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针对串扰引起的时延故障的测试产生 被引量：2
1
作者 张月 李华伟 +1 位作者 宫云战 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2004年第10期1448-1453,共6页
串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障 因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待 由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间 ,因此容易因为串扰问题产生时延故障 针对这类故障给出了一个... 串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障 因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待 由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间 ,因此容易因为串扰问题产生时延故障 针对这类故障给出了一个考虑较长通路上串扰现象的时延故障测试产生算法 ,该算法采用了波形敏化技术 实验结果表明 。 展开更多
关键词 串扰 时延故障 自动测试向量产生 波形敏化
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面向串扰时延效应的时序分析方法及在集成电路测试中的应用 被引量：2
2
作者 张旻晋 李华伟 李晓维 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2007年第10期1681-1688,共8页
随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路时序的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.准确和快速地估计电路中的串扰效应影响,找到电路中潜在的串扰时延故障目标,并针对这些故障进行测试是非常必要的.文中提出了一... 随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路时序的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.准确和快速地估计电路中的串扰效应影响,找到电路中潜在的串扰时延故障目标,并针对这些故障进行测试是非常必要的.文中提出了一种基于通路的考虑多串扰引起的时延效应的静态时序分析方法,该方法通过同时考虑临界通路及为其所有相关侵略线传播信号的子通路来分析多串扰耦合效应.该方法引入了新的数据结构"跳变图"来记录所有可能的信号跳变时间,能够精确地找到潜在的串扰噪声源,并在考虑串扰时延的情况下有效找到临界通路及引起其最大串扰减速效应的侵略子通路集.这种方法可以通过控制跳变图中时间槽的大小来平衡计算精度和运行时间.最后,文中介绍了在基于精确源串扰通路时延故障模型的测试技术中,该静态时序分析方法在耦合线对选择和故障敏化中的应用.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中提出的技术能够适应于大电路的串扰效应分析和测试,并且具有可接受的运行时间. 展开更多
关键词 串扰 静态时序分析 通路时延故障 时延测试
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基于三值神经网络和混沌搜索的数字电路串扰时滞故障测试生成算法（英文） 被引量：1
3
作者 孟祥 赵莹 +1 位作者 孙永恒 李艳娟 《机床与液压》 北大核心 2019年第6期52-56,共5页
提出了一种有效的串扰时滞故障测试生成算法,该算法使用了三值神经网络理论和混沌搜索方法。首先在电路的受害点处把电路分成两个部分,对第一部分,可以得到时滞时间表达式;对第二部分,使用混沌搜索和三值神经网络网络的方法把故障传播... 提出了一种有效的串扰时滞故障测试生成算法,该算法使用了三值神经网络理论和混沌搜索方法。首先在电路的受害点处把电路分成两个部分,对第一部分,可以得到时滞时间表达式;对第二部分,使用混沌搜索和三值神经网络网络的方法把故障传播到输出端。最后,能够把故障传播到输出端且使时滞时间表达式取最大值的输入矢量就是串扰时滞故障的最优测试矢量。实验结果表明该算法能够容易地得到故障输入测试矢量,平均测试生成时间小于0. 25μs,故障覆盖率能够达到98. 2%。 展开更多
关键词 串扰时滞故障 三值神经网络 混沌搜索
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串扰时延故障的SAT-ATPG算法研究
4
作者 尚玉玲 钱尚 刘鹏 《计算机测量与控制》 2017年第3期18-21,共4页
随着芯片运行速度不断提高,对串扰时延的测试已成为一个迫切需要解决的问题;文中提出一种面向多条攻击线的受害线上最大串扰噪声的测试生成方法;此方法建立了串扰通路时延故障模型、分析了布尔可满足性问题、讨论了七值逻辑,研究了串扰... 随着芯片运行速度不断提高,对串扰时延的测试已成为一个迫切需要解决的问题;文中提出一种面向多条攻击线的受害线上最大串扰噪声的测试生成方法;此方法建立了串扰通路时延故障模型、分析了布尔可满足性问题、讨论了七值逻辑,研究了串扰时延故障测试转换为CNF的逻辑表达式,在非鲁棒测试条件下约简CNF范式,并提出了串扰时延故障的SAT-ATPG算法;最后通过实例分析,对本文算法进行验证;结果表明:该算法对串扰时延故障的测试矢量的生成是有效的。 展开更多
关键词 串扰时延故障 布尔可满足性 时延测试
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基于神经网络的数字电路串扰时滞故障测试生成
5
作者 危厚琴 李艳娟 曹伟 《煤矿机械》 北大核心 2011年第3期263-264,共2页
针对数字电路中多侵略线串扰时滞故障将使电路不能正常工作的问题,提出了一种有效的测试生成算法。该算法首先使用Kernighan-Lin-Fiduccia-Mattheyses(KLFM)方法在受害点处把电路分为左右2个部分,然后对右半部分电路采用神经网络算法把... 针对数字电路中多侵略线串扰时滞故障将使电路不能正常工作的问题,提出了一种有效的测试生成算法。该算法首先使用Kernighan-Lin-Fiduccia-Mattheyses(KLFM)方法在受害点处把电路分为左右2个部分,然后对右半部分电路采用神经网络算法把故障效应传播到输出端,最后对左半部分电路根据受害点时滞故障的方程计算出受害点的最大串扰时滞故障测试生成矢量。在ISCAS’85和ISCAS’89国际标准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试生成时间。 展开更多
关键词 神经网络 串扰时滞故障 测试生成算法
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