电子全息实验中参考波相位变化对物波相位测量的影响 被引量：1

1

作者 杨阳 姚湲 +2 位作者 王志宏 Habermeier H U 禹日成 《电子显微学报》 CAS CSCD 2012年第6期498-502,共5页

本文根据电子全息的成像原理,分析了在测量La0.5Ca0.5MnO3(LCMO)平均内势的实验中,出现全息相位图中样品两部分的相位分别高于和低于真空区相位的现象,并进一步研究了参考波的相位变化对物波相位测量的影响。

关键词 电子全息 参考波相位 透射电镜 截面样品

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薄膜截面的TEM样品制备 被引量：5

2

作者 戴嘉维 孔明 《理化检验（物理分册）》 CAS 2006年第5期239-241,共3页

针对用于透射电镜观察的截面样品制备较为困难的问题,以不锈钢基底上沉积的VN／SiO2超晶格薄膜为例,介绍了薄膜截面TEM样品的制备方法与过程。

关键词 薄膜 截面TEM样品制备 超晶格

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隧道断面自动提取方法研究 被引量：8

3

作者 许磊 王长进 《铁道工程学报》 EI 北大核心 2016年第8期94-99,共6页

研究目的:在隧道施工和运营期间,需要经常测量隧道结构断面,传统基于全站仪或断面仪的方法测量效率较低。采用地面三维激光扫描仪,对隧道进行分站式扫描,将各站扫描点云进行拼接融合,可以快速获得整条隧道激光点云。目前基于激光点云的... 研究目的:在隧道施工和运营期间,需要经常测量隧道结构断面,传统基于全站仪或断面仪的方法测量效率较低。采用地面三维激光扫描仪,对隧道进行分站式扫描,将各站扫描点云进行拼接融合,可以快速获得整条隧道激光点云。目前基于激光点云的隧道断面提取都是针对圆形和矩形的隧道形状,不适用多种结构类型的隧道。本文提出一种基于射线相交的隧道断面自动测量方法,满足多种隧道结构断面测量要求,并结合工程实际对该方法的精度和可靠性进行验证。研究结论:(1)利用三维激光点云数据进行隧道断面自动测量,不仅效率高,而且精度高;(2)基于八叉树算法对离散点云进行组织管理,采用随机采样一致性算法对数据进行滤波,实现断面点云噪声点剔除;(3)采用矩形分割算法实现隧道断面点云快速分割,基于射线相交的方法可实现多种设计形状的结构断面测量;(4)该研究结果可应用于施工或运营期间多种设计形状的隧道结构断面自动测量。 展开更多

关键词 隧道断面 三维激光扫描 点云分割 随机采样一致性

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聚焦离子束在二维多孔Si/Al_(2)O_(3)/SiC薄膜透射电镜截面微观结构表征中的应用 被引量：1

4

作者 陶伟杰 刘灿辉 +1 位作者 陶莹雪 贺振华 《化工新型材料》 CAS CSCD 北大核心 2023年第2期155-158,共4页

二维多孔Si/Al_(2)O_(3)/SiC薄膜材料的透射电镜截面微观结构表征中,存在薄膜易脱落、脆性大、耐磨性差,以及选区制备难度大、制样效率低、成功率低等问题。采用聚焦离子束技术,成功地进行了二维多孔Si/Al_(2)O_(3)/SiC薄膜的透射电镜... 二维多孔Si/Al_(2)O_(3)/SiC薄膜材料的透射电镜截面微观结构表征中,存在薄膜易脱落、脆性大、耐磨性差,以及选区制备难度大、制样效率低、成功率低等问题。采用聚焦离子束技术,成功地进行了二维多孔Si/Al_(2)O_(3)/SiC薄膜的透射电镜截面微观形貌的表征。结果表明,聚焦离子束技术是一种可以有效减少二维多孔薄膜样品制备过程中的损伤,进行高质量进行透射电镜截面微观结构表征的方法。 展开更多

