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彩色线阵CCD用于物体尺寸精密测量的研究 被引量:4
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作者 张盛彬 王庆有 郭青 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第11期1159-1161,共3页
现有精密尺寸测量系统采用单阵列的线阵 CCD作为光电传感器 ,不能检测像元的排列方向与物体尺寸方向的夹角γ,而当夹角γ在测量中发生变化时将引起测量误差。本文采用彩色线阵 CCD(TCD2 90 1D)作为光电传感器进行精密尺寸测量 ,检测出... 现有精密尺寸测量系统采用单阵列的线阵 CCD作为光电传感器 ,不能检测像元的排列方向与物体尺寸方向的夹角γ,而当夹角γ在测量中发生变化时将引起测量误差。本文采用彩色线阵 CCD(TCD2 90 1D)作为光电传感器进行精密尺寸测量 ,检测出夹角变化带来的尺寸测量误差 。 展开更多
关键词 彩色线阵 自动测角 精密测量 电荷耦合器件
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