期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
动态应力下功率n-LDMOS器件热载流子退化恢复效应
被引量:
2
1
作者
徐申
张春伟
+2 位作者
刘斯扬
王永平
孙伟锋
《东南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第4期691-694,共4页
针对功率n-LDMOS器件在动态应力条件下的热载流子退化恢复效应进行了实验和理论研究.电荷泵实验测试和器件专用计算机辅助软件的仿真分析结果表明,在施加不同的动态应力条件下,功率n-LDMOS器件存在2种主要的热载流子退化机理,即鸟嘴区...
针对功率n-LDMOS器件在动态应力条件下的热载流子退化恢复效应进行了实验和理论研究.电荷泵实验测试和器件专用计算机辅助软件的仿真分析结果表明,在施加不同的动态应力条件下,功率n-LDMOS器件存在2种主要的热载流子退化机理,即鸟嘴区域的热空穴注入和沟道区域的界面态产生,均有明显的退化恢复效应.对功率n-LDMOS器件施加2个连续3 600 s的不同应力,观察每个阶段结束时刻的CP电流曲线,发现该器件在应力变换期间确实发生了热空穴的退陷阱效应.然后,对功率n-LDMOS器件施加3个连续3 600 s的不同应力,观察每个阶段结束时刻的CP电流曲线,发现器件处于关断阶段时,已产生的界面态存在一定程度的复合.
展开更多
关键词
热载流子
恢复效应
退陷阱效应
电荷泵
下载PDF
职称材料
题名
动态应力下功率n-LDMOS器件热载流子退化恢复效应
被引量:
2
1
作者
徐申
张春伟
刘斯扬
王永平
孙伟锋
机构
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
出处
《东南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第4期691-694,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(61204083)
新世纪优秀人才支持计划资助项目(NCET-10-0331)
+1 种基金
江苏省自然科学基金资助项目(BK2011059)
东南大学无锡分校科研引导资金助项目
文摘
针对功率n-LDMOS器件在动态应力条件下的热载流子退化恢复效应进行了实验和理论研究.电荷泵实验测试和器件专用计算机辅助软件的仿真分析结果表明,在施加不同的动态应力条件下,功率n-LDMOS器件存在2种主要的热载流子退化机理,即鸟嘴区域的热空穴注入和沟道区域的界面态产生,均有明显的退化恢复效应.对功率n-LDMOS器件施加2个连续3 600 s的不同应力,观察每个阶段结束时刻的CP电流曲线,发现该器件在应力变换期间确实发生了热空穴的退陷阱效应.然后,对功率n-LDMOS器件施加3个连续3 600 s的不同应力,观察每个阶段结束时刻的CP电流曲线,发现器件处于关断阶段时,已产生的界面态存在一定程度的复合.
关键词
热载流子
恢复效应
退陷阱效应
电荷泵
Keywords
hot-carrier
recovery
effect
de
-
trapping
effect
charge
pumping
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
动态应力下功率n-LDMOS器件热载流子退化恢复效应
徐申
张春伟
刘斯扬
王永平
孙伟锋
《东南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013
2
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部