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抑制Buck电路同步整流管漏极尖峰的方法 被引量:5
1
作者 毛昭祺 吕征宇 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 2006年第1期55-56,共2页
采用同步整流技术的Buck开关电源的应用已越来越广泛,随着其输出电流的增大,抑制Buck电路同步整流管漏极尖峰成为提高电源效率和性能的重要手段。本文通过对一个32V输入,5V/5A输出的Buck电源模块的实验,对Buck开关电源研发和实验当中抑... 采用同步整流技术的Buck开关电源的应用已越来越广泛,随着其输出电流的增大,抑制Buck电路同步整流管漏极尖峰成为提高电源效率和性能的重要手段。本文通过对一个32V输入,5V/5A输出的Buck电源模块的实验,对Buck开关电源研发和实验当中抑制Buck电路同步整流管漏极尖峰的一些方法进行了总结和分析,并针对比较重要的方法给出了实验波形。可以看到在同步整流管上并联肖特基二极管,主开关管使用栅极缓冲电路及同步整流管上使用缓冲电路都是一些简单而行之有效的改善Buck电路同步整流管漏极尖峰的方法。 展开更多
关键词 整流管/同步整流管 体二极管 寄生电感 反向恢复
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一种提高Buck低压大电流电源效率的新方法 被引量:3
2
作者 毛昭祺 陈绍聂 吕征宇 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 2005年第5期125-126,共2页
低电压大电流开关电源大多采用基于同步整流的Buck拓扑,而随着输出电流的不断提高,同步整流管中体二极管的导通损耗和反向恢复损耗越来越成为提高效率的瓶颈。为了减小这些损耗,本文介绍的这种输入电压为12V,输出电压为1.5V,输出电流为... 低电压大电流开关电源大多采用基于同步整流的Buck拓扑,而随着输出电流的不断提高,同步整流管中体二极管的导通损耗和反向恢复损耗越来越成为提高效率的瓶颈。为了减小这些损耗,本文介绍的这种输入电压为12V,输出电压为1.5V,输出电流为20A的开关电源采用了TI公司的TPS40071型PWM控制器,它使用了新的驱动逻辑控制方法,模块满载时的效率提高了一个百分点。 展开更多
关键词 整流管/同步整流管 体二极管 导通损耗 反向恢复损耗
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一族非隔离双向直流变换器 被引量:18
3
作者 吴红飞 陆珏晶 +2 位作者 石巍 张君君 邢岩 《中国电机工程学报》 EI CSCD 北大核心 2012年第9期65-71,11,共7页
提出一族基于反向耦合电感的非隔离双向直流变换器(bi-directional DC converter,BDC),通过引入反向耦合电感,利用电感感应电势阻断不工作MOSFET的体二极管,消除了传统双向变换器中开关管寄生体二极管的反向恢复问题;通过反向耦合电感... 提出一族基于反向耦合电感的非隔离双向直流变换器(bi-directional DC converter,BDC),通过引入反向耦合电感,利用电感感应电势阻断不工作MOSFET的体二极管,消除了传统双向变换器中开关管寄生体二极管的反向恢复问题;通过反向耦合电感与滤波电感等效电路的分析,将反向耦合电感与滤波电感用一个同向耦合电感代替,提出一族基于PCI的非隔离双向直流变换器。所提出的变换器控制与传统单向变换器相同,不需要专门的软启动电路,兼顾了较高变换效率、控制简单和高可靠性。给出拓扑推演过程,详细分析拓扑工作原理,并通过实验验证理论分析的正确性。 展开更多
关键词 双向直流变换器 耦合电感 拓扑 体二极管反向恢复
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同步整流DC/DC升压芯片中驱动电路的设计
4
作者 程帅 邹雪城 +1 位作者 陈卫洁 邓敏 《计算机与数字工程》 2007年第3期164-166,共3页
在DC/DC转换芯片中,为了保证功率开关管及时导通和截止,需要设计专门的驱动电路。本文设计了同步整流驱动电路,通过引入负跳沿延时单元,消除了CMOS瞬态短路导通现象,降低了功耗,保护了输出级。HSPICE仿真表明,驱动电路延时小于14ns,能... 在DC/DC转换芯片中,为了保证功率开关管及时导通和截止,需要设计专门的驱动电路。本文设计了同步整流驱动电路,通过引入负跳沿延时单元,消除了CMOS瞬态短路导通现象,降低了功耗,保护了输出级。HSPICE仿真表明,驱动电路延时小于14ns,能满足较高开关频率的要求;同时,开关转换时的尖峰电流减小了56%,功耗也降低了19.3%。 展开更多