关键词 二维多孔Si/Al_(2)O_(3)/SiC薄膜 聚焦离子束 透射电镜 截面样品 微观结构

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固定效应模型截面相关性检验的新方法 被引量：4

5

作者 徐凤 黎实 《数量经济技术经济研究》 CSSCI 北大核心 2012年第6期115-126,139,共13页

本文考虑累积误差和有限样本问题,构造了固定效应模型截面相关性的新型检验统计量SchottP。研究表明,累积误差情形下,Schott(2004)的检验统计量存在与N/T和槡N/T^1/2相关的渐进偏差,引起检验统计量水平的扭曲和势的下降。据此,本文对存... 本文考虑累积误差和有限样本问题,构造了固定效应模型截面相关性的新型检验统计量SchottP。研究表明,累积误差情形下,Schott(2004)的检验统计量存在与N/T和槡N/T^1/2相关的渐进偏差,引起检验统计量水平的扭曲和势的下降。据此,本文对存在的渐进偏差进行了修正,并采用回归的办法得到具体修正项的系数。本文提出的固定效应模型截面相关性检验统计量Schottp,在有限样本条件下,具有渐近正态分布以及良好的统计检验水平和势,并能用于异方差情形下的截面相关性检验。 展开更多

关键词 截面相关 累积误差 固定效应 有限样本

原文传递

韧性基体上硬质涂层的扫描电镜截面样品制备方法 被引量：3

6

作者 乌晓燕 戴嘉维 李戈扬 《理化检验（物理分册）》 CAS 2007年第10期512-513,539,共3页

以不锈钢表面涂覆AlN/SiO2纳米多层涂层样品为例,介绍了一种制备韧性基体硬质涂层的截面扫描电子显微镜观察样品的方法,取得了较好的效果。

关键词 扫描电镜截面样品 硬质涂层 韧性基体

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LTCC工艺评价试验方法 被引量：3

7

作者 董作典 文平 +1 位作者 杨钊 华熙 《电子产品可靠性与环境试验》 2015年第2期44-47,共4页

结构分析(CA)或破坏性物理分析(DPA)试验可以有效地评价低温共烧陶瓷(LTCC)元器件的制造工艺质量。分析试验需对LTCC器件做剖面制样,重点考察通孔剖面处的工艺质量。采用样品固定、试样磨抛和试样腐蚀3个阶段配合完成剖面制样的新试验方... 结构分析(CA)或破坏性物理分析(DPA)试验可以有效地评价低温共烧陶瓷(LTCC)元器件的制造工艺质量。分析试验需对LTCC器件做剖面制样,重点考察通孔剖面处的工艺质量。采用样品固定、试样磨抛和试样腐蚀3个阶段配合完成剖面制样的新试验方法,得到了比传统试验方法清晰的试样剖面,有效地暴露了试样工艺缺陷,可以作为评价LTCC工艺质量的有效试验方法进行推广应用。 展开更多

关键词 低温共烧陶瓷 结构分析 破坏性物理分析 剖面制样

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基于实验与模拟相结合的气体样品(n,α)反应截面测量方法研究 被引量：1

8

作者 胡益伟 崔增琪 +5 位作者 刘杰 白浩帆 夏聪 江浩雨 陈金象 张国辉 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第5期825-834,共10页

建立了一套利用屏栅电离室测量快中子诱发气体样品(n,α)反应截面的方法。针对气体样品测量中存在的样品核数确定、中子注量测量、待测事件挑选等问题,本方法首先利用模拟计算结果选择合适的气体样品有效区域,使得事件区尽量无本底覆盖... 建立了一套利用屏栅电离室测量快中子诱发气体样品(n,α)反应截面的方法。针对气体样品测量中存在的样品核数确定、中子注量测量、待测事件挑选等问题,本方法首先利用模拟计算结果选择合适的气体样品有效区域,使得事件区尽量无本底覆盖且易于统计;再利用中子准直器和阴极、阳极信号时间信息,分离并统计样品有效区域产生的事件数;最后利用实验测量的^(238)U(n,f)裂变计数和SuperMC模拟结果,得到有效区域内的中子注量。利用该方法在中子能量为4.71、4.87、5.00、5.12、5.29和5.45 MeV的能点系统地测量了^(14)N(n,α_(0))反应的相对截面,结果与ENDF/B-Ⅷ.0符合良好。 展开更多

关键词 (n α)反应 屏栅电离室 共振截面 气体样品

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我院医院感染现患率调查 被引量：1

9

作者 王燕清 《中国消毒学杂志》 CAS 北大核心 2012年第6期501-502,505,共3页

目的了解医院感染率现状,找出存在的问题,提高医院感染管理水平。方法通过横断面调查方法,对住院病人医院感染率现状及管理情况进行了调查与分析。结果调查当日该医院共有住院患者523例,实际调查507例,实查率为96.94%。发生医院感染患... 目的了解医院感染率现状,找出存在的问题,提高医院感染管理水平。方法通过横断面调查方法,对住院病人医院感染率现状及管理情况进行了调查与分析。结果调查当日该医院共有住院患者523例,实际调查507例,实查率为96.94%。发生医院感染患者23例,医院感染现患率为4.53%。医院感染部位以呼吸道感染居首位,占56.51%。507例住院患者中有242例使用抗菌药物,使用率为47.73%;使用抗菌药物的患者标本送检率为28.51%,检出主要病原菌为铜绿假单胞菌和鲍曼不动杆菌。结论横断面的调查证明该医院住院患者医院感染发生率较低,抗菌药物使用率符合相关规定,标本送检率偏低。 展开更多

