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一种反熔丝FPGA应用设计故障
被引量：
1
1
作者
杜涛
许百川
+2 位作者
李威
晁醒
吴方明
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2018年第9期108-112,117,共6页
由于反熔丝FPGA架构和实现原理的特殊性,反熔丝FPGA应用设计在物理实现时,存在一种易于发生、故障现象不稳定且具有一定隐蔽性的时序逻辑故障.通过对故障现象、诱因、原理的深入剖析,发现该应用设计故障与反熔丝FPGA的散出能力限制(Fano...
由于反熔丝FPGA架构和实现原理的特殊性,反熔丝FPGA应用设计在物理实现时,存在一种易于发生、故障现象不稳定且具有一定隐蔽性的时序逻辑故障.通过对故障现象、诱因、原理的深入剖析,发现该应用设计故障与反熔丝FPGA的散出能力限制(Fanout limit)关联,并有针对性地提出了根除故障因素的解决方案.通过实测验证表明,本解决方案能有效消除该类应用设计故障.
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关键词
反熔丝FPGA
应用设计故障
扇出能力限制
时钟偏斜
寄存器掉链
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职称材料
题名
一种反熔丝FPGA应用设计故障
被引量：
1
1
作者
杜涛
许百川
李威
晁醒
吴方明
机构
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2018年第9期108-112,117,共6页
基金
国家自然科学基金(61404021)
文摘
由于反熔丝FPGA架构和实现原理的特殊性,反熔丝FPGA应用设计在物理实现时,存在一种易于发生、故障现象不稳定且具有一定隐蔽性的时序逻辑故障.通过对故障现象、诱因、原理的深入剖析,发现该应用设计故障与反熔丝FPGA的散出能力限制(Fanout limit)关联,并有针对性地提出了根除故障因素的解决方案.通过实测验证表明,本解决方案能有效消除该类应用设计故障.
关键词
反熔丝FPGA
应用设计故障
扇出能力限制
时钟偏斜
寄存器掉链
Keywords
antifuse
FPGA
application
design
failure
fanout
limit
clock
skew
register
chain
data
loss
分类号
TN702 [电子电信—电路与系统]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种反熔丝FPGA应用设计故障
杜涛
许百川
李威
晁醒
吴方明
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2018
1
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