本文简述了自动测试设备(ATE)测试平台高压板卡的基本功能,包括位置结构、板卡参数指标等,对该板卡的工程应用实践进行了初步探讨。针对较高的时间参数测试精度要求,通过对高压板卡的感应端(Sense)和施加端(Force)进行分析,提出了一种...本文简述了自动测试设备(ATE)测试平台高压板卡的基本功能,包括位置结构、板卡参数指标等,对该板卡的工程应用实践进行了初步探讨。针对较高的时间参数测试精度要求,通过对高压板卡的感应端(Sense)和施加端(Force)进行分析,提出了一种满足时间参数测试精度需求的方法。文中以系统级封装芯片(System in Package,SIP)中的控制单元区域网络(CAN)总线模块为例,以实装测试为参考,将本文设计的方法与开尔文(Kelvin)测试方法进行比较,结果表明,本文设计的方法测试结果更加接近或达到实装测试结果,优化措施成效显著。展开更多
文摘本文简述了自动测试设备(ATE)测试平台高压板卡的基本功能,包括位置结构、板卡参数指标等,对该板卡的工程应用实践进行了初步探讨。针对较高的时间参数测试精度要求,通过对高压板卡的感应端(Sense)和施加端(Force)进行分析,提出了一种满足时间参数测试精度需求的方法。文中以系统级封装芯片(System in Package,SIP)中的控制单元区域网络(CAN)总线模块为例,以实装测试为参考,将本文设计的方法与开尔文(Kelvin)测试方法进行比较,结果表明,本文设计的方法测试结果更加接近或达到实装测试结果,优化措施成效显著。