关键词 医院感染 横断面调查 抗菌药物 标本送检率

原文传递

A^(z+)—H(1s)碰撞中的电荷交换和电离

10

作者 邱玉波 袁建奎 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 1993年第4期3003-3013,共11页

本文采用与经典轨道蒙特卡罗方法(CTMC)不同的方法,利用精确的量子力学氢原子的波函数,抽样氢原子中电子的位置及动量分布,而不是用经典轨道抽样的办法。仔细计算了H^+、He^(2+)、Li(3+)、C^(6+)、O^(8+)、Ne^(10+)、Si^(14+)等全裸离... 本文采用与经典轨道蒙特卡罗方法(CTMC)不同的方法,利用精确的量子力学氢原子的波函数,抽样氢原子中电子的位置及动量分布,而不是用经典轨道抽样的办法。仔细计算了H^+、He^(2+)、Li(3+)、C^(6+)、O^(8+)、Ne^(10+)、Si^(14+)等全裸离子与氢原子碰撞过程中的电子俘获及电离截面,并给出被俘获后的电子在入射裸离子中的壳层分布图象,实际计算表明,其结果是令人满意的,特别是俘获截面,与ORNL(美国橡树岭国家实验室)评价数据符合得很好。这种抽样方法很容易推广到靶原子为类氢的情况,本文给出了He^(2+)与He^+碰撞的俘获截面结果,并与其它理论计算值做了比较。 展开更多

关键词 电荷交换 碰撞电离 氢原子

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断面红棕色及类白色土茯苓药材中总鞣质的含量分析 被引量：9

11

作者 张华 董立莎 +4 位作者 陈虎彪 何席呈 葛向前 张习贵 周莹莹 《中国中药杂志》 CAS CSCD 北大核心 2013年第6期852-855,共4页

土茯苓在药材断面有类白色及淡红棕色2种。在前期的实验发现,2种断面颜色的土茯苓在抗炎效果和化学成分方面有较大差异。该文首次以紫外-可见分光光度法对28个不同采集地断面红棕色及类白色土茯苓中的总鞣质含量进行比较分析,旨在为该... 土茯苓在药材断面有类白色及淡红棕色2种。在前期的实验发现,2种断面颜色的土茯苓在抗炎效果和化学成分方面有较大差异。该文首次以紫外-可见分光光度法对28个不同采集地断面红棕色及类白色土茯苓中的总鞣质含量进行比较分析,旨在为该药材资源的合理开发利用及质量控制提供一定的实验及理论依据。在实验中对2010年版《中国药典》鞣质含量测定方法中加样回收进行了改进,以鞣酸代替没食子酸进行加样回收试验。 展开更多

关键词 断面红棕色及类白色土茯苓 总鞣质 加样回收 鞣酸 紫外-分光光度法

原文传递

海管焊接接头全壁厚裂纹尖端张开位移试验 被引量：1

12

作者 麦耀松 《理化检验（物理分册）》 CAS 2012年第11期732-735,共4页

裂纹尖端张开位移(CTOD)试验是深海管线管的一个重要试验项目,试验通常使用矩形横截面试样,由于该试样是截取焊接接头的一部分,并不能很好地反映整个焊接接头的断裂韧度。根据BS 7448:Part2:1997的要求制备全壁厚试样并在-10℃下做低温C... 裂纹尖端张开位移(CTOD)试验是深海管线管的一个重要试验项目,试验通常使用矩形横截面试样,由于该试样是截取焊接接头的一部分,并不能很好地反映整个焊接接头的断裂韧度。根据BS 7448:Part2:1997的要求制备全壁厚试样并在-10℃下做低温CTOD试验,结果与矩形横截面试样的结果作比较,发现全壁厚试样的断裂韧度明显优于矩形横截面试样的断裂韧度,分析发现结果与焊缝的应力状态、化学成分和显微组织的影响有关。全壁厚试样能更真实地反映焊接接头的真实断裂韧度,更好地指导工程设计。 展开更多

