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基于微分进化算子和混沌扰动的量子粒子群算法
被引量:
10
1
作者
田雨波
彭涛
沙莎
《江苏科技大学学报(自然科学版)》
CAS
北大核心
2011年第2期158-162,共5页
在分析量子粒子群算法搜索特性的基础上,引入了微分进化算子以及混沌扰动,提出了基于微分进化算子和混沌扰动的量子粒子群算法:在粒子搜索的过程中,以一定的概率对粒子的每一维执行微分进化操作,以增加粒子的随机性,减少粒子因为多样性...
在分析量子粒子群算法搜索特性的基础上,引入了微分进化算子以及混沌扰动,提出了基于微分进化算子和混沌扰动的量子粒子群算法:在粒子搜索的过程中,以一定的概率对粒子的每一维执行微分进化操作,以增加粒子的随机性,减少粒子因为多样性的缺失而陷入局部最优的概率;并根据混沌的随机性和遍历性在性能较差的部分粒子中加入混沌扰动,从而增加粒子局部搜索精度,提高算法的优化性能.通过多个测试函数的试验对比表明,文中提出的算法是可行且有效的.
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关键词
量子粒子群
微分进化算子
混沌
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职称材料
基于微分进化神经网络的模拟电路故障诊断
被引量:
6
2
作者
赵光权
彭喜元
马勋亮
《测试技术学报》
2012年第1期88-92,共5页
BP神经网络已在模拟电路故障诊断领域得到广泛应用,但BP神经网络存在训练速度慢且容易陷入局部最优的问题.由此,本文提出了一种基于混合变异策略的微分进化改进算法,描述了利用微分进化改进算法进行神经网络权值训练的过程和方法,并将...
BP神经网络已在模拟电路故障诊断领域得到广泛应用,但BP神经网络存在训练速度慢且容易陷入局部最优的问题.由此,本文提出了一种基于混合变异策略的微分进化改进算法,描述了利用微分进化改进算法进行神经网络权值训练的过程和方法,并将微分进化神经网络用于模拟电路故障诊断,文中还对微分进化神经网络与BP神经网络进行了比较.实验结果表明,微分进化神经网络的训练时间和训练精度均优于BP神经网络,其在模拟电路故障诊断中的准确度比BP神经网络提高了7%.
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关键词
微分进化算法
混合变异
神经网络
模拟电路
故障诊断
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职称材料
题名
基于微分进化算子和混沌扰动的量子粒子群算法
被引量:
10
1
作者
田雨波
彭涛
沙莎
机构
江苏科技大学电子信息学院
出处
《江苏科技大学学报(自然科学版)》
CAS
北大核心
2011年第2期158-162,共5页
基金
江苏省普通高校研究生科研创新计划项目(CX10S_007Z)
江苏高校优势学科建设工程项目
文摘
在分析量子粒子群算法搜索特性的基础上,引入了微分进化算子以及混沌扰动,提出了基于微分进化算子和混沌扰动的量子粒子群算法:在粒子搜索的过程中,以一定的概率对粒子的每一维执行微分进化操作,以增加粒子的随机性,减少粒子因为多样性的缺失而陷入局部最优的概率;并根据混沌的随机性和遍历性在性能较差的部分粒子中加入混沌扰动,从而增加粒子局部搜索精度,提高算法的优化性能.通过多个测试函数的试验对比表明,文中提出的算法是可行且有效的.
关键词
量子粒子群
微分进化算子
混沌
Keywords
quantum-behaved
particle
swarm
optim
ization
d
ifferential
evolution
chaos
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于微分进化神经网络的模拟电路故障诊断
被引量:
6
2
作者
赵光权
彭喜元
马勋亮
机构
哈尔滨工业大学自动化测试与控制系
出处
《测试技术学报》
2012年第1期88-92,共5页
基金
哈尔滨工业大学优秀青年教师培养计划资助(HITQNJS.2009.028)
文摘
BP神经网络已在模拟电路故障诊断领域得到广泛应用,但BP神经网络存在训练速度慢且容易陷入局部最优的问题.由此,本文提出了一种基于混合变异策略的微分进化改进算法,描述了利用微分进化改进算法进行神经网络权值训练的过程和方法,并将微分进化神经网络用于模拟电路故障诊断,文中还对微分进化神经网络与BP神经网络进行了比较.实验结果表明,微分进化神经网络的训练时间和训练精度均优于BP神经网络,其在模拟电路故障诊断中的准确度比BP神经网络提高了7%.
关键词
微分进化算法
混合变异
神经网络
模拟电路
故障诊断
Keywords
ifferential
evolution
algorithm
hybrid
mutation
neural
network
analog
circuit
fault
diagnosis
分类号
TP183 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
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职称材料
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1
基于微分进化算子和混沌扰动的量子粒子群算法
田雨波
彭涛
沙莎
《江苏科技大学学报(自然科学版)》
CAS
北大核心
2011
10
下载PDF
职称材料
2
基于微分进化神经网络的模拟电路故障诊断
赵光权
彭喜元
马勋亮
《测试技术学报》
2012
6
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职称材料
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