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硫系非晶半导体薄膜的光致效应 被引量：1
1
作者 刘启明 胡婷 +1 位作者 赵修建 干福熹 《硅酸盐学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第6期937-941,共5页
采用热蒸镀膜方法,在制备出As_2S_3、As_2Se_3、GeS_2、GeSe_2、Ge_(20)As_(25)S_(55)、Ge_(20)As_(25)Se_(55)和Ge_(10)As_(40)S_(20)Se_(30)七个体系硫系非晶态半导体薄膜的基础上,运用X射线粉末衍射、扫描电镜、透射电镜和吸收或透... 采用热蒸镀膜方法,在制备出As_2S_3、As_2Se_3、GeS_2、GeSe_2、Ge_(20)As_(25)S_(55)、Ge_(20)As_(25)Se_(55)和Ge_(10)As_(40)S_(20)Se_(30)七个体系硫系非晶态半导体薄膜的基础上,运用X射线粉末衍射、扫描电镜、透射电镜和吸收或透射光谱等测试手段,系统地探讨了薄膜在氩离子激光辐照作用下的光致暗化、光致漂白和光致结晶等光致效应及机理。在As_2S_3、As_2Se_3和Ge_(10)As_(40)S_(20)Se_(30)薄膜中观察到明显的光致暗化效应,而在GeS_2、GeSe_2、Ge_(20)As_(25)S_(55)和Ge_(20)As_(25)Se_(55)薄膜中则观察到明显的光致漂泊效应。经氩离子激光辐照后,在薄膜中均观察到明显的光致结晶现象。 展开更多
关键词 硫系非晶半导体薄膜 光致效应 氩离子激光辐照
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