关键词 驱动电路 同步整流 直流/直流 衬底控制
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固态源跳频缺陷分析
5
作者 高山 徐晟 《制导与引信》 2014年第3期47-50,共4页
通过分析体效应管内部高场畴的运动方式和具有负阻特性的电流-电压曲线,提出固态源跳频缺陷产生的原因,是由于固态源振荡回路中,跳频频率的电场强度占据主导地位,控制体效应管内部高场畴在由阴极向阳极渡越过程中半途猝灭,体效应管作为... 通过分析体效应管内部高场畴的运动方式和具有负阻特性的电流-电压曲线,提出固态源跳频缺陷产生的原因,是由于固态源振荡回路中,跳频频率的电场强度占据主导地位,控制体效应管内部高场畴在由阴极向阳极渡越过程中半途猝灭,体效应管作为能量转换器件输出跳频频率。 展开更多
关键词 体效应管 固态源 跳频
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体效应二极管振荡器调试技术
6
作者 田红英 《制导与引信》 2005年第4期53-55,共3页
讨论了影响体效应二极管振荡器性能的主要因素:体效应二极管不一致性、谐振腔微扰、调谐螺钉和调匹配螺钉的位置、偏置小轴的绝缘性能等,阐述了解决各种影响因素的调试技术,并给出了测试数据。
关键词 体效应二极管 振荡器 调试 谐振腔微扰 调谐螺钉 调匹配螺钉
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一种用于Buck变换器的整流管驱动控制电路
7
作者 孟睿锐 尹勇生 +1 位作者 李海波 孟煦 《微电子学》 CAS 北大核心 2021年第6期883-888,共6页
介绍了一种用于断续导通模式Buck变换器的效率提升电路。详细分析了影响转换效率的关键因素,在此基础上提出了一种高效率的整流管驱动控制方案。该方案具备自适应死区时间和电感电流过零检测的功能,在兼顾系统功耗的前提下大幅优化了体... 介绍了一种用于断续导通模式Buck变换器的效率提升电路。详细分析了影响转换效率的关键因素,在此基础上提出了一种高效率的整流管驱动控制方案。该方案具备自适应死区时间和电感电流过零检测的功能,在兼顾系统功耗的前提下大幅优化了体二极管导通损耗和反向电感电流损耗,实现效率最大化。在0.18μm BCD工艺下完成了设计和仿真,仿真结果表明,输入3 V、输出1.5 V条件下,峰值效率高达96.6%,负载大于5 mA时转换效率高于90%。 展开更多
关键词 BUCK变换器 断续导通模式 体二极管导通损耗 整流管驱动控制
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新型LLC谐振变换器数字同步整流驱动方式 被引量:16
8
作者 吕征宇 李佳晨 杨华 《电机与控制学报》 EI CSCD 北大核心 2018年第1期16-22,共7页
提出了一种适用于LLC谐振变换器的数字同步整流驱动方式。该驱动方式基于检测同步整流MOS管的漏源极电压,进而判断体二极管的导通情况,通过电压比较器输出高低电平到数字处理器,算法程序捕获体二极管的导通时间,控制调节同步整流管驱动... 提出了一种适用于LLC谐振变换器的数字同步整流驱动方式。该驱动方式基于检测同步整流MOS管的漏源极电压,进而判断体二极管的导通情况,通过电压比较器输出高低电平到数字处理器,算法程序捕获体二极管的导通时间,控制调节同步整流管驱动信号的占空比,从而使同步整流达到较理想的效果,提高变换器的效率。相比传统的同步整流驱动方式,所提的驱动方式具有电路结构与控制算法简单、驱动信号精确、动态性能好等优点。为了验证此方式的有效性,以一个72 W半桥LLC谐振变换器为样机进行了实验,样机效率达到97.5%。 展开更多
关键词 LLC谐振变换器 数字同步整流 漏源极电压 体二极管 数字处理器
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同步整流功率MOSFET特性及研究现状 被引量:6
9
作者 任敏 谢驰 +4 位作者 李佳驹 李泽宏 高巍 张金平 张波 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2018年第3期390-394,共5页