关键词 CTOD试验 矩形横截面试样 全壁厚试样 断裂韧度

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小断面棒样中9种元素的光谱法测定 被引量：1

13

作者 吴宗平 《四川冶金》 CAS 2014年第4期74-76,共3页

主要介绍小断面试样的光谱检测,设计新型小断面棒样夹具,利用原有工作曲线测定元素成分。此方法相对来说操作简易,分析速度快,能满足小断面产品化学成分检验要求。

关键词 直读光谱仪 小断面棒样 检验

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基于加热芯片的原位透射电镜样品的制备方法 被引量：3

14

作者 王亚 刘军 +1 位作者 陈陆 王勇 《电子显微学报》 CAS CSCD 2015年第6期540-544,共5页

聚焦离子束(FIB)制备传统截面TEM样品已有非常成熟的流程,然而在原位加热芯片上制备高质量的TEM样品仍困扰着广大从事原位实验的研究者。本文以Si为例,运用一个普通45°斜面样品台和一台标准52°侧翻的FIB,通过精确的角度计算,... 聚焦离子束(FIB)制备传统截面TEM样品已有非常成熟的流程,然而在原位加热芯片上制备高质量的TEM样品仍困扰着广大从事原位实验的研究者。本文以Si为例,运用一个普通45°斜面样品台和一台标准52°侧翻的FIB,通过精确的角度计算,发展了一种在原位加热芯片上快速制备出高质量TEM样品的方法。 展开更多

关键词 聚焦离子束 透射电镜截面样品 加热芯片 原位电镜

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锗硅缓冲双轴应变硅材料ε-Si/Ge_(0.3)Si_(0.7)/Ge_xSi_(1-x)/C-Si内部残余应力的显微拉曼实验分析 被引量：1

15

作者 马路路 程翠丽 +2 位作者 雷振坤 赵煜乘 仇巍 《实验力学》 CSCD 北大核心 2016年第3期306-314,共9页

应变硅技术是一种被称为延续摩尔定律的技术,是集成微电子技术的热点之一。本文以锗硅缓冲双轴应变硅材料(ε-Si/Ge_(0.3)Si_(0.7)/Ge_xSi_(1-x)/C-Si)为研究对象,采用显微拉曼光谱技术,开展了该多层半导体异质结构内部残余应力的实验... 应变硅技术是一种被称为延续摩尔定律的技术,是集成微电子技术的热点之一。本文以锗硅缓冲双轴应变硅材料(ε-Si/Ge_(0.3)Si_(0.7)/Ge_xSi_(1-x)/C-Si)为研究对象,采用显微拉曼光谱技术,开展了该多层半导体异质结构内部残余应力的实验力学分析。这是面向多层结构残余应力与表/界面力学行为的多尺度实验力学分析,本文首先简述了该应变硅的制造工艺和超低粗糙度横截面样品的加工方法,并推导了针对锗硅合金拉曼-力学测量修正关系,进而对应变硅样品的表面和横截面进行了显微拉曼力学测量实验,给出了多层异质结构内部的残余应力分布,并以此为基础讨论了多层界面的力学行为。 展开更多

关键词 应变硅 半导体多层异质结构 横截面样品 显微拉曼光谱 残余应力

原文传递

精研一体机结合离子减薄仪制备透射电镜截面样品 被引量：1

16

作者 王小曼 梁正 卢思 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2021年第6期753-757,共5页

透射电镜(TEM)截面样品的制备质量在TEM显微分析中十分重要。离子减薄是制备透射电镜截面样品的一种有效方法,而离子减薄前的预减薄过程是制备截面样品的关键基础步骤。传统的离子减薄预减薄过程极为复杂,使用的制样设备繁多。本文详细... 透射电镜(TEM)截面样品的制备质量在TEM显微分析中十分重要。离子减薄是制备透射电镜截面样品的一种有效方法,而离子减薄前的预减薄过程是制备截面样品的关键基础步骤。传统的离子减薄预减薄过程极为复杂,使用的制样设备繁多。本文详细介绍了一种工艺简单、实用性强的制备截面样品的新方法,该方法主要采用精研一体机预减薄结合离子减薄仪终减薄截面样品,在简化了制样操作过程的同时,取代了传统的手工研磨样品,该方法能成功地制备出透射电镜截面样品。 展开更多

关键词 透射电镜 截面样品 预减薄 精研一体机 离子减薄仪

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