al/Sn界面冶金结合是Al和Sn固相扩散、溶解与结晶共同作用的结果。
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关键词
AL
SN
扩散偶
界面
扩散溶解层
形成机理
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职称材料
固/液熔接CuW/ZL101A界面结合机理
被引量:
1
2
作者
邓颖
梁淑华
+1 位作者
邹军涛
杨卿
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第3期740-746,共7页
采用固/液熔接法制备了CuW/ZL101A整体材料,并对CuW/ZL101A扩散溶解层组织结构与形成机制进行了研究。实验表明,当熔接条件为(690~705)℃/60 min可以获得良好的结合界面,其界面结合为扩散与溶解结合,界面扩散溶解层主要由平面状扩散溶...
采用固/液熔接法制备了CuW/ZL101A整体材料,并对CuW/ZL101A扩散溶解层组织结构与形成机制进行了研究。实验表明,当熔接条件为(690~705)℃/60 min可以获得良好的结合界面,其界面结合为扩散与溶解结合,界面扩散溶解层主要由平面状扩散溶解层、柱状方向性扩散溶解层、共晶扩散溶解层3部分组成,其生长方向均趋于沿界面法线方向生长,利用扫描电子显微镜和X射线衍射仪观察和分析了各扩散溶解层的新相组成。以705℃/60 min为例,分析了整体界面扩散溶解层组织结构演变和形成机理:平面状扩散溶解层和柱状方向性扩散层分别由铜钨界面原子沿CuW界面形核结晶横向生长连成整体形成小平面状扩散溶解层,再转向正常纵向生长所形成;共晶扩散溶解层是由接近及远离共晶成分点的铝铜形成层片状伪共晶及网状离异共晶组织;以熔接690℃保温不同时间对界面扩散溶解层的影响可知:随着熔接时间延长,界面扩散溶解层形貌相同,无新相层的形成,仅扩散厚度存在差异。
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关键词
CuW/ZL101A固/液界面
扩散溶解层
组织结构演变
形成机制
原文传递
题名
Al/Sn二元扩散偶相界面扩散溶解层的形成机理
被引量:
4
1
作者
马会宇
竺培显
周生刚
韩朝辉
机构
昆明理工大学材料科学与工程学院
出处
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第3期816-821,共6页
基金
国家高技术研究发展计划资助项目(2009AA03Z512)
国家自然科学基金资助项目(51074082)
文摘
采用层片式扩散偶制备技术制备Al/Sn扩散偶,在不同热压温度条件下进行热处理,利用金相显微镜、扫描电镜、能谱仪、XRD衍射仪等研究Al/Sn扩散偶扩散溶解层的形貌特征与形成机理。结果表明:在0.5 MPa和230℃烧结条件下,Sn元素优先沿Al晶界扩散,然后沿其表面扩散;随着扩散时间的延长,Al与Sn元素间扩散和溶解程度增大,界面区无新物相生成,最终形成由Al和Sn的离异合金组织组成的界面过渡层且呈锯齿状形态分布;Al/Sn界面冶金结合是Al和Sn固相扩散、溶解与结晶共同作用的结果。
关键词
AL
SN
扩散偶
界面
扩散溶解层
形成机理
Keywords
Al/Sn
diffusion
couple
interphase
diffusion
solution
layer
forming
mechanism
分类号
TG406 [金属学及工艺—焊接]
下载PDF
职称材料
题名
固/液熔接CuW/ZL101A界面结合机理
被引量:
1
2
作者
邓颖
梁淑华
邹军涛
杨卿
机构
西安理工大学陕西省电工材料与熔渗技术重点实验室
西安宝德粉末冶金有限责任公司
出处
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第3期740-746,共7页
基金
国家自然科学基金项目(51371139
51174161)
+1 种基金
陕西省重点科技创新团队(2012KCT-25)
陕西省科技统筹项目(2012KTCQ01-14)
文摘
采用固/液熔接法制备了CuW/ZL101A整体材料,并对CuW/ZL101A扩散溶解层组织结构与形成机制进行了研究。实验表明,当熔接条件为(690~705)℃/60 min可以获得良好的结合界面,其界面结合为扩散与溶解结合,界面扩散溶解层主要由平面状扩散溶解层、柱状方向性扩散溶解层、共晶扩散溶解层3部分组成,其生长方向均趋于沿界面法线方向生长,利用扫描电子显微镜和X射线衍射仪观察和分析了各扩散溶解层的新相组成。以705℃/60 min为例,分析了整体界面扩散溶解层组织结构演变和形成机理:平面状扩散溶解层和柱状方向性扩散层分别由铜钨界面原子沿CuW界面形核结晶横向生长连成整体形成小平面状扩散溶解层,再转向正常纵向生长所形成;共晶扩散溶解层是由接近及远离共晶成分点的铝铜形成层片状伪共晶及网状离异共晶组织;以熔接690℃保温不同时间对界面扩散溶解层的影响可知:随着熔接时间延长,界面扩散溶解层形貌相同,无新相层的形成,仅扩散厚度存在差异。
关键词
CuW/ZL101A固/液界面
扩散溶解层
组织结构演变
形成机制
Keywords
CuW/ZL101A
solid/liquid
interface
diffusion
solution
layer
microstructure
evolution
formation
mechanism
分类号
TG40 [金属学及工艺—焊接]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Al/Sn二元扩散偶相界面扩散溶解层的形成机理
马会宇
竺培显
周生刚
韩朝辉
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013
4
下载PDF
职称材料
2
固/液熔接CuW/ZL101A界面结合机理
邓颖
梁淑华
邹军涛
杨卿
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017
1
原文传递
已选择
0
条
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参考文献
引证文献
统计分析
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