为了降低开关电源的功率损耗,同步整流技术采用功率MOSFET替代肖特基二极管,实现了更高的整流效率。简要介绍了同步整流技术的原理,并结合原理,深入分析了应用于同步整流的功率MOSFET与常规功率MOSFET在电学特性上的差异。总结了近年来... 为了降低开关电源的功率损耗,同步整流技术采用功率MOSFET替代肖特基二极管,实现了更高的整流效率。简要介绍了同步整流技术的原理,并结合原理,深入分析了应用于同步整流的功率MOSFET与常规功率MOSFET在电学特性上的差异。总结了近年来同步整流功率MOSFET领域的研究进展。 展开更多
关键词 同步整流 功率MOSFET 功率损耗 导通电阻 体二极管
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SiC MOSFET体二极管反向恢复特性研究 被引量:2
10
作者 史孟 彭咏龙 +1 位作者 李亚斌 江涛 《电力科学与工程》 2016年第9期34-39,共6页
详细分析了新型功率器件SiC MOSFET的结构特点及其寄生体二极管的反向恢复机理,推导了反向恢复过程的电压与电流计算;同时,搭建了双脉冲实验测试平台,通过实验和仿真的方法,测试了不同关断电压、正向导通电流和串联寄生电感这些最常见... 详细分析了新型功率器件SiC MOSFET的结构特点及其寄生体二极管的反向恢复机理,推导了反向恢复过程的电压与电流计算;同时,搭建了双脉冲实验测试平台,通过实验和仿真的方法,测试了不同关断电压、正向导通电流和串联寄生电感这些最常见的外部因素对SiC MOSFET寄生体二极管反向恢复特性的影响;此外,对比测试了同电压等级的SiC MOSFET、Si MOSFET寄生体二极管和快恢复二极管的反向恢复性能。相关结果表明SiC MOSFET寄生体二极管可以作为变换器中的续流通道而不必额外再单独反并联快恢复二极管,对实际工程应用有一定的借鉴意义。 展开更多
关键词 碳化硅MOSFET 体二极管 反向恢复
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基于FPGA的步进电机细分控制研究 被引量:2
11
作者 古玉雪 张小妍 +2 位作者 李华忠 何流 蒋文亮 《航空发动机》 2016年第6期18-22,共5页
为了解决所选步进电机固有步距角过大而无法满足系统高精度微位移控制要求的问题,以细分控制原理为理论依据,设计了1种基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)的单极性细分驱动电路。该电路具有绕组断线检测功能,可... 为了解决所选步进电机固有步距角过大而无法满足系统高精度微位移控制要求的问题,以细分控制原理为理论依据,设计了1种基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)的单极性细分驱动电路。该电路具有绕组断线检测功能,可在电机转速为2 rad/s的前提下实现16或者更高程度的细分控制。在电路的调试过程中,针对绕组互感问题进行了研究,在很大程度上降低了绕组互感对细分控制精度的影响。试验结果表明:所设计的基于FPGA的细分驱动电路控制精度满足使用要求。 展开更多
关键词 步进电机 现场可编程门阵列 细分控制 体二极管 绕组互感
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单粒子辐射导致的VDMOS体二极管反向I-V曲线蠕变现象研究 被引量:1
12
作者 吴玉舟 李泽宏 +2 位作者 李陆坪 任敏 李肇基 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2022年第10期1053-1059,共7页
单粒子辐射后,VDMOS器件体二极管反向I-V曲线发生蠕变的特殊失效现象被首次观察到。室温下,当VDMOS的栅极浮空,漏极电压加到一定值时(远低于VDMOS击穿电压),漏电流增大,体二极管I-V曲线开始漂移并最终稳定,形成电阻型曲线。通过测试VDMO... 单粒子辐射后,VDMOS器件体二极管反向I-V曲线发生蠕变的特殊失效现象被首次观察到。室温下,当VDMOS的栅极浮空,漏极电压加到一定值时(远低于VDMOS击穿电压),漏电流增大,体二极管I-V曲线开始漂移并最终稳定,形成电阻型曲线。通过测试VDMOS器件及其体二极管辐射后的电参数,分析漏电流的产生原因,研究体二极管反向I-V曲线发生蠕变现象的失效机制,并提出基于界面态、中性空穴陷阱,包括空穴激发、多级空穴俘获和能带隧穿机制的空穴迁移模型。基于该模型给出了单粒子辐射导致的VDMOS体二极管漏电流的表达式。此外,通过温度实验和漏极应力实验来验证空穴迁移模型。 展开更多
关键词 蠕变 体二极管 反向I-V曲线 单粒子辐射 中性空穴陷阱 空穴迁移
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600V VDMOS器件的反向恢复热失效机理 被引量:2
13
作者 夏晓娟 吴逸凡 +3 位作者 祝靖 成建兵 郭宇锋 孙伟锋 《东南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第6期1243-1247,共5页
为了研究VDMOS器件体二极管在反向恢复过程中的失效机理,详细分析了600 V VDMOS器件体二极管的工作过程,采用TCAD模拟软件研究了体二极管正向导通和反向恢复状态下的载流子密度分布及温度分布情况.模拟结果表明,VDMOS器件的体二极管在... 为了研究VDMOS器件体二极管在反向恢复过程中的失效机理,详细分析了600 V VDMOS器件体二极管的工作过程,采用TCAD模拟软件研究了体二极管正向导通和反向恢复状态下的载流子密度分布及温度分布情况.模拟结果表明,VDMOS器件的体二极管在正向导通时,器件终端区同样会贮存大量的少数载流子,当体二极管从正向导通变为反向恢复状态时,贮存的少数载流子会以单股电流的形式被抽取,使得VDMOS器件中最靠近终端位置的原胞中的pbody区域温度升高,从而导致该区域寄生三极管基区电阻增大、发射结内建电势降低,最终触发寄生三极管开启,造成VDMOS器件失效.分析结果与实验结果一致. 展开更多
关键词 VDMOS 体二极管 反向恢复 热失效
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Minimization of Switching Devices and Driver Circuits in Multilevel Inverter
14
作者 S. Jawahar P. Ramamoorthy 《Circuits and Systems》 2016年第10期3371-3383,共13页
The various configurations of multilevel inverter involve the use of more numbers of switching devices, energy storage devices and/or unidirectional devices. Each switching unit necessitates the add-on driver circuit ... The various configurations of multilevel inverter involve the use of more numbers of switching devices, energy storage devices and/or unidirectional devices. Each switching unit necessitates the add-on driver circuit for proper functionality. Cascaded H-Bridge Multilevel Inverter requires overlapped switching pulses for the switching devices in positive and negative arms of the bridge which may lead to short circuit during the device failure. This work addresses the problems in different configurations of multilevel inverter by using reduced number of switching and energy storage devices and driver circuits. In the present approach Single Switch is used for each stair case positive output and single H-Bridge for phase reversal. Driver circuits are reduced by using the property of body diode of the MOSFET. Switching pulses are generated by Arduino Development Board. The circuit is simulated using Matlab. More so, through experimental means, it is physically tested and results are analyzed for the 5-step inverter and thereby simulation is fully validated. Consequently, cycloconverter operation of the circuit is simulated using Matlab. Moreover, half bridge configuration of the multilevel inverter is also analyzed for high frequency induction heating applications. 展开更多
关键词 H-Bridge Multilevel Inverter Single Switch Multilevel Inverter body diode Switching Angle THD CYCLOCONVERTER Half Bridge Multilevel Inverter
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传统MOSFET和超结MOSFET的体二级管反向恢复特性评估
15
作者 P.舍诺依 S.舍科哈瓦特 +1 位作者 B.勃劳克威 刘茵 《电气技术》 2006年第9期86-89,共4页
在许多高电压开关应用当中,都需要采用具有良好特性的体二极管且耐用性强的MOSFET。依照超结(SJ)电荷平衡概念所设计的器件,由于有着比普通MOSFET低得多的Rdson而得到普及。然而,普通sJ器件的一个缺点就是它的体二极管的反向恢复特性较... 在许多高电压开关应用当中,都需要采用具有良好特性的体二极管且耐用性强的MOSFET。依照超结(SJ)电荷平衡概念所设计的器件,由于有着比普通MOSFET低得多的Rdson而得到普及。然而,普通sJ器件的一个缺点就是它的体二极管的反向恢复特性较差。早期的sJ器件有着较大的反向恢复电流,并且在某些反向恢复的情况下易于失效。尽管后来它的体二极管特性有了一定改善,但还是不能像传统MOSFET的体二极管那样耐用。我们示出即使施加缓和上升的di/dt,普通SJ器件的体二极管也还会失效。飞兆(Fairchild)公司利用二维数字仿真在电路和器件混合建模的条件来分析反向恢复瞬态期间在器件的内部发生了什么。这帮助我们理解失效背后的原因,并且设计出了耐用性更强的SuperFETTMSJ器件。反向恢复测量表明,普通SJ器件的体二极管在di/dt仅为100A/μs的时候就会失效,而SuperFETTM器件几乎是不会破坏的,它在di/dt为1000A/μs时仍能工作。飞兆(Fairchild)公司还设计出了带有快速恢复体二极管的、耐用的SuperFETTM器件,具有较低的Trr和Qrr。 展开更多
关键词 体二极管 反向恢复特性 耐用性 超结M0SFET
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低米勒电容超结MOSFET开关过程及反向恢复性能仿真研究 被引量:1
16
作者 唐茂森 刘东 +3 位作者 沈俊 葛兴来 周荣斌 叶峻涵 《机车电传动》 北大核心 2021年第5期38-46,共9页
针对超结场效应晶体管(SJ-MOSFET),利用工艺仿真建立多次外延离子注入和深槽刻蚀2种不同P柱形貌的器件结构,对比研究了不同工艺、不同栅极结构SJ-MOS的静态特性差异,并与实测数据对比,验证建立模型的正确性。从空间电荷区不均匀拓展的角... 针对超结场效应晶体管(SJ-MOSFET),利用工艺仿真建立多次外延离子注入和深槽刻蚀2种不同P柱形貌的器件结构,对比研究了不同工艺、不同栅极结构SJ-MOS的静态特性差异,并与实测数据对比,验证建立模型的正确性。从空间电荷区不均匀拓展的角度,分析不同工艺路线器件的C-V特性测试中"电容转折"现象的微观机理。研究了感性负载下SJ-MOSFET开关过程中栅极电压、漏极电流、漏源极电压随时间变化关系,并搭建寄生体二极管反向恢复测试平台,探究了不同工艺对于反向恢复电荷、峰值电流等参数的影响。研究内容可指导器件设计,提高功率半导体器件在机车应用场景中的匹配度。 展开更多
关键词 超结场效应晶体管 C-V特性 体二极管 双脉冲测试 反向恢复特性测试
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高压VDMOSFET中的快恢复体二极管的设计新方法 被引量:1
17
作者 石广源 张俊松 +1 位作者 张雯 闫冬梅 《辽宁大学学报(自然科学版)》 CAS 2006年第1期38-41,共4页
提出了一种提高高压垂直双扩散MOS场效应晶体管(VDMOSFET)的体二级管恢复速度的新方法.在这一方法中,肖特基接触集成于VDMOSFET中的每一单胞中.据此生产的样品的实验结果表明,对于500V/2A的VDMOSFET,反向恢复电荷减小了50%,体二极管的... 提出了一种提高高压垂直双扩散MOS场效应晶体管(VDMOSFET)的体二级管恢复速度的新方法.在这一方法中,肖特基接触集成于VDMOSFET中的每一单胞中.据此生产的样品的实验结果表明,对于500V/2A的VDMOSFET,反向恢复电荷减小了50%,体二极管的恢复因数增大了60%. 展开更多
关键词 体二极管 恢复速度 肖特基接触 VDMOSFET
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SiC MOSFET体二极管双极退化可靠性试验方法研究
18
作者 张秋 闫美存 《信息技术与标准化》 2022年第9期36-39,共4页
SiC MOSFET体二极管双极退化是由材料缺陷导致的退化现象,严重影响器件的可靠性,目前没有统一的试验方法,影响了器件的推广和应用。从加电模式、加电条件、试验时间和失效判据4个方面对体二极管双极退化可靠性试验方法进行了研究,并编... SiC MOSFET体二极管双极退化是由材料缺陷导致的退化现象,严重影响器件的可靠性,目前没有统一的试验方法,影响了器件的推广和应用。从加电模式、加电条件、试验时间和失效判据4个方面对体二极管双极退化可靠性试验方法进行了研究,并编制了体二极管双极退化可靠性试验方法草案。 展开更多
关键词 碳化硅 MOSFET 体二极管 双极退化
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具有逆向导通能力的GaN功率开关器件
19
作者 魏进 姚尧 +1 位作者 张波 刘扬 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 2012年第12期67-68,共2页
介绍了一种具有逆向导通能力的GaN功率开关器件逆向导通-高电子迁移率晶体管(RC-HFET)。通过在栅极与漏极之间插入一个肖特基电极并与源极连接,RC-HFET获得了一个逆向导电通路,从而相当于一个功率开关与二极管反并联结构。RC-HFET正向... 介绍了一种具有逆向导通能力的GaN功率开关器件逆向导通-高电子迁移率晶体管(RC-HFET)。通过在栅极与漏极之间插入一个肖特基电极并与源极连接,RC-HFET获得了一个逆向导电通路,从而相当于一个功率开关与二极管反并联结构。RC-HFET正向工作的原理与传统HFET相似,导通电阻与传统HFET相近。在器件制造上,RC-HFET与传统HFET完全兼容,无需额外的光刻版及加工流程。因此,在电机驱动等需要反向续流的功率系统中,RC-HFET消除了对续流二极管的需求,提供了一种更具成本优势的方案。 展开更多
关键词 晶体管 逆向导通 体二极管
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1 200 V SiC MOSFET器件的体二极管抗浪涌能力研究
20
作者 陈超 李旭 +1 位作者 黄伟 邓小川 《机车电传动》 北大核心 2021年第5期33-37,共5页
对1 200 V碳化硅金属氧化物场效应晶体管(SiC MOSFET)(包括双沟槽型栅极结构、非对称沟槽型栅极结构和平面型栅极结构)的抗浪涌能力进行了试验测试分析与评估。其中,平面型SiC MOSFET展现出了最优的抗浪涌能力,最大浪涌电流密度峰值达到... 对1 200 V碳化硅金属氧化物场效应晶体管(SiC MOSFET)(包括双沟槽型栅极结构、非对称沟槽型栅极结构和平面型栅极结构)的抗浪涌能力进行了试验测试分析与评估。其中,平面型SiC MOSFET展现出了最优的抗浪涌能力,最大浪涌电流密度峰值达到了35 A/mm^(2),而双沟槽型与非对称沟槽型SiC MOSFET的抗浪涌能力大致相等,分别为22 A/mm^(2)和25 A/mm^(2)。在经过最大浪涌电流后,3种SiC MOSFET器件的门极阈值电压、漏极电流和击穿电压均发生了失效,其失效原理均为热击穿而导致的三端短路。对比测试结果表明,平面型SiC MOSFET由于较少的栅氧化层缺陷而展现出良好抗浪涌电流能力,而双沟槽型SiC MOSFET由于浪涌应力下的沟道处泄漏电流导致更强的热效应,更容易在浪涌测试中发生失效。 展开更多
关键词 浪涌能力 碳化硅 金属氧化物场效应晶体管 浪涌失效机制 体二极管